EDDL 一致性測試指南,適用于支持EDDL標準的Profibus DP,PA,HART及FF現場總線設備的測試
上傳時間: 2017-09-06
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hex轉bin工具 主要功能: 按照標準格式轉換的,支持大于64k的文件,可以在最后頁面補FF,方便有些升級工具的處理。 綠色軟件,無須按照,直接使用。 有什么問題和意見歡迎大家發郵件跟我聯系。 Email:houliang@foxmail.com 更新:20121215更新點擊保存按鈕的時候會自動存個空文件
上傳時間: 2018-05-09
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題目:基于51單片機的RS485從機系統設計 單片機接口資源配置: 1. 上電復位電路; 2. 晶振電路采用11.0592Mhz晶振; 3. 485接口電路(P3.7用于485芯片的收發控制,收發管腳接單片機的rxd和txd); 4. P2口通過外部跳線接相應的高低電平,配置從機地址為組號; 5. P3.6外接一發光二極管(注意串聯電阻進行限流); 6. P3.2外接一按鍵,斷開高電平,按下低電平; 7. 按鍵檢測采用外部中斷方式,下跳沿觸發; 8. 單片機定時器0以模式1(16位模式)工作,產生50ms的定時中斷,并在此基礎上設計一單片機內部時鐘(24小時制,能計數時、分、秒、50ms值); 9. 單片機串行通信采用模式1非多機通信方式,采用9600波特率以串行中斷方式進行數據的收發通信,主機地址為0xF0,廣播地址為0xFF。 系統功能需求: 1. 系統配置和自檢功能: l 從機上電后進行初始化,通過讀取P2口進行從機地址配置; l 發光二極管以每秒一次的頻率閃爍(亮0.5秒,滅0.5秒); l 檢測到一次按鍵按下操作后,熄滅發光二極管。 2. 數據接收和按鍵計時功能: l 從機接收主機程序(PC機上的串口調試程序)的按鍵允許命令幀并進行校驗; l 校驗正確并且目的地址是廣播地址或者本從機的地址,通過發光二極管長亮指示,并允許按鍵操作; l 按鍵按下后,盡可能準確記錄按鍵的動作時點(定時器的低8位、定時器的高8位、50ms值、秒、分、小時); l 按鍵操作只能響應一次,重復按鍵操作不響應; l 按鍵的動作時點記錄后,發光二極管以每秒一次的頻率閃爍(亮0.5秒,滅0.5秒)。 3. 數據發送功能: l 從機接收主機程序發來的時鐘數據搜索命令幀并進行校驗; l 如果校驗正確并且數據幀的目的地址是本從機的地址,從機將前面記錄的按鍵動作時點數據(定時器的低8位、定時器的高8位、50ms值、秒、分、小時)按附錄中的時鐘數據返回幀的幀格式回傳給主機; l 時鐘數據返回幀回傳結束后,熄滅發光二極管。 4. 校驗和生成和檢測功能: l 發送數據幀時能自動生成數據幀校驗和; l 每幀數據在發送幀尾前,發送一字節的當前幀數據的校驗和; l 接收數據幀時能檢測校驗和并判斷接收數據是否正確。 附錄:幀定義 校驗和的計算:除去幀頭和幀尾后將幀中的其他數據求和并取低8位; 幀長:不計幀頭、幀尾和校驗和字節。 按鍵允許命令幀: 幀頭 幀長 目的地址 源地址 命令字 校驗和 幀尾 AA 04 FF F0 01 F4 66 時鐘數據搜索命令幀: 幀頭 幀長 目的地址 源地址 命令字 保留字 校驗和 幀尾 AA 05 01 F0 03 00 F9 66 時鐘數據返回幀: 幀頭 幀長 目的地址 源地址 命令字 TL0 TH0 50ms 秒 分 時 校驗和 幀尾 AA 0A F0 01 07 01 B6 09 03 00 00 C5 66 幀結構頭文件frame.h(內容如下) //幀格式定義 #define FRAME_HEAD 0xAA //幀頭 #define FRAME_FOOT 0x66 //幀尾 #define FRAME_LEN 0x00 //幀長 #define FRAME_DST_ADR 0x01 //目的地址 #define FRAME_SRC_ADR 0x02 //源地址 #define FRAME_CMD 0x03 //命令字 #define FRAME_DATA 0x04 //幀數據起始 //幀命令定義 #define READY 0x01 //按鍵允許命令 #define TIME_SERCH 0x03 //時鐘數據輪詢命令 #define TIME_BACK 0x07 //時鐘數據返回命令 //地址定義 #define BROAD_ADR 0xFF //廣播地址 #define MASTER_ADR 0xF0 //主機地址
上傳時間: 2020-06-18
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神經網絡在智能機器人導航系統中的應用研究1神經網絡在環境感知中的應 用 對環境 的感 知 ,環境模型 妁表示 是非常重要 的。未 知 環境中的障礙物的幾何形狀是不確定的,常用的表示方浩是 槽格法。如果用冊格法表示范圍較大的工作環境,在滿足 精度要求 的情況下,必定要占用大量的內存,并且采用柵 格法進行路徑規劃,其計算量是相當大的。Kohon~n自組織 神經瞬絡為機器人對未知環境的蒜知提供了一條途徑。 Kohone~沖經網絡是一十自組織神經網絡,其學習的結 果能體現出輸入樣本的分布情況,從而對輸入樣本實現數 據壓縮 。