EDDL 一致性測試指南，適用于支持EDDL標(biāo)準(zhǔn)的Profibus DP,PA,HART及FF現(xiàn)場總線設(shè)備的測試
上傳時間： 2017-09-06
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hex轉(zhuǎn)bin工具 主要功能： 按照標(biāo)準(zhǔn)格式轉(zhuǎn)換的，支持大于64k的文件，可以在最后頁面補FF，方便有些升級工具的處理。 綠色軟件，無須按照，直接使用。 有什么問題和意見歡迎大家發(fā)郵件跟我聯(lián)系。 Email:houliang@foxmail.com 更新：20121215更新點擊保存按鈕的時候會自動存?zhèn)€空文件
上傳時間： 2018-05-09
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題目：基于51單片機的RS485從機系統(tǒng)設(shè)計 單片機接口資源配置： 1. 上電復(fù)位電路； 2. 晶振電路采用11.0592Mhz晶振； 3. 485接口電路（P3.7用于485芯片的收發(fā)控制，收發(fā)管腳接單片機的rxd和txd）； 4. P2口通過外部跳線接相應(yīng)的高低電平，配置從機地址為組號； 5. P3.6外接一發(fā)光二極管（注意串聯(lián)電阻進行限流）； 6. P3.2外接一按鍵，斷開高電平，按下低電平； 7. 按鍵檢測采用外部中斷方式，下跳沿觸發(fā)； 8. 單片機定時器0以模式1（16位模式）工作，產(chǎn)生50ms的定時中斷，并在此基礎(chǔ)上設(shè)計一單片機內(nèi)部時鐘（24小時制，能計數(shù)時、分、秒、50ms值）； 9. 單片機串行通信采用模式1非多機通信方式，采用9600波特率以串行中斷方式進行數(shù)據(jù)的收發(fā)通信，主機地址為0xF0，廣播地址為0xFF。 系統(tǒng)功能需求： 1. 系統(tǒng)配置和自檢功能： l 從機上電后進行初始化，通過讀取P2口進行從機地址配置； l 發(fā)光二極管以每秒一次的頻率閃爍（亮0.5秒，滅0.5秒）； l 檢測到一次按鍵按下操作后，熄滅發(fā)光二極管。 2. 數(shù)據(jù)接收和按鍵計時功能： l 從機接收主機程序（PC機上的串口調(diào)試程序）的按鍵允許命令幀并進行校驗； l 校驗正確并且目的地址是廣播地址或者本從機的地址，通過發(fā)光二極管長亮指示，并允許按鍵操作； l 按鍵按下后，盡可能準(zhǔn)確記錄按鍵的動作時點（定時器的低8位、定時器的高8位、50ms值、秒、分、小時）； l 按鍵操作只能響應(yīng)一次，重復(fù)按鍵操作不響應(yīng)； l 按鍵的動作時點記錄后，發(fā)光二極管以每秒一次的頻率閃爍（亮0.5秒，滅0.5秒）。 3. 數(shù)據(jù)發(fā)送功能： l 從機接收主機程序發(fā)來的時鐘數(shù)據(jù)搜索命令幀并進行校驗； l 如果校驗正確并且數(shù)據(jù)幀的目的地址是本從機的地址，從機將前面記錄的按鍵動作時點數(shù)據(jù)（定時器的低8位、定時器的高8位、50ms值、秒、分、小時）按附錄中的時鐘數(shù)據(jù)返回幀的幀格式回傳給主機； l 時鐘數(shù)據(jù)返回幀回傳結(jié)束后，熄滅發(fā)光二極管。 4. 校驗和生成和檢測功能： l 發(fā)送數(shù)據(jù)幀時能自動生成數(shù)據(jù)幀校驗和； l 每幀數(shù)據(jù)在發(fā)送幀尾前，發(fā)送一字節(jié)的當(dāng)前幀數(shù)據(jù)的校驗和； l 接收數(shù)據(jù)幀時能檢測校驗和并判斷接收數(shù)據(jù)是否正確。 附錄：幀定義 校驗和的計算：除去幀頭和幀尾后將幀中的其他數(shù)據(jù)求和并取低8位； 幀長：不計幀頭、幀尾和校驗和字節(jié)。 