基于FPGA的ADC并行測試方法研究
高性能ADC產品的出現(xiàn),給混合信號測試領域帶來前所未有的挑戰(zhàn)。并行ADC測試方案實現(xiàn)了多個ADC測試過程的并行化和實時化,減少了單個ADC的平均測試時間,從而降低ADC測試成本。本文實現(xiàn)了基于FPGA的ADC并行測試方法。在閱讀相關文獻的基礎上,總結了常用ADC參數(shù)測試方法和測試流程。使用FPGA實...
高性能ADC產品的出現(xiàn),給混合信號測試領域帶來前所未有的挑戰(zhàn)。并行ADC測試方案實現(xiàn)了多個ADC測試過程的并行化和實時化,減少了單個ADC的平均測試時間,從而降低ADC測試成本。本文實現(xiàn)了基于FPGA的ADC并行測試方法。在閱讀相關文獻的基礎上,總結了常用ADC參數(shù)測試方法和測試流程。使用FPGA實...
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