?? SELF-TEST技術(shù)資料

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可測試性設(shè)計(Design-For-Testability,DFT)已經(jīng)成為芯片設(shè)計中不可或缺的重要組成部分。它通過在芯片的邏輯設(shè)計中加入測試邏輯提高芯片的可測試性。在高性能通用 CPU 的設(shè)計中,可測試性設(shè)計技術(shù)得到了廣泛的應(yīng)用。本文結(jié)合幾款流行的 CPU,綜述了可應(yīng)用于通用 CPU 等高性能芯片...

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陀螺儀硬件自檢:相關(guān)方法陀螺儀允許用戶測試機(jī)械和電氣部分。自檢的代碼在 InvenSense提供的 MotionApps?軟件里面。如果沒有使用 MotionApps?軟件,請參閱下節(jié)(Obtaining the Gyroscope Factory Trim (FT) Value)。當(dāng)自檢啟動,片上...

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