按鍵允許命令幀： 幀頭 幀長 目的地址 源地址 命令字 校驗和 幀尾 AA 04 FF F0 01 F4 66 時鐘數(shù)據(jù)搜索命令幀： 幀頭 幀長 目的地址 源地址 命令字 保留字 校驗和 幀尾 AA 05 01 F0 03 00 F9 66 時鐘數(shù)據(jù)返回幀： 幀頭 幀長 目的地址 源地址 命令字 TL0 TH0 50ms 秒 分 時 校驗和 幀尾 AA 0A F0 01 07 01 B6 09 03 00 00 C5 66 幀結(jié)構(gòu)頭文件frame.h（內(nèi)容如下） //幀格式定義 #define FRAME_HEAD 0xAA //幀頭 #define FRAME_FOOT 0x66 //幀尾 #define FRAME_LEN 0x00 //幀長 #define FRAME_DST_ADR 0x01 //目的地址 #define FRAME_SRC_ADR 0x02 //源地址 #define FRAME_CMD 0x03 //命令字 #define FRAME_DATA 0x04 //幀數(shù)據(jù)起始 //幀命令定義 #define READY 0x01 //按鍵允許命令 #define TIME_SERCH 0x03 //時鐘數(shù)據(jù)輪詢命令 #define TIME_BACK 0x07 //時鐘數(shù)據(jù)返回命令 //地址定義 #define BROAD_ADR 0xFF //廣播地址 #define MASTER_ADR 0xF0 //主機地址
上傳時間： 2020-06-18
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神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)在智能機器人導(dǎo)航系統(tǒng)中的應(yīng)用研究1神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)在環(huán)境感知中的應(yīng) 用 對環(huán)境 的感 知 ，環(huán)境模型 妁表示 是非常重要 的。未 知 環(huán)境中的障礙物的幾何形狀是不確定的，常用的表示方浩是 槽格法。如果用冊格法表示范圍較大的工作環(huán)境，在滿足 精度要求 的情況下，必定要占用大量的內(nèi)存，并且采用柵 格法進行路徑規(guī)劃，其計算量是相當(dāng)大的。Kohon~n自組織 神經(jīng)瞬絡(luò)為機器人對未知環(huán)境的蒜知提供了一條途徑。 Kohone~沖經(jīng)網(wǎng)絡(luò)是一十自組織神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)，其學(xué)習(xí)的結(jié) 果能體現(xiàn)出輸入樣本的分布情況，從而對輸入樣本實現(xiàn)數(shù) 據(jù)壓縮 。基于 網(wǎng)絡(luò) 的這些特 性，可采 用K0h0n曲 神經(jīng)元 的 權(quán)向量來表示 自由空間，其方法是在 自由空間中隨機地選 取坐標(biāo)點xltl【可由傳感器獲得】作為網(wǎng)絡(luò)輸入，神經(jīng)嘲絡(luò)通 過對大量的輸八樣本的學(xué)習(xí)，其神經(jīng)元就會體現(xiàn)出一定的 分布形 式 學(xué)習(xí)過程如下：開 始時網(wǎng)絡(luò)的權(quán)值隨機地賦值 ， 其后接下式進行學(xué) 習(xí)： ， 、 Jm(，)+叫f)f，)一珥ff)) ∈N，(f) (，) VfeN．(f1 其 中M(f1：神經(jīng)元 1在t時刻對 應(yīng)的權(quán)值 ；a(∽ 謂整系 數(shù) ； (『l網(wǎng)絡(luò)的輸八矢量；Ⅳ()：學(xué)習(xí)的 I域。每個神經(jīng)元能最 大限度 地表示一 定 的自由空間 。神經(jīng) 元權(quán) 向量的最 小生成 樹可以表示出自由空問的基本框架。網(wǎng)絡(luò)學(xué)習(xí)的鄰域 (，) 可 以動 態(tài)地 定義 成矩形 、多邊 形 。神經(jīng) 元數(shù)量 的選取取 決 于環(huán)境 的復(fù)雜度 ，如果神 經(jīng)元 的數(shù)量 太少 ．它們就 不能 覆 蓋整十空間，結(jié)果會導(dǎo)致節(jié)點穿過障礙物區(qū)域 如果節(jié)點 妁數(shù)量太大 ．節(jié)點就會表示更多的區(qū)域，也就得不到距障 礙物的最大距離。在這種情況下，節(jié)點是對整個 自由空間 的學(xué) 習(xí)，而不是 學(xué)習(xí)最 小框架空 間 。節(jié) 點的數(shù) 量可 以動態(tài) 地定義，在每個學(xué)習(xí)階段的結(jié)柬．機器人會檢查所有的路 徑．如檢鍘刊路徑上有障礙物 ，就意味著沒有足夠的節(jié)點 來 覆蓋整 十 自由窯 間，需要增加 網(wǎng)絡(luò)節(jié)點來 重新學(xué) 習(xí) 所 138一 以為了收斂于最小框架表示 ，應(yīng)該采用較少的網(wǎng)絡(luò) 節(jié)點升 始學(xué)習(xí)，逐步增加其數(shù)量。