高性能ADc產(chǎn)品的出現(xiàn)，給混合信號測試領(lǐng)域帶來前所未有的挑戰(zhàn)。并行ADc測試方案實現(xiàn)了多個ADc測試過程的并行化和實時化，減少了單個ADc的平均測試時間，從而降低ADc測試成本。本文實現(xiàn)了基于FPGA的ADc并行測試方法。在閱讀相關(guān)文獻的基礎(chǔ)上，總結(jié)了常用ADc參數(shù)測試方法和測試流程。使用FPGA實現(xiàn)時域參數(shù)評估算法和頻域參數(shù)評估算法，并對2個ADc在不同樣本數(shù)條件下進行并行測試。
本研究通過在FPGA內(nèi)部實現(xiàn)ADc測試時域算法和頻域算法相結(jié)合的方法來搭建測試系統(tǒng)，完成了音頻編解碼器WM8731L的控制模式接口、音頻數(shù)據(jù)接口、ADc測試時域算法和頻域算法的FPGA實現(xiàn)。整個測試系統(tǒng)使用Angilent33220A任意信號發(fā)生器提供模擬激勵信號，共用一個FPGA內(nèi)部實現(xiàn)的采樣時鐘控制模塊。并行測試系統(tǒng)將WM8731.L片內(nèi)的兩個獨立ADc的串行輸出數(shù)據(jù)分流成左右兩通道，并對其進行串并轉(zhuǎn)換。然后對左右兩個通道分別配置一個FFT算法模塊和時域算法模塊，并行地實現(xiàn)了ADc參數(shù)的評估算法。在樣本數(shù)分別為128和4096的實驗條件下，對WM8731L片內(nèi)2個被測.ADc并行地進行參數(shù)評估，被測參數(shù)包括增益GAIN、偏移量OFFSET、信噪比SNR、信號與噪聲諧波失真比SINAD、總諧波失真THD等5個常用參數(shù)。實驗結(jié)果表明，通過在FPGA內(nèi)配置2個獨立的參數(shù)計算模塊，可并行地實現(xiàn)對2個相同ADc的參數(shù)評估，減小單個ADc的平均測試時間。FPGA片內(nèi)實時評估算法的實現(xiàn)節(jié)省了測試樣本傳輸至自動測試機PC端的時間。而且只需將HDL代碼多次復(fù)制，就可實現(xiàn)多個被測ADc在同一時刻并行地被評估，配置靈活。基于FPGA的ADc并行測試方法易于實現(xiàn)，具有可行性，但由于噪聲的影響，測試精度有待進一步提高。該方法可用于自動測試機的混合信號選項卡或測試子系統(tǒng)。
標(biāo)簽：
FPGA
ADc
并行測試
方法研究
上傳時間：
2013-06-07
上傳用戶：gps6888
