linux 中斷和設備驅動 本章介紹L i n u x內核是如何維護它支持的文件系統中的文件的，我們先介紹 V F S ( Vi r t u a lFile System，虛擬文件系統)，再解釋一下L i n u x內核的真實文件系統是如何得到支持的。L i n u x的一個最重要特點就是它支持許多不同的文件系統。這使 L i n u x非常靈活，能夠與許多其他的操作系統共存。在寫這本書的時候， L i n u x共支持1 5種文件系統： e x t、 e x t 2、x i a、 m i n i x、 u m s d o s、 msdos 、v f a t、 p r o c、 s m b、 n c p、 i s o 9 6 6 0、 s y s v、 h p f s、 a ffs 和u f s。無疑隨著時間的推移，L i n u x支持的文件系統數還會增加。
上傳時間： 2013-11-13
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P C B 可測性設計布線規則之建議― ― 從源頭改善可測率PCB 設計除需考慮功能性與安全性等要求外，亦需考慮可生產與可測試。這里提供可測性設計建議供設計布線工程師參考。1. 每一個銅箔電路支點，至少需要一個可測試點。如無對應的測試點，將可導致與之相關的開短路不可檢出，并且與之相連的零件會因無測試點而不可測。2. 雙面治具會增加制作成本，且上針板的測試針定位準確度差。所以Layout 時應通過Via Hole 盡可能將測試點放置于同一面。這樣就只要做單面治具即可。3. 測試選點優先級：A.測墊(Test Pad) B.通孔(Through Hole) C.零件腳(Component Lead) D.貫穿孔(Via Hole)(未Mask)。而對于零件腳，應以AI 零件腳及其它較細較短腳為優先，較粗或較長的引腳接觸性誤判多。4. PCB 厚度至少要62mil(1.35mm)，厚度少于此值之PCB 容易板彎變形，影響測點精準度，制作治具需特殊處理。5. 避免將測點置于SMT 之PAD 上，因SMT 零件會偏移，故不可靠，且易傷及零件。6. 避免使用過長零件腳(>170mil(4.3mm))或過大的孔(直徑>1.5mm)為測點。7. 對于電池(Battery)最好預留Jumper，在ICT 測試時能有效隔離電池的影響。8. 定位孔要求：(a) 定位孔(Tooling Hole)直徑最好為125mil(3.175mm)及其以上。(b) 每一片PCB 須有2 個定位孔和一個防呆孔(也可說成定位孔,用以預防將PCB反放而導致機器壓破板)，且孔內不能沾錫。(c) 選擇以對角線，距離最遠之2 孔為定位孔。(d) 各定位孔(含防呆孔)不應設計成中心對稱,即PCB 旋轉180 度角后仍能放入PCB,這樣,作業員易于反放而致機器壓破板)9. 測試點要求：(e) 兩測點或測點與預鉆孔之中心距不得小于50mil(1.27mm)，否則有一測點無法植針。以大于100mil(2.54mm)為佳，其次是75mil(1.905mm)。(f) 測點應離其附近零件(位于同一面者)至少100mil，如為高于3mm 零件，則應至少間距120mil，方便治具制作。(g) 測點應平均分布于PCB 表面，避免局部密度過高，影響治具測試時測試針壓力平衡。(h) 測點直徑最好能不小于35mil(0.9mm)，如在上針板，則最好不小于40mil(1.00mm)，圓形、正方形均可。小于0.030”(30mil)之測點需額外加工，以導正目標。(i) 測點的Pad 及Via 不應有防焊漆(Solder Mask)。(j) 測點應離板邊或折邊至少100mil。(k) 錫點被實踐證實是最好的測試探針接觸點。因為錫的氧化物較輕且容易刺穿。以錫點作測試點，因接觸不良導致誤判的機會極少且可延長探針使用壽命。錫點尤其以PCB 光板制作時的噴錫點最佳。PCB 裸銅測點，高溫后已氧化，且其硬度高，所以探針接觸電阻變化而致測試誤判率很高。如果裸銅測點在SMT 時加上錫膏再經回流焊固化為錫點，雖可大幅改善，但因助焊劑或吃錫不完全的緣故，仍會出現較多的接觸誤判。
上傳時間： 2014-01-14
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在高速數字電路飛速發展的今天，信號的頻率不斷提高, 信號完整性設計在P C B設計中顯得日益重要。其中由于傳輸線效應所引起的信號反射問題是信號完整性的一個重要方面。本文研究分析了高速PCB 設計中的反射問題的產生原因，并利用HyperLynx 軟件進行了仿真，最后提出了相應的解決方法。
上傳時間： 2013-12-18
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一、臺達變頻器的超級密碼 -B系列的 ：57522 -H系列的：33582 S1系列變頻的萬能密碼：575222、 二、歐瑞變頻器(也就是之前的惠豐變頻器)超級密碼是： 18881500-G 1500-P 1000-G 200-G的都是通用的。 三、爍普變頻高級菜單P301輸入321A000輸入11,刷新程序； P301輸入321A000輸入9,進菜單E001,輸入機器G； PE002額定電壓，E003額定電流，E004電壓校正，E005不動，E006電流校正。 四、普傳PI2000刷新設定方法：
上傳時間： 2013-11-11
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1.能實現不同的個數的矩陣連乘. 2.最后矩陣大小是8X8. 3是最優的矩陣相乘. 描 述：給定n 個矩陣｛A1, A2,...,An｝，其中Ai與Ai+1是可乘的，i=1，2…，n-1。考察這n個矩陣的連乘積A1A2...An。矩陣A 和B 可乘的條件是矩陣A的列數等于矩陣B 的行數。若A 是一個p x q矩陣，B是一個q * r矩陣，則其乘積C=AB是一個p * r矩陣,需要pqr次數乘。
上傳時間： 2013-12-04
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光學設計軟件zemax源碼： This DLL models an nular aspheric surface as described in: "Annular surfaces in annular field systems" By Jose M. Sasian Opt. eng. 36 (12) P 3401-3401 December 1997 This surface is essentially an odd aspheric surface with an offset in the aspheric terms. The sag is given by: Z = (c*r*r) / (1+(1-((1+k)*c*c*r*r))^ 1/2 ) + a*(r-q)^2 + b*(r-q)^3 + c*(r-q)^4 + ... Note the terms a, b, c, ... have units of length to the -1, -2, -3, ... power.