這種方法比較適臺對擁擠的'E{= 境的學(xué)習(xí)，自由空間教小，就可用線段表示；若自由空問 較大，就需要由二維結(jié)構(gòu)表示 。 采用Kohonen~沖經(jīng)阿絡(luò)表示環(huán)境是一個新的方法。由 于網(wǎng)絡(luò)的并行結(jié)構(gòu)，可在較短的時間內(nèi)進行大量的計算。并 且不需要了解障礙物的過細信息．如形狀、位置等 通過 學(xué)習(xí)可用樹結(jié)構(gòu)表示自由空問的基本框架，起、終點問路 徑 可利用樹的遍 歷技術(shù)報容易地被找到 在機器人對環(huán)境的感知的過程中，可采用人】：神經(jīng)嘲 絡(luò)技術(shù)對 多傳 感器的信息進 行融臺 。由于單個傳感器僅能 提 供部分不 完全 的環(huán)境信息 ，因此只有秉 甩 多種傳感器 才 能提高機器凡的感知能力。 2 神經(jīng) 網(wǎng)絡(luò)在局部路徑規(guī)射中的應(yīng) 用 局部路徑 規(guī)刪足稱動吝避碰 規(guī)劃 ，足以全局規(guī)荊為指 導(dǎo) 利用在線得到的局部環(huán)境信息，在盡可能短的時問內(nèi)
標(biāo)簽： 神經(jīng)網(wǎng)絡(luò) 智能機器人 導(dǎo)航
上傳時間： 2022-02-12
上傳用戶：qingfengchizhu
電子書-RTL Design Style Guide for Verilog HDL540頁A FF having a fixed input value is generated from the description in the upper portion of Example 2-21. In this case, ’0’ is output when the reset signal is asynchronously input, and ’1’ is output when the START signal rises. Therefore, the FF data input is fixed at the power supply, since the typical value ’1’ is output following the rise of the START signal. When FF input values are fixed, the fixed inputs become untestable and the fault detection rate drops. When implementing a scan design and converting to a scan FF, the scan may not be executed properl not be executed properly, so such descriptions , so such descriptions are not are not recommended. recommended.[1] As in the lower part of Example 2-21, be sure to construct a synchronous type of circuit and ensure that the clock signal is input to the clock pin of the FF. Other than the sample shown in Example 2-21, there are situations where for certain control signals, those that had been switched due to the conditions of an external input will no longer need to be switched, leaving only a FF. If logic exists in a lower level and a fixed value is input from an upper level, the input value of the FF may also end up being fixed as the result of optimization with logic synthesis tools. In a situation like this, while perhaps difficult to completely eliminate, the problem should be avoided as much as possible.