基于 網絡 的這些特 性,可采 用K0h0n曲 神經元 的 權向量來表示 自由空間,其方法是在 自由空間中隨機地選 取坐標點xltl【可由傳感器獲得】作為網絡輸入,神經嘲絡通 過對大量的輸八樣本的學習,其神經元就會體現出一定的 分布形 式 學習過程如下:開 始時網絡的權值隨機地賦值 , 其后接下式進行學 習: , 、 Jm(,)+叫f)f,)一珥ff)) ∈N,(f) (,) VfeN.(f1 其 中M(f1:神經元 1在t時刻對 應的權值 ;a(∽ 謂整系 數 ; (『l網絡的輸八矢量;Ⅳ():學習的 I域。每個神經元能最 大限度 地表示一 定 的自由空間 。神經 元權 向量的最 小生成 樹可以表示出自由空問的基本框架。網絡學習的鄰域 (,) 可 以動 態地 定義 成矩形 、多邊 形 。神經 元數量 的選取取 決 于環境 的復雜度 ,如果神 經元 的數量 太少 .它們就 不能 覆 蓋整十空間,結果會導致節點穿過障礙物區域 如果節點 妁數量太大 .節點就會表示更多的區域,也就得不到距障 礙物的最大距離。在這種情況下,節點是對整個 自由空間 的學 習,而不是 學習最 小框架空 間 。節 點的數 量可 以動態 地定義,在每個學習階段的結柬.機器人會檢查所有的路 徑.如檢鍘刊路徑上有障礙物 ,就意味著沒有足夠的節點 來 覆蓋整 十 自由窯 間,需要增加 網絡節點來 重新學 習 所 138一 以為了收斂于最小框架表示 ,應該采用較少的網絡 節點升 始學習,逐步增加其數量。這種方法比較適臺對擁擠的'E{= 境的學習,自由空間教小,就可用線段表示;若自由空問 較大,就需要由二維結構表示 。 采用Kohonen~沖經阿絡表示環境是一個新的方法。由 于網絡的并行結構,可在較短的時間內進行大量的計算。并 且不需要了解障礙物的過細信息.如形狀、位置等 通過 學習可用樹結構表示自由空問的基本框架,起、終點問路 徑 可利用樹的遍 歷技術報容易地被找到 在機器人對環境的感知的過程中,可采用人】:神經嘲 絡技術對 多傳 感器的信息進 行融臺 。由于單個傳感器僅能 提 供部分不 完全 的環境信息 ,因此只有秉 甩 多種傳感器 才 能提高機器凡的感知能力。 2 神經 網絡在局部路徑規射中的應 用 局部路徑 規刪足稱動吝避碰 規劃 ,足以全局規荊為指 導 利用在線得到的局部環境信息,在盡可能短的時問內
上傳時間: 2022-02-12
上傳用戶:qingfengchizhu
電子書-RTL Design Style Guide for Verilog HDL540頁A FF having a fixed input value is generated from the description in the upper portion of Example 2-21. In this case, ’0’ is output when the reset signal is asynchronously input, and ’1’ is output when the START signal rises. Therefore, the FF data input is fixed at the power supply, since the typical value ’1’ is output following the rise of the START signal. When FF input values are fixed, the fixed inputs become untestable and the fault detection rate drops. When implementing a scan design and converting to a scan FF, the scan may not be executed properl not be executed properly, so such descriptions , so such descriptions are not are not recommended. recommended.[1] As in the lower part of Example 2-21, be sure to construct a synchronous type of circuit and ensure that the clock signal is input to the clock pin of the FF. Other than the sample shown in Example 2-21, there are situations where for certain control signals, those that had been switched due to the conditions of an external input will no longer need to be switched, leaving only a FF. If logic exists in a lower level and a fixed value is input from an upper level, the input value of the FF may also end up being fixed as the result of optimization with logic synthesis tools. In a situation like this, while perhaps difficult to completely eliminate, the problem should be avoided as much as possible.
