儀器源碼->基MSP430 OPEN/SHORT C代碼,已成功用于工業(yè)自動(dòng)控制
本儀器適應(yīng)于各種邦定IC電路測(cè)試，針對(duì)邦定電路密集，芯片體積小不能用目檢法判斷，用常規(guī)儀器也難以檢測(cè)的特點(diǎn)。我們的OPEN/SHORT專(zhuān)業(yè)測(cè)試儀能迅速檢測(cè)邦定IC的連線是否正常，利用IC芯片本身特點(diǎn)對(duì)各引腳進(jìn)行開(kāi)路與短路測(cè)試，正確判斷邦線中每條線路的開(kāi)路、短路以及芯片本身和外圍器件損壞等現(xiàn)象
標(biāo)簽：
SHORT
OPEN
MSP
430
上傳時(shí)間：
2013-12-17
上傳用戶：璇珠官人