標(biāo)簽： RTL verilog hdl
上傳時間： 2022-03-21
上傳用戶：canderile
VIP專區(qū)-嵌入式/單片機編程源碼精選合集系列（19）資源包含以下內(nèi)容：1. 44B0的bios文件.2. 開 關(guān) 電 源 手 冊.3. 可控硅應(yīng)用的十條黃金原則.4. 示波器的中文資料.5. 速度高達54Mbps的IEEE802.11a無線LAN協(xié)議.6. PIC讀寫CF卡的C程序(含原理圖).7. 一個簡單的嵌入式程序.8. 能將ELF /AFX 文件轉(zhuǎn)換成二進制文件的解析源碼.9. mxl + toshiba 8320攝像頭照相的驅(qū)動源代碼。.10. 一個完全的4級灰度的嵌入式CDC顯示類。支持DC的全部操作。對于嵌入式開發(fā)是一個非常好的工具。.11. 一個顯示所有點陣字庫內(nèi)容的工具源代碼。在漢字顯示和過國家標(biāo)準(zhǔn)有極其重要的作用。.12. intel的一個高效率FLASH文件系統(tǒng)。思路很好.13. 自已寫的一個嵌入式實時多任務(wù)搶占式操作系統(tǒng)。花了幾個禮拜.14. 一個解析HTML 文本協(xié)議的源代碼。.15. LED點陣模塊4掃描驅(qū)動電路.16. 關(guān)于嵌入式開發(fā)的北航講義.17. 關(guān)于嵌入式操作系統(tǒng)TRON的一個機械控制的例子.18. 不用api的ini,c#類,ce可用.19. ce ftp客戶端.20. 開關(guān)控制8個燈的亮滅.21. 用燈觀察乒乓球效果.22. 12887的控制源程序.23. msp 430 精典學(xué)習(xí)代碼.24. usb 的固件編程序源碼.25. USB D12驅(qū)動源程序.26. LCD多級菜單具體實現(xiàn).27. tms320c55x上的圖像處理程序.28. 語音壓縮編碼中的g729p編碼程序.29. vxwork下的一個多線程應(yīng)用程序.30. 在rhapsody下rtuml直接生成的洗碗機的程序.31. ht1621驅(qū)動參考asm源碼.32. 紅外遙控接收參考程序.33. USB通信總線C程序.34. yyouking_mass_drvPDIUSBD12.35. USB_D12_SCH.36. Altera AHDL語言設(shè)計的PCI總線.37. VGA顯示的FPGA實現(xiàn).38. 關(guān)于MAX7219的使用,.39. AT91FR40162的閃燈子程序.40. 模擬的i2c程序.
上傳時間： 2013-04-15
上傳用戶：eeworm
資源包含以下內(nèi)容：1.GBT2423.07-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗ec和導(dǎo)則傾跌與翻倒(主要用于設(shè)備型樣品).pdf2.GBT2423.08-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗ed自由跌落.pdf3.GBT2423.09-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗cb設(shè)備用恒定濕熱.pdf4.GBT2423.10-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗fc和導(dǎo)則振動(正弦).pdf5.GBT2423.11-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗fd寬頻帶隨機振動--一般要求 .pdf6.GBT2423.12-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗fda寬頻帶隨機振動--高再現(xiàn)性.pdf7.GBT2423.13-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗fdb寬頻帶隨機振動中再現(xiàn)性.pdf8.GBT2423.14-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗fdc寬頻帶隨機振動低再現(xiàn)性.pdf9.GBT2423.15-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗ga和導(dǎo)則穩(wěn)態(tài)加速度.pdf10.GBT2423.16-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗j和導(dǎo)則長霉.pdf11.GBT2423.17-1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗ka 鹽霧試驗方法.pdf12.GBT2423.18-2000 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分 試驗--試驗kb 鹽霧,交變(氯化鈉溶液).pdf13.GBT2423.19-1981 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗kc 接觸點和連接件的二氧化硫試驗方法.pdf14.GBT2423.20-1981 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗kd 接觸點和連接件的硫化氫試驗方法.pdf15.GBT2423.21-1991 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗m 低氣壓試驗方法.pdf16.GBT2423.22-2002 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗n 溫度變化.pdf17.GBT2423.23-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗試驗q 密封.pdf18.GBT2423.24-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分 試驗方法試驗sa 模擬地面上的太陽輻射.pdf19.GBT2423.25-1992 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗zam 低溫低氣壓綜合試驗.pdf20.GBT2423.26-1992 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗zbm 高溫低氣壓綜合試驗.pdf21.GBT2423.27-1981 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗zamd 低溫低氣壓濕熱連續(xù)綜合試驗方法.pdf22.GBT2423.28-1982 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗t 錫焊試驗方法.pdf23.GBT2423.29-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗u 引出端及整體安裝件強度.pdf24.GBT2423.30-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗xa 和導(dǎo)則在清洗劑中浸漬.pdf25.GBT2423.31-1985 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程傾斜和搖擺試驗方法.pdf26.GBT2423.32-1985 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程潤濕稱量法可焊性試驗方法.pdf27.GBT2423.33-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗kca 高濃度二氧化硫試驗方法.pdf28.GBT2423.34-1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗zad 溫度濕度組合循環(huán)試驗方法.pdf29.GBT2423.35-1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗zafc 散熱和非散熱試驗樣品的低溫振動(正弦)綜合試驗方法.pdf30.GBT2423.36-1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗zbfc 散熱和非散熱樣品的高溫振動(正弦)綜合試驗方法.pdf31.GBT2423.37-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗l砂塵試驗方法.pdf32.GBT2423.38-1990 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗r 水試驗方法.pdf33.GBT2423.39-1990 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗ee 彈跳試驗方法.pdf34.GBT2423.40-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗cx 未飽和高壓蒸汽恒定濕熱.pdf35.GBT2423.41-1994 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程風(fēng)壓試驗方法.pdf36.GBT2423.42-1995 工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗低溫低氣壓振動(正弦)綜合試驗方法.pdf37.GBT2423.43-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分 試驗方法元件、設(shè)備和其他產(chǎn)品在沖擊,碰撞,振動,和穩(wěn)態(tài)加速度,等動力學(xué)試驗中的安裝要求和導(dǎo)則.pdf38.GBT2423.44-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分 試驗方法試驗eg 撞擊彈簧錘.pdf39.GBT2423.45-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗zabdm：氣候順序.pdf40.GBT2423.46-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗ef：撞擊擺錘.pdf41.GBT2423.47-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗fg 聲振.pdf42.GBT2423.48-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗ff 振動--時間歷程法.pdf43.GBT2423.49-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗fe 振動--正弦拍頻法.pdf44.GBT2423.50-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗cy 恒定濕熱主要用于元件的加速試驗.pdf45.GBT2423.51-2000 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗ke 流動混合氣體腐蝕試驗.pdf46.電子產(chǎn)品老化相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)資料
標(biāo)簽： 網(wǎng)站
上傳時間： 2013-04-15
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GBT2423.51-2000 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗ke 流動混合氣體腐蝕試驗.pdf 535KB2019-03-29 13:34 GBT2423.50-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗cy 恒定濕熱主要用于元件的加速試驗.pdf 319KB2019-03-29 13:34 GBT2423.49-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗fe 振動--正弦拍頻法.pdf 832KB2019-03-29 13:34 GBT2423.48-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗ff 振動--時間歷程法.pdf 708KB2019-03-29 13:34 GBT2423.47-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗fg 聲振.pdf 773KB2019-03-29 13:34 GBT2423.46-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗ef：撞擊擺錘.pdf 423KB2019-03-29 13:34 GBT2423.45-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗zabdm：氣候順序.pdf 418KB2019-03-29 13:34 GBT2423.44-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分 試驗方法試驗eg 撞擊彈簧錘.pdf 356KB2019-03-29 13:34 GBT2423.43-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分 試驗方法元件、設(shè)備和其他產(chǎn)品在沖擊,碰撞,振動,和穩(wěn)態(tài)加速度,等動力學(xué)試驗中的安裝要求和導(dǎo)則.pdf 496KB2019-03-29 13:34 GBT2423.42-1995 工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗低溫低氣壓振動(正弦)綜合試驗方法.pdf 246KB2019-03-29 13:34 GBT2423.41-1994 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程風(fēng)壓試驗方法.pdf 213KB2019-03-29 13:34 GBT2423.40-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗cx 未飽和高壓蒸汽恒定濕熱.pdf 532KB2019-03-29 13:34 GBT2423.39-1990 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗ee 彈跳試驗方法.pdf 331KB2019-03-29 13:34 GBT2423.38-1990 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗r 水試驗方法.pdf 357KB2019-03-29 13:34 GBT2423.37-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗l砂塵試驗方法.pdf 236KB2019-03-29 13:34 GBT2423.36-1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗zbfc 散熱和非散熱樣品的高溫振動(正弦)綜合試驗方法.pdf 273KB2019-03-29 13:34 GBT2423.35-1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗zafc 散熱和非散熱試驗樣品的低溫振動(正弦)綜合試驗方法.pdf 270KB2019-03-29 13:34 GBT2423.34-1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗zad 溫度濕度組合循環(huán)試驗方法.pdf 290KB2019-03-29 