標簽: RTL verilog hdl
上傳時間: 2022-03-21
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VIP專區-嵌入式/單片機編程源碼精選合集系列(19)資源包含以下內容:1. 44B0的bios文件.2. 開 關 電 源 手 冊.3. 可控硅應用的十條黃金原則.4. 示波器的中文資料.5. 速度高達54Mbps的IEEE802.11a無線LAN協議.6. PIC讀寫CF卡的C程序(含原理圖).7. 一個簡單的嵌入式程序.8. 能將ELF /AFX 文件轉換成二進制文件的解析源碼.9. mxl + toshiba 8320攝像頭照相的驅動源代碼。.10. 一個完全的4級灰度的嵌入式CDC顯示類。支持DC的全部操作。對于嵌入式開發是一個非常好的工具。.11. 一個顯示所有點陣字庫內容的工具源代碼。在漢字顯示和過國家標準有極其重要的作用。.12. intel的一個高效率FLASH文件系統。思路很好.13. 自已寫的一個嵌入式實時多任務搶占式操作系統。花了幾個禮拜.14. 一個解析HTML 文本協議的源代碼。.15. LED點陣模塊4掃描驅動電路.16. 關于嵌入式開發的北航講義.17. 關于嵌入式操作系統TRON的一個機械控制的例子.18. 不用api的ini,c#類,ce可用.19. ce ftp客戶端.20. 開關控制8個燈的亮滅.21. 用燈觀察乒乓球效果.22. 12887的控制源程序.23. msp 430 精典學習代碼.24. usb 的固件編程序源碼.25. USB D12驅動源程序.26. LCD多級菜單具體實現.27. tms320c55x上的圖像處理程序.28. 語音壓縮編碼中的g729p編碼程序.29. vxwork下的一個多線程應用程序.30. 在rhapsody下rtuml直接生成的洗碗機的程序.31. ht1621驅動參考asm源碼.32. 紅外遙控接收參考程序.33. USB通信總線C程序.34. yyouking_mass_drvPDIUSBD12.35. USB_D12_SCH.36. Altera AHDL語言設計的PCI總線.37. VGA顯示的FPGA實現.38. 關于MAX7219的使用,.39. AT91FR40162的閃燈子程序.40. 模擬的i2c程序.
上傳時間: 2013-04-15
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資源包含以下內容:1.GBT2423.07-1995 電工電子產品環境試驗第2部分 試驗方法試驗ec和導則傾跌與翻倒(主要用于設備型樣品).pdf2.GBT2423.08-1995 電工電子產品環境試驗第2部分 試驗方法試驗ed自由跌落.pdf3.GBT2423.09-2001 電工電子產品環境試驗第2部分 試驗方法試驗cb設備用恒定濕熱.pdf4.GBT2423.10-1995 電工電子產品環境試驗第2部分 試驗方法試驗fc和導則振動(正弦).pdf5.GBT2423.11-1997 電工電子產品環境試驗第2部分 試驗方法試驗fd寬頻帶隨機振動--一般要求 .pdf6.GBT2423.12-1997 電工電子產品環境試驗第2部分 試驗方法試驗fda寬頻帶隨機振動--高再現性.pdf7.GBT2423.13-1997 電工電子產品環境試驗第2部分 試驗方法試驗fdb寬頻帶隨機振動中再現性.pdf8.GBT2423.14-1997 電工電子產品環境試驗第2部分 試驗方法試驗fdc寬頻帶隨機振動低再現性.pdf9.GBT2423.15-1995 電工電子產品環境試驗第2部分 試驗方法試驗ga和導則穩態加速度.pdf10.GBT2423.16-1999 電工電子產品環境試驗第2部分 試驗方法試驗j和導則長霉.pdf11.GBT2423.17-1993 電工電子產品基本環境試驗規程試驗ka 鹽霧試驗方法.pdf12.GBT2423.18-2000 電工電子產品環境試驗第二部分 試驗--試驗kb 鹽霧,交變(氯化鈉溶液).pdf13.GBT2423.19-1981 電工電子產品基本環境試驗規程試驗kc 接觸點和連接件的二氧化硫試驗方法.pdf14.GBT2423.20-1981 