文章主要介紹ARM JTAG調(diào)試的基本原理。基本的內(nèi)容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介紹,在此基礎(chǔ)上,結(jié)合ARM7TDMI詳細介紹了的JTAG調(diào)試原理。
關(guān)注B站賬號,站內(nèi)消息自動回復(fù)給您下載驗證碼。
前往 B站:半導(dǎo)體科技觀察
蟲蟲下載站版權(quán)所有 京ICP備2021023401號-1