ITU-T Recommendation V.90 98年9月版本 A DIGITAL MODEM AND ANALOGUE MODEM PAIR FOR USE ON THE PUBLIC SWITCHED TELEPHONE NETWORK (PSTN) AT DATA SIGNALLING RATES OF UP TO 56 000 bit/s DOWNSTREAM AND UP TO 33 600 bit/s UPSTREAM
標簽: MODEM Recommendation ANALOGUE DIGITAL
上傳時間: 2014-01-17
上傳用戶:hn891122
VERILOG 16-bit ANALOGUE-Digital Converter
標簽: ANALOGUE-Digital Converter VERILOG bit
上傳時間: 2013-12-09
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Control systems are becoming increasingly dependent on digital processing and so require sensors able to provide direct digital inputs. Sensors based on time measurement, having outputs based on a frequency or phase, have an advantage over conventional ANALOGUE sensors in that their outputs can be measured directly in digital systems by pulse counting.
上傳時間: 2013-10-08
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數字與模擬電路設計技巧IC與LSI的功能大幅提升使得高壓電路與電力電路除外,幾乎所有的電路都是由半導體組件所構成,雖然半導體組件高速、高頻化時會有EMI的困擾,不過為了充分發揮半導體組件應有的性能,電路板設計與封裝技術仍具有決定性的影響。 模擬與數字技術的融合由于IC與LSI半導體本身的高速化,同時為了使機器達到正常動作的目的,因此技術上的跨越競爭越來越激烈。雖然構成系統的電路未必有clock設計,但是毫無疑問的是系統的可靠度是建立在電子組件的選用、封裝技術、電路設計與成本,以及如何防止噪訊的產生與噪訊外漏等綜合考慮。機器小型化、高速化、多功能化使得低頻/高頻、大功率信號/小功率信號、高輸出阻抗/低輸出阻抗、大電流/小電流、模擬/數字電路,經常出現在同一個高封裝密度電路板,設計者身處如此的環境必需面對前所未有的設計思維挑戰,例如高穩定性電路與吵雜(noisy)性電路為鄰時,如果未將噪訊入侵高穩定性電路的對策視為設計重點,事后反復的設計變更往往成為無解的夢魘。模擬電路與高速數字電路混合設計也是如此,假設微小模擬信號增幅后再將full scale 5V的模擬信號,利用10bit A/D轉換器轉換成數字信號,由于分割幅寬祇有4.9mV,因此要正確讀取該電壓level并非易事,結果造成10bit以上的A/D轉換器面臨無法順利運作的窘境。另一典型實例是使用示波器量測某數字電路基板兩點相隔10cm的ground電位,理論上ground電位應該是零,然而實際上卻可觀測到4.9mV數倍甚至數十倍的脈沖噪訊(pulse noise),如果該電位差是由模擬與數字混合電路的grand所造成的話,要測得4.9 mV的信號根本是不可能的事情,也就是說為了使模擬與數字混合電路順利動作,必需在封裝與電路設計有相對的對策,尤其是數字電路switching時,ground vance noise不會入侵ANALOGUE ground的防護對策,同時還需充分檢討各電路產生的電流回路(route)與電流大小,依此結果排除各種可能的干擾因素。以上介紹的實例都是設計模擬與數字混合電路時經常遇到的瓶頸,如果是設計12bit以上A/D轉換器時,它的困難度會更加復雜。
上傳時間: 2013-11-16
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利用單片機具有的智能程序控制的特點,設計了基于STC89C52單片機的"二極管特性測試器",可對二極管一般特性進行快速測試。通過穩定線性電流源給二極管加載恒定電流,然后由高精度模數轉換器測試其壓降,以此為基礎可判斷二極管好壞、檢測二極管極性和測試二極管伏安特性等,避免了用萬用表測試只能測得極性而不知其特性這一缺點。可用于電子設計制作過程中對二極管進行快速測試,以確定被測二極管是否滿足電路的設計要求。 Abstract: By making good use of the intelligent control function of the Micro Controller Unit (MCU), the diode trait tester was designed based on the STC89C52,which could be used to test the trait of a diode rapidly. By loading constant current to diode through the stable linear current source, and measuring the voltage drop of the diode by high-precision ANALOGUE-to-digital converter (ADC), it can judge whether the diode is good or not, distinguish the polarity of the diode, and test the trait that the diode, which can avoid the fault of using a multimeter can only measure the polarity but not the trait. This device can be used to test the trait of a diode quickly,and to make sure that whether a diode can be used in the electronic design or not.
上傳時間: 2013-11-13
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數字與模擬電路設計技巧IC與LSI的功能大幅提升使得高壓電路與電力電路除外,幾乎所有的電路都是由半導體組件所構成,雖然半導體組件高速、高頻化時會有EMI的困擾,不過為了充分發揮半導體組件應有的性能,電路板設計與封裝技術仍具有決定性的影響。 模擬與數字技術的融合由于IC與LSI半導體本身的高速化,同時為了使機器達到正常動作的目的,因此技術上的跨越競爭越來越激烈。雖然構成系統的電路未必有clock設計,但是毫無疑問的是系統的可靠度是建立在電子組件的選用、封裝技術、電路設計與成本,以及如何防止噪訊的產生與噪訊外漏等綜合考慮。機器小型化、高速化、多功能化使得低頻/高頻、大功率信號/小功率信號、高輸出阻抗/低輸出阻抗、大電流/小電流、模擬/數字電路,經常出現在同一個高封裝密度電路板,設計者身處如此的環境必需面對前所未有的設計思維挑戰,例如高穩定性電路與吵雜(noisy)性電路為鄰時,如果未將噪訊入侵高穩定性電路的對策視為設計重點,事后反復的設計變更往往成為無解的夢魘。模擬電路與高速數字電路混合設計也是如此,假設微小模擬信號增幅后再將full scale 5V的模擬信號,利用10bit A/D轉換器轉換成數字信號,由于分割幅寬祇有4.9mV,因此要正確讀取該電壓level并非易事,結果造成10bit以上的A/D轉換器面臨無法順利運作的窘境。另一典型實例是使用示波器量測某數字電路基板兩點相隔10cm的ground電位,理論上ground電位應該是零,然而實際上卻可觀測到4.9mV數倍甚至數十倍的脈沖噪訊(pulse noise),如果該電位差是由模擬與數字混合電路的grand所造成的話,要測得4.9 mV的信號根本是不可能的事情,也就是說為了使模擬與數字混合電路順利動作,必需在封裝與電路設計有相對的對策,尤其是數字電路switching時,ground vance noise不會入侵ANALOGUE ground的防護對策,同時還需充分檢討各電路產生的電流回路(route)與電流大小,依此結果排除各種可能的干擾因素。以上介紹的實例都是設計模擬與數字混合電路時經常遇到的瓶頸,如果是設計12bit以上A/D轉換器時,它的困難度會更加復雜。
上傳時間: 2014-02-12
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This book is concerned with integrated circuits and systems for wireless and mobile communications. Circuit techniques and implementation of reconfigurable low-voltage and low-power single-chip CMOS transceivers for multiband and multi- mode universal wireless communications are the focus of the book. Applications encompass both long-range mobile cellular communications (GSM and UMTS) and short-range wireless LANs (IEEE802.11 and Bluetooth). Recent advances in research into transceiver architecture, RF frontend, ANALOGUE baseband, RF CAD and automatic testing are reported.
標簽: Communication Wireless Circuits Systems and
上傳時間: 2020-06-01
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