為了滿足對(duì)隨機(jī)數(shù)性能有一定要求的系統(tǒng)能夠?qū)崟r(shí)檢測(cè)隨機(jī)數(shù)性能的需求，提出了一種基于FPGA的隨機(jī)數(shù)性能檢測(cè)設(shè)計(jì)方案。根據(jù)NIST的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，采用基于統(tǒng)計(jì)的方法，在FPGA內(nèi)部實(shí)現(xiàn)了對(duì)隨機(jī)序列的頻率測(cè)試、游程測(cè)試、最大游程測(cè)試、離散傅里葉變換測(cè)試和二元矩陣秩測(cè)試。與現(xiàn)在常用的隨機(jī)數(shù)性能測(cè)試軟件相比，該設(shè)計(jì)方案，能靈活嵌入到需要使用隨機(jī)數(shù)的系統(tǒng)中，實(shí)現(xiàn)對(duì)隨機(jī)性能的實(shí)時(shí)檢測(cè)。實(shí)際應(yīng)用表明，該設(shè)計(jì)具有使用靈活、測(cè)試準(zhǔn)確、實(shí)時(shí)輸出結(jié)果的特點(diǎn)，達(dá)到了設(shè)計(jì)要求。
標(biāo)簽：
FPGA
隨機(jī)數(shù)
性能檢測(cè)
上傳時(shí)間：
2013-11-13
上傳用戶：lliuhhui
