高性能Adc產(chǎn)品的出現(xiàn)，給混合信號測試領(lǐng)域帶來前所未有的挑戰(zhàn)。并行Adc測試方案實(shí)現(xiàn)了多個Adc測試過程的并行化和實(shí)時化，減少了單個Adc的平均測試時間，從而降低Adc測試成本。本文實(shí)現(xiàn)了基于FPGA的Adc并行測試方法。在閱讀相關(guān)文獻(xiàn)的基礎(chǔ)上，總結(jié)了常用Adc參數(shù)測試方法和測試流程。使用FPGA實(shí)現(xiàn)時域參數(shù)評估算法和頻域參數(shù)評估算法，并對2個Adc在不同樣本數(shù)條件下進(jìn)行并行測試。
本研究通過在FPGA內(nèi)部實(shí)現(xiàn)Adc測試時域算法和頻域算法相結(jié)合的方法來搭建測試系統(tǒng)，完成了音頻編解碼器WM8731L的控制模式接口、音頻數(shù)據(jù)接口、Adc測試時域算法和頻域算法的FPGA實(shí)現(xiàn)。整個測試系統(tǒng)使用Angilent33220A任意信號發(fā)生器提供模擬激勵信號，共用一個FPGA內(nèi)部實(shí)現(xiàn)的采樣時鐘控制模塊。并行測試系統(tǒng)將WM8731.L片內(nèi)的兩個獨(dú)立Adc的串行輸出數(shù)據(jù)分流成左右兩通道，并對其進(jìn)行串并轉(zhuǎn)換。然后對左右兩個通道分別配置一個FFT算法模塊和時域算法模塊，并行地實(shí)現(xiàn)了Adc參數(shù)的評估算法。在樣本數(shù)分別為128和4096的實(shí)驗(yàn)條件下，對WM8731L片內(nèi)2個被測.Adc并行地進(jìn)行參數(shù)評估，被測參數(shù)包括增益GAIN、偏移量OFFSET、信噪比SNR、信號與噪聲諧波失真比SINAD、總諧波失真THD等5個常用參數(shù)。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明，通過在FPGA內(nèi)配置2個獨(dú)立的參數(shù)計(jì)算模塊，可并行地實(shí)現(xiàn)對2個相同Adc的參數(shù)評估，減小單個Adc的平均測試時間。FPGA片內(nèi)實(shí)時評估算法的實(shí)現(xiàn)節(jié)省了測試樣本傳輸至自動測試機(jī)PC端的時間。而且只需將HDL代碼多次復(fù)制，就可實(shí)現(xiàn)多個被測Adc在同一時刻并行地被評估，配置靈活。基于FPGA的Adc并行測試方法易于實(shí)現(xiàn)，具有可行性，但由于噪聲的影響，測試精度有待進(jìn)一步提高。該方法可用于自動測試機(jī)的混合信號選項(xiàng)卡或測試子系統(tǒng)。
標(biāo)簽：
FPGA
Adc
并行測試
方法研究
上傳時間：
2013-06-07
上傳用戶：gps6888