13:34 GBT2423.33-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗kca 高濃度二氧化硫試驗方法.pdf 146KB2019-03-29 13:34 GBT2423.32-1985 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程潤濕稱量法可焊性試驗方法.pdf 172KB2019-03-29 13:34 GBT2423.31-1985 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程傾斜和搖擺試驗方法.pdf 143KB2019-03-29 13:34 GBT2423.30-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗xa 和導(dǎo)則在清洗劑中浸漬.pdf 104KB2019-03-29 13:34 GBT2423.29-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗u 引出端及整體安裝件強度.pdf 421KB2019-03-29 13:34 GBT2423.28-1982 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗t 錫焊試驗方法.pdf 697KB2019-03-29 13:34 GBT2423.27-1981 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗zamd 低溫低氣壓濕熱連續(xù)綜合試驗方法.pdf 128KB2019-03-29 13:34 GBT2423.26-1992 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗zbm 高溫低氣壓綜合試驗.pdf 211KB2019-03-29 13:34 GBT2423.25-1992 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗zam 低溫低氣壓綜合試驗.pdf 202KB2019-03-29 13:34 GBT2423.24-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分 試驗方法試驗sa 模擬地面上的太陽輻射.pdf 176KB2019-03-29 13:34 GBT2423.23-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗試驗q 密封.pdf 1.2M2019-03-29 13:34 GBT2423.22-2002 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗n 溫度變化.pdf 302KB2019-03-29 13:34 GBT2423.21-1991 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗m 低氣壓試驗方法.pdf 107KB2019-03-29 13:34 GBT2423.20-1981 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗kd 接觸點和連接件的硫化氫試驗方法.pdf 140KB2019-03-29 13:34 GBT2423.19-1981 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗kc 接觸點和連接件的二氧化硫試驗方法.pdf 145KB2019-03-29 13:34 GBT2423.18-2000 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分 試驗--試驗kb 鹽霧,交變(氯化鈉溶液).pdf 163KB2019-03-29 13:34 GBT2423.17-1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗ka 鹽霧試驗方法.pdf 105KB2019-03-29 13:34 GBT2423.16-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗j和導(dǎo)則長霉.pdf 531KB2019-03-29 13:34 GBT2423.15-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗ga和導(dǎo)則穩(wěn)態(tài)加速度.pdf 297KB2019-03-29 13:34 GBT2423.14-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗fdc寬頻帶隨機振動低再現(xiàn)性.pdf 444KB2019-03-29 13:34 GBT2423.13-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗fdb寬頻帶隨機振動中再現(xiàn)性.pdf 805KB2019-03-29 13:34 GBT2423.12-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗fda寬頻帶隨機振動--高再現(xiàn)性.pdf 842KB2019-03-29 13:34 GBT2423.11-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗fd寬頻帶隨機振動--一般要求 .pdf 635KB2019-03-29 13:34 GBT2423.10-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗fc和導(dǎo)則振動(正弦).pdf 1M2019-03-29 13:34 GBT2423.09-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗cb設(shè)備用恒定濕熱.pdf 149KB2019-03-29 13:34 GBT2423.08-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗ed自由跌落.pdf 301KB2019-03-29 13:34 GBT2423.07-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗ec和導(dǎo)則傾跌與翻倒(主要用于設(shè)備型樣品).pdf 237KB2019-03-29 13:34 GBT2423.06-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗eb和導(dǎo)則：碰撞.pdf 545KB2019-03-29 13:34 GBT2423.05-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗ea和導(dǎo)則沖擊.pdf 892KB2019-03-29 13:34 GBT2423.04-1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗db 交變濕熱試驗方法.pdf 192KB2019-03-29 13:34 GBT2423.03-1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗ca 恒定濕熱試驗方法.pdf 124KB2019-03-29 13:34 GBT2423.02-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗b高溫.pdf 744KB2019-03-29 13:34 GBT2423.01-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法試驗a低溫.pdf 499KB2019-03-29 13:34 GB2421-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程總則.pdf
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