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  • 黑金CYCLONE4 EP4CE6F17C8 FPGA開發板ALTIUM設計硬件工程(原理圖+PCB

    黑金CYCLONE4 EP4CE6F17C8 FPGA開發板ALTIUM設計硬件工程(原理圖+PCB+AD集成封裝庫),Altium Designer 設計的工程文件,包括完整的原理圖及PCB文件,可以用Altium(AD)軟件打開或修改,可作為你產品設計的參考。集成封裝器件型號列表:Library Component Count : 50Name                Description----------------------------------------------------------------------------------------------------1117-3.3            24LC04B_0           4148                BAV99               CAP NP_Dup2CAP NP_Dup2_1       CAP NP_Dup2_2CP2102_0            C_Dup1              C_Dup1_1C_Dup2              C_Dup3              C_Dup4              C_Dup4_1            Circuit Breaker     Circuit BreakerConnECtor 15        RECeptacle Assembly, 15-Pin, Sim Line ConnECtorDS1302_8SO          EC                  EP4CE6F17C8         Cyclone IV Family FPGA, 2V Core, 179 I/O Pins, 2 PLLs, 256-Pin FBGA, Speed Grade 8, Commercial GradeEP4CE6F17C8_1       Cyclone IV Family FPGA, 2V Core, 179 I/O Pins, 2 PLLs, 256-Pin FBGA, Speed Grade 8, Commercial GradeFuse 2              FuseHEX6HY57651620/SO_0     Header 2            Header, 2-PinHeader 9X2          Header, 9-Pin, Dual rowINDUCTOR            JTAG-10_Dup1        KEYB                LED                 LED_Dup1            M25P16-VMN3PB       16 Mb (x1) Automotive Serial NOR Flash Memory, 75 MHz, 2.7 to 3.6 V, 8-pin SO8 Narrow (MN), TubeMHDR2X20            Header, 20-Pin, Dual rowMiniUSBB            OSCPNP                 R                   RESISTOR            RN                  RN_Dup1             R_Dup1              R_Dup2              R_Dup3              R_Dup5R_Dup6              SD                  SPEAKERSRV05-4SW KEY-DPDT         ZTAbattery

    標簽: 黑金 cyclone4 ep4ce6f17c8 fpga

    上傳時間: 2021-12-22

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  • Agilent 34401A Service Guide.pdf

    Agilent 34401A Service Guide.pdfIEC Measurement Category II includes elECtrical devices connECted to mains at an outlet on a branch circuit. Such devices include most small appliances, test equipment, and other devices that plug into a branch outlet or socket. The 34401A may be used to make measurements with the HI and LO inputs connECted to mains in such devices, or to the branch outlet itself (up to 300 VAC). However, the 34401A may not be used with its HI and LO inputs connECted to mains in permanently installed elECtrical devices such as the main circuit-breaker panel, sub-panel disconnECt boxes, or permanently wired motors. Such devices and circuits are subjECt to overvoltages that may exceed the protECtion limits of the 34401A. Note: Voltages above 300 VAC may be measured only in circuits that are isolated from mains. However, transient overvoltages are also present on circuits that are isolated from mains. The Agilent 34401A are designed to safely withstand occasional transient overvoltages up to 2500 Vpk. Do not use this equipment to measure circuits where transient overvoltages could exceed this level. Additional Notices Waste ElECtrical and ElECtronic Equipment (WEEE) DirECtive 2002/96/EC This product complies with the WEEE DirECtive (2002/96/EC) marking requirement. The affixed product label (see below) indicates that you must not discard this elECtrical/elECtronic product in domestic household waste. Product Category: With reference to the equipment types in the WEEE dirECtive Annex 1, this product is classified as a "Monitoring and Control instrumentation" product. Do not dispose in domestic household waste. To return unwanted products, contact your local Agilent office, or see www.agilent.com/environment/product for more information. Agilent 34138A Test Lead Set The Agilent 34401A is compatible with the Agilent 34138A Test Lead Set described below. Test Lead Ratings Test Leads - 1000V, 15A Fine Tip Probe Attachments - 300V, 3A Mini Grabber Attachment - 300V, 3A SMT Grabber Attachments - 300V, 3A Operation The Fine Tip, Mini Grabber, and SMT Grabber attachments plug onto the probe end of the Test Leads. Maintenance If any portion of the Test Lead Set is worn or damaged, do not use. Replace with a new Agilent 3413