標簽： described aspheric surfaces Annular
上傳時間： 2014-01-08
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crc任意位生成多項式 任意位運算 自適應算法 循環冗余校驗碼(CRC，Cyclic Redundancy Code)是采用多項式的 編碼方式，這種方法把要發送的數據看成是一個多項式的系數 ，數據為bn-1bn-2…b1b0 (其中為0或1)，則其對應的多項式為： bn-1Xn-1+bn-2Xn-2+…+b１X+b０ 例如：數據“10010101”可以寫為多項式 X７+X４+X２+1。 循環冗余校驗CRC 循環冗余校驗方法的原理如下： (1) 設要發送的數據對應的多項式為P(x)。 (2) 發送方和接收方約定一個生成多項式G(x)，設該生成多項式 的最高次冪為r。 (3) 在數據塊的末尾添加r個0，則其相對應的多項式為M(x)=XrP(x) 。(左移r位) (4) 用M(x)除以G(x)，獲得商Q(x)和余式R(x)，則 M(x)=Q(x) ×G(x)+R(x)。 (5) 令T(x)=M(x)+R(x)，采用模2運算，T(x)所對應的數據是在原數 據塊的末尾加上余式所對應的數據得到的。 (6) 發送T(x)所對應的數據。 (7) 設接收端接收到的數據對應的多項式為T’(x)，將T’(x)除以G(x) ，若余式為0，則認為沒有錯誤，否則認為有錯。
上傳時間： 2014-11-28
上傳用戶：宋桃子
C# BigInteger class. BigInteger.cs is a csharp program. It is the BIgInteger class. It has methods: abs() , FermatLittleTest(int confidence) ,gcd(BigInteger bi) , genCoPrime(int bits, Random rand) , genPseudoPrime(int bits, int confidence, Random rand) , genRandomBits(int bits, Random rand) , isProbablePrime(int confidence) , isProbablePrime() , Jacobi(BigInteger a, BigInteger b) , LucasSequence(BigInteger P, BigInteger Q, BigInteger k, BigInteger n) ,max(BigInteger bi) , min(BigInteger bi) , modInverse(BigInteger modulus) , RabinMillerTest(int confidence) ,
標簽： BigInteger class BIgInteger program
上傳時間： 2013-12-23
上傳用戶：ynzfm
假定已經有許多應用采用了程序1 - 1 5中所定義的C u r r e n c y類，現在我們想要對C u r r e n c y類 的描述進行修改，使其應用頻率最高的兩個函數A d d和I n c r e m e n t可以運行得更快，從而提高應 用程序的執行速度。由于用戶僅能通過p u b l i c部分所提供的接口與C u r r e n c y類進行交互，
上傳時間： 2015-10-11
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crc任意位生成多項式 任意位運算 自適應算法 循環冗余校驗碼(CRC，Cyclic Redundancy Code)是采用多項式的 編碼方式，這種方法把要發送的數據看成是一個多項式的系數 ，數據為bn-1bn-2…b1b0 (其中為0或1)，則其對應的多項式為： bn-1Xn-1+bn-2Xn-2+…+b１X+b０ 例如：數據“10010101”可以寫為多項式 X７+X４+X２+1。 循環冗余校驗CRC 循環冗余校驗方法的原理如下： (1) 設要發送的數據對應的多項式為P(x)。 (2) 發送方和接收方約定一個生成多項式G(x)，設該生成多項式 的最高次冪為r。 (3) 在數據塊的末尾添加r個0，則其相對應的多項式為M(x)=XrP(x) 。(左移r位) (4) 用M(x)除以G(x)，獲得商Q(x)和余式R(x)，則 M(x)=Q(x) ×G(x)+R(x)。 (5) 令T(x)=M(x)+R(x)，采用模2運算，T(x)所對應的數據是在原數 據塊的末尾加上余式所對應的數據得到的。 (6) 發送T(x)所對應的數據。 (7) 設接收端接收到的數據對應的多項式為T’(x)，將T’(x)除以G(x) ，若余式為0，則認為沒有錯誤，否則認為有錯
上傳時間： 2014-01-16
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