電工電子產品基本環境試驗規程試驗kd 接觸點和連接件的硫化氫試驗方法.pdf15.GBT2423.21-1991 電工電子產品基本環境試驗規程試驗m 低氣壓試驗方法.pdf16.GBT2423.22-2002 電工電子產品環境試驗第2部分試驗方法試驗n 溫度變化.pdf17.GBT2423.23-1995 電工電子產品環境試驗試驗q 密封.pdf18.GBT2423.24-1995 電工電子產品環境試驗第二部分 試驗方法試驗sa 模擬地面上的太陽輻射.pdf19.GBT2423.25-1992 電工電子產品基本環境試驗規程試驗zam 低溫低氣壓綜合試驗.pdf20.GBT2423.26-1992 電工電子產品基本環境試驗規程試驗zbm 高溫低氣壓綜合試驗.pdf21.GBT2423.27-1981 電工電子產品基本環境試驗規程試驗zamd 低溫低氣壓濕熱連續綜合試驗方法.pdf22.GBT2423.28-1982 電工電子產品基本環境試驗規程試驗t 錫焊試驗方法.pdf23.GBT2423.29-1999 電工電子產品環境試驗第2部分試驗方法試驗u 引出端及整體安裝件強度.pdf24.GBT2423.30-1999 電工電子產品環境試驗第2部分試驗方法試驗xa 和導則在清洗劑中浸漬.pdf25.GBT2423.31-1985 電工電子產品基本環境試驗規程傾斜和搖擺試驗方法.pdf26.GBT2423.32-1985 電工電子產品基本環境試驗規程潤濕稱量法可焊性試驗方法.pdf27.GBT2423.33-1989 電工電子產品基本環境試驗規程試驗kca 高濃度二氧化硫試驗方法.pdf28.GBT2423.34-1986 電工電子產品基本環境試驗規程試驗zad 溫度濕度組合循環試驗方法.pdf29.GBT2423.35-1986 電工電子產品基本環境試驗規程試驗zafc 散熱和非散熱試驗樣品的低溫振動(正弦)綜合試驗方法.pdf30.GBT2423.36-1986 電工電子產品基本環境試驗規程試驗zbfc 散熱和非散熱樣品的高溫振動(正弦)綜合試驗方法.pdf31.GBT2423.37-1989 電工電子產品基本環境試驗規程試驗l砂塵試驗方法.pdf32.GBT2423.38-1990 電工電子產品基本環境試驗規程試驗r 水試驗方法.pdf33.GBT2423.39-1990 電工電子產品基本環境試驗規程試驗ee 彈跳試驗方法.pdf34.GBT2423.40-1997 電工電子產品環境試驗第2部分試驗方法試驗cx 未飽和高壓蒸汽恒定濕熱.pdf35.GBT2423.41-1994 電工電子產品基本環境試驗規程風壓試驗方法.pdf36.GBT2423.42-1995 工電子產品環境試驗低溫低氣壓振動(正弦)綜合試驗方法.pdf37.GBT2423.43-1995 電工電子產品環境試驗第二部分 試驗方法元件、設備和其他產品在沖擊,碰撞,振動,和穩態加速度,等動力學試驗中的安裝要求和導則.pdf38.GBT2423.44-1995 電工電子產品環境試驗第二部分 試驗方法試驗eg 撞擊彈簧錘.pdf39.GBT2423.45-1997 電工電子產品環境試驗第2部分:試驗方法試驗zabdm:氣候順序.pdf40.GBT2423.46-1997 電工電子產品環境試驗第2部分:試驗方法試驗ef:撞擊擺錘.pdf41.GBT2423.47-1997 電工電子產品環境試驗第2部分 試驗方法試驗fg 聲振.pdf42.GBT2423.48-1997 電工電子產品環境試驗第2部分 試驗方法試驗ff 振動--時間歷程法.pdf43.GBT2423.49-1997 電工電子產品環境試驗第2部分 試驗方法試驗fe 振動--正弦拍頻法.pdf44.GBT2423.50-1999 電工電子產品環境試驗第2部分 試驗方法試驗cy 恒定濕熱主要用于元件的加速試驗.pdf45.GBT2423.51-2000 電工電子產品環境試驗第2部分 試驗方法試驗ke 流動混合氣體腐蝕試驗.pdf46.電子產品老化相關標準資料
標簽: 網站
上傳時間: 2013-04-15
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