基于單片機(jī)的AFM納米機(jī)械性能測試系統(tǒng)
摘要：為解決采用原子力顯微鏡（ＡＦＭ）系統(tǒng)進(jìn)行納米機(jī)械性能測試中存在的不能夠直接獲得載荷?壓深曲線以及不能夠隨意改變加載、保載、卸載時間等問題，對ＡＦＭ系統(tǒng)進(jìn)行了改造，開發(fā)了一套基于單片機(jī)的信號輸入輸出模塊。將該模塊與ＡＦＭ控制系統(tǒng)相聯(lián)，形成新的納米機(jī)械性能測試系統(tǒng)。該系統(tǒng)信號輸出精度為０．１５ｍＶ...
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VIP專區(qū)-單片機(jī)源代碼精選合集系列（60）
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