    標簽: agilent

    上傳時間: 2022-02-20

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  • 射頻IC MFRC522在智能儀表中的應用

    1引言由于環境溫度、濕度、油污等外界條件對諸如預付費水表、預付費燃氣表、預付費熱量表等接觸式卡表的影響明顯,卡座磨損、腐蝕,以及潮氣、灰塵等大大縮短了對卡表的使用壽命,因此非接觸卡表已成為當前發展趨勢。這里給出了一種基于射頻器件MFRCS22"的智能儀表設計,提高了智能儀表的使命壽命。2 MFRC522簡介2.1 MFRC522的特點MFRC522采用串行通信方式與主機通信,可根據用戶需求,選用SPIPC或串行UART工作模式,有利于減少連線,縮小PCB板面積,降低成本。MFRC522主要特點如下:高度集成的調制解調電路,采用少量外部器件,即可將輸出驅動級接至天線;支持ISO/EC 14443 TypeA接口和MIFARE通信協議;支持多種主機接口:10 Mbitls的SPI接口;PC接口,快速模式的速率為400 Kbit/s,高速模式的速率為3400 Kbitls;串行UART,傳輸速率可以高達1 228.8 kbits,取  RS232 口;特有的發送器掉電機制可關團內部天線驅動器,即關閉RF場,達到低功耗;內置溫度傳感器,在過熱時自動停止RF發射;獨立的多組電源供電,避免相互干擾,優化EMC特性和信號退構性能;25 V-3.6 V的低壓、低功耗,采用5 mmx5mmx0.85 mm的超小型HVQFN32封裝。

    標簽: 射頻 ic mfrc522 智能儀表

    上傳時間: 2022-06-20

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  • EMC結構電磁兼容設計規范

    1·范圍本規范規定了結構件電磁兼容設計(主要是屏蔽和接地)的設計指標、設計原則和具體設計方法。本規范適應于結構設計人員進行結構件的電磁兼容設計,目的是規范機電協調中電磁兼容方面的內容,指導結構設計人員正確地選擇方案和進行詳細設計。2,引用標準下列標準包含的條文,通過在本標準中引用而構成本標準的條文。在標準出版時,所示版本均為有效。所有標準都會被修訂,使用本標準的各方應探討使用下列標準最新版本的可能性。GJB 1046《艦船搭接、接地、屏蔽、濾波及電纜的電磁兼容性要求和方法》GJB 1210《接地、搭接和屏蔽設計的實施》C MIL-HDBK-419《電子設備和設施的接地搭接和屏蔽》IEC 61587-3(草案)《第三部分:EC 60917 EC 60297系列機箱、機柜和插箱屏蔽性能試驗8《結構件分類描述優化方案及圖號縮寫規則》

    標簽: emc 電磁兼容

    上傳時間: 2022-06-22

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  • VIP專區-嵌入式/單片機編程源碼精選合集系列(95)

