這篇文章主要介紹ARM JTAG調(diào)試的基本原理。基本的內(nèi)容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介紹，在此基礎(chǔ)上，結(jié)合ARM7TDMI詳細(xì)介紹了的JTAG調(diào)試原理。
這篇文章主要是總結(jié)了前段時間的一些心得體會，希望對想了解ARM JTAG調(diào)試的網(wǎng)友們有所幫助。我個人對ARM JTAG的理解還不是很透徹，在文章中，難免會有偏失和不準(zhǔn)確的地方，希望精通JTAG調(diào)試原理的大俠們不要拍磚，有什么問題提出來，我一定盡力糾正。同時也歡迎對ARM JTAG調(diào)試感興趣的朋友們一起交流學(xué)習(xí)。
標(biāo)簽：
BOUNDARY-SCAN
ARCHITECTURE
ACCESS
JTAG
上傳時間：
2016-06-22
上傳用戶：kikye
