可測試性設計（Design-For-Testability，DFT）已經成為芯片設計中不可或缺的重要組成部分。它通過在
芯片的邏輯設計中加入測試邏輯提高芯片的可測試性。在高性能通用 CPU 的設計中，可測試性設計技術得到了廣泛
的應用。本文結合幾款流行的 CPU，綜述了可應用于通用 CPU 等高性能芯片設計中的各種可測試性方法，包括掃描設
計（Scan Design），內建自測試（Built-In Self-Test，BIST），測試點插入（Test Point Insertion），與 IEEE 1149.1
標準兼容的邊界掃描設計（Boundary Scan Design，BSD）等技術。