    VIP專區-嵌入式/單片機編程源碼精選合集系列(95)資源包含以下內容:1. Embedded Systems Building Blocks(E) uC/OS-II的好書.2. zigbee的說明文檔!看起來很方便!希望對大家有幫助!.3. PCI總線配置說明,希望給PCI驅動開發的朋友一些幫助..4. Keil UserGuide ,Keil C51編譯器使用中文手冊.5. 語音芯片ISD1790的中文 使用手冊!.6. 介紹FPGA/CPLD設計的指導性原則.7. Allegro、drl文件瀏覽軟件。 用于硬件電路設計后期的軟件處理。 界面美化版。.8. NETLink-PRO-ETH_EN profibus develop document!.9. 2005年微軟移動與嵌入式開發者大會的文稿。.10. ssd1926 驅動3.5TFT程序.11. 型號:OCMJ8X15B(不帶觸摸屏) MCU :89C52 功能:演示.12. 型號:4X8B(不帶觸摸屏) MCU :89C52 功能:演示.13. 給大家提供一個在inram/exram中調試的示例,在周公的lpc2200上調試過..14. TI原廠的TMS32C6713開發板的原理圖.15. 嵌入式程序員面試的寶典。包括了面試中常見的問題和應聘者應該具備的知識。.16. SD卡源程序 SD卡源程序 SD卡源程序.17. uip-1.0,give everyone who want..18. 實驗目的 1.培養學生綜合掌握軟件開發過程的能力。 2.培養學生綜合運用面向對象設計方法的能力.19. Mini51Board編程模板源程序,需要的可以.20. 使用MC9S12DG128芯片.21. 介紹無線嵌入式操作系統Tinyos,該系統專門為無線傳感系統開發而設計.22. 一篇關于CC2430的ZigBee協議的構建,該文介紹了如何利用CC2430RF模塊實現字節級,數據包級的無線發送及路由.23. 嵌入式實時操作系統教材1.24. 航顯系統中LED顯示軟件應用.25. FAT和yaffs文件系統---學習文件系統的有幫助.26. 用C語言實現高效嵌入式編程.27. 嵌入式系統中的軟件設計技術──C語言程序設計.28. EC++與C++嵌入式系統編程比較研究.29. 可編程控制器S7-200多個演示程序.30. ITK software guide. 很詳細的關于ITK用法介紹。.31. i2c-tools,讀取i2c設備的工具.32. 提供79l06的使用手冊及其資料查詢 7906.33. 提供79l06的使用手冊及其資料查詢 7906.34. 一個虛擬儀器終端.35. PCI協議的一部分翻譯; PDF格式; 效果一般。.36. 可編程任意波形信號發生器multisim8仿真.37. 555定時電路的單穩態工作方式multisim8仿真。.38. 任意進制計數器的仿真分析multisim8.39. DirECt Digital Synthesis (DDS),最好用的可步進的數字頻率發生器的方法.40. uC_GUI的部分說明手冊的中文翻譯.

    標簽: 機械設計

    上傳時間: 2013-04-15

    上傳用戶:eeworm

  • VIP專區-電子產品老化相關標準資料

    資源包含以下內容:1.GBT2423.07-1995 電工電子產品環境試驗第2部分 試驗方法試驗EC和導則傾跌與翻倒(主要用于設備型樣品).pdf2.GBT2423.08-1995 電工電子產品環境試驗第2部分 試驗方法試驗ed自由跌落.pdf3.GBT2423.09-2001 電工電子產品環境試驗第2部分 試驗方法試驗cb設備用恒定濕熱.pdf4.GBT2423.10-1995 電工電子產品環境試驗第2部分 試驗方法試驗fc和導則振動(正弦).pdf5.GBT2423.11-1997 電工電子產品環境試驗第2部分 試驗方法試驗fd寬頻帶隨機振動--一般要求 .pdf6.GBT2423.12-1997 電工電子產品環境試驗第2部分 試驗方法試驗fda寬頻帶隨機振動--高再現性.pdf7.GBT2423.13-1997 電工電子產品環境試驗第2部分 試驗方法試驗fdb寬頻帶隨機振動中再現性.pdf8.GBT2423.14-1997 電工電子產品環境試驗第2部分 試驗方法試驗fdc寬頻帶隨機振動低再現性.pdf9.GBT2423.15-1995 電工電子產品環境試驗第2部分 試驗方法試驗ga和導則穩態加速度.pdf10.GBT2423.16-1999 電工電子產品環境試驗第2部分 試驗方法試驗j和導則長霉.pdf11.GBT2423.17-1993 電工電子產品基本環境試驗規程試驗ka 鹽霧試驗方法.pdf12.GBT2423.18-2000 電工電子產品環境試驗第二部分 試驗--試驗kb 鹽霧,交變(氯化鈉溶液).pdf13.GBT2423.19-1981 電工電子產品基本環境試驗規程試驗kc 接觸點和連接件的二氧化硫試驗方法.pdf14.GBT2423.20-1981 電工電子產品基本環境試驗規程試驗kd 接觸點和連接件的硫化氫試驗方法.pdf15.GBT2423.21-1991 電工電子產品基本環境試驗規程試驗m 低氣壓試驗方法.pdf16.GBT2423.22-2002 電工電子產品環境試驗第2部分試驗方法試驗n 溫度變化.pdf17.GBT2423.23-1995 電工電子產品環境試驗試驗q 密封.pdf18.GBT2423.24-1995 電工電子產品環境試驗第二部分 試驗方法試驗sa 模擬地面上的太陽輻射.pdf19.GBT2423.25-1992 電工電子產品基本環境試驗規程試驗zam 低溫低氣壓綜合試驗.pdf20.GBT2423.26-1992 電工電子產品基本環境試驗規程試驗zbm 高溫低氣壓綜合試驗.pdf21.GBT2423.27-1981 電工電子產品基本環境試驗規程試驗zamd 低溫低氣壓濕熱連續綜合試驗方法.pdf22.GBT2423.28-1982 電工電子產品基本環境試驗規程試驗t 錫焊試驗方法.pdf23.GBT2423.29-1999 電工電子產品環境試驗第2部分試驗方法試驗u 引出端及整體安裝件強度.pdf24.GBT2423.30-1999 電工電子產品環境試驗第2部分試驗方法試驗xa 和導則在清洗劑中浸漬.pdf25.GBT2423.31-1985 電工電子產品基本環境試驗規程傾斜和搖擺試驗方法.pdf26.GBT2423.32-1985 電工電子產品基本環境試驗規程潤濕稱量法可焊性試驗方法.pdf27.GBT2423.33-1989 電工電子產品基本環境試驗規程試驗kca 高濃度二氧化硫試驗方法.pdf28.GBT2423.34-1986 電工電子產品基本環境試驗規程試驗zad 溫度濕度組合循環試驗方法.pdf29.GBT2423.35-1986 電工電子產品基本環境試驗規程試驗zafc 散熱和非散熱試驗樣品的低溫振動(正弦)綜合試驗方法.pdf30.GBT2423.36-1986 電工電子產品基本環境試驗規程試驗zbfc 散熱和非散熱樣品的高溫振動(正弦)綜合試驗方法.pdf31.GBT2423.37-1989 電工電子產品基本環境試驗規程試驗l砂塵試驗方法.pdf32.GBT2423.38-1990 電工電子產品基本環境試驗規程試驗r 水試驗方法.pdf33.GBT2423.39-1990 電工電子產品基本環境試驗規程試驗ee 彈跳試驗方法.pdf34.GBT2423.40-1997 電工電子產品環境試驗第2部分試驗方法試驗cx 未飽和高壓蒸汽恒定濕熱.pdf35.GBT2423.41-1994 電工電子產品基本環境試驗規程風壓試驗方法.pdf36.GBT2423.42-1995 工電子產品環境試驗低溫低氣壓振動(正弦)綜合試驗方法.pdf37.GBT2423.43-1995 電工電子產品環境試驗第二部分 試驗方法元件、設備和其他產品在沖擊,碰撞,振動,和穩態加速度,等動力學試驗中的安裝要求和導則.pdf38.GBT2423.44-1995 電工電子產品環境試驗第二部分 試驗方法試驗eg 撞擊彈簧錘.pdf39.GBT2423.45-1997 電工電子產品環境試驗第2部分:試驗方法試驗zabdm:氣候順序.pdf40.GBT2423.46-1997 電工電子產品環境試驗第2部分:試驗方法試驗ef:撞擊擺錘.pdf41.GBT2423.47-1997 電工電子產品環境試驗第2部分 試驗方法試驗fg 聲振.pdf42.GBT2423.48-1997 電工電子產品環境試驗第2部分 試驗方法試驗ff 振動--時間歷程法.pdf43.GBT2423.49-1997 電工電子產品環境試驗第2部分 試驗方法試驗fe 振動--正弦拍頻法.pdf44.GBT2423.50-1999 電工電子產品環境試驗第2部分 試驗方法試驗cy 恒定濕熱主要用于元件的加速試驗.pdf45.GBT2423.51-2000 電工電子產品環境試驗第2部分 試驗方法試驗ke 流動混合氣體腐蝕試驗.pdf46.電子產品老化相關標準資料

    標簽: 網站

    上傳時間: 2013-04-15

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  • 電子產品老化相關資料及標準合集

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    上傳時間: 2013-06-08

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