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Tms-S

  • 臺灣柏彰電源自動測試系統用戶幫助手冊(HL-S-07.12.11)

    臺灣柏彰電源自動測試系統用戶幫助手冊(HL-S-07.12.11)

    標簽: HL-S 07 12 11

    上傳時間: 2013-10-20

    上傳用戶:cuibaigao

  • 基于2ED300C17-S的IGBT驅動電路研究

    在大功率弧焊電源設計中,IGBT 已成為主流的可控功率開關器件。IGBT 驅動電路作為功率電路和控制電路之間的接口,應具備驅動延遲小、安全隔離、IGBT 過電流/過電壓保護準確等功能。針對新型高壓大功率IGBT 驅動模塊2ED300C17-S 的過電流檢測及保護功能進行了研究,提出了與過電流保護功能相關的參數選擇原則,并進行了實驗驗證。

    標簽: IGBT 300 ED 17

    上傳時間: 2013-11-05

    上傳用戶:kaje

  • 基于ARM926EJ-S內核的低功耗ARM

    TI半導體針對工業應用推出了基于ARM926EJ-S內核的低功耗ARM9處理器AM17xx和AM18xx。其中,AM17xx 和OMAPL137在軟件和引腳上兼容;AM18xx 和OMAPL138在軟件和引腳上兼容?;诒鞠盗刑幚砥?,用戶可快速開發出具有強壯可靠操作系統、豐富用戶接口、高性能的處理能力的設備。

    標簽: ARM EJ-S 926 內核

    上傳時間: 2013-10-19

    上傳用戶:9牛10

  • 10pin jtag接口定義

    10pin jtag接口定義 表1 Rainbow Blaster 的10PIN 母頭接口定義引AS 模式 PS 模式 JTAG 模式腳 信號名 描述 信號名 描述 信號名 描述1 DCLK 時鐘信號 DCLK 時鐘信號 TCK 時鐘信號2 GND 信號地 GND 信號地 GND 信號地3 CONF_DONE 配置完畢 CONF_DONE 配置完畢 TDO 數據來自于器件4 VCC(TRGT) 目標電源 VCC(TRGT) 目標電源 VCC(TRGT) 目標電源5 nCONFIG 配置控制 nCONFIG 配置控制 TMS JTAG 狀態機控制6 nCE Cyclone 芯片使能/ /7 DATAOUT AS 數據輸出 nSTATUS 配置狀態 /8 nCS 串行配置器件芯片使能/ /9 ASDI AS 數據輸入 DATA0 數據到器件 TDI 數據到器件10 GND 信號地 GND 信號地 GND 信號地

    標簽: jtag pin 10 接口定義

    上傳時間: 2014-04-02

    上傳用戶:lina2343

  • S波段矢量陣列天線單元的設計

    設計了一個工作在S波段矢量陣列的天線單元,利用HFSS軟件進行優化和仿真。實測結果表明,該天線在E面和H面的交叉極化電平分別小于-26 dB和-23 dB,兩個端口之間的隔離度大于32 dB。該數據滿足組成矢量陣列的要求。

    標簽: S波段 矢量陣列天線

    上傳時間: 2013-11-17

    上傳用戶:朗朗乾坤

  • 基于T-S模糊模型的電液比例位置控制系統研究

    針對電液比例位置控制系統由于非線性和死區特性在實際控制中難以得到滿意的控制效果的現狀,本研究采用T-S模糊控制理論的原理設計了T-S模糊控制器對電液比例位置控制系統進行控制。并以Matlab為平臺進行了仿真實驗。仿真結果表明采用T-S模糊控制的電液比例位置控制系統具有較好的控制效果

    標簽: T-S 模糊模型 位置控制 電液比例

    上傳時間: 2013-11-13

    上傳用戶:daoxiang126

  • 中文版《天線理論與設計》R.S.Elliott 著 王茂光等譯

    中文版《天線理論與設計》R.S.Elliott 著 王茂光等譯

    標簽: Elliott 天線

    上傳時間: 2013-11-23

    上傳用戶:zwei41

  • 差分電路中單端及混合模式S-參數的使用

    Single-Ended and Differential S-Parameters Differential circuits have been important incommunication systems for many years. In the past,differential communication circuits operated at lowfrequencies, where they could be designed andanalyzed using lumped-element models andtechniques. With the frequency of operationincreasing beyond 1GHz, and above 1Gbps fordigital communications, this lumped-elementapproach is no longer valid, because the physicalsize of the circuit approaches the size of awavelength.Distributed models and analysis techniques are nowused instead of lumped-element techniques.Scattering parameters, or S-parameters, have beendeveloped for this purpose [1]. These S-parametersare defined for single-ended networks. S-parameterscan be used to describe differential networks, but astrict definition was not developed until Bockelmanand others addressed this issue [2]. Bockelman’swork also included a study on how to adapt single-ended S-parameters for use with differential circuits[2]. This adaptation, called “mixed-mode S-parameters,” addresses differential and common-mode operation, as well as the conversion betweenthe two modes of operation.This application note will explain the use of single-ended and mixed-mode S-parameters, and the basicconcepts of microwave measurement calibration.

    標簽: 差分電路 單端 模式

    上傳時間: 2014-03-25

    上傳用戶:yyyyyyyyyy

  • 用二端口S參數來表征差分電路的特性

    用二端口S-參數來表征差分電路的特性■ Sam Belkin差分電路結構因其更好的增益,二階線性度,突出的抗雜散響應以及抗躁聲性能而越來越多地被人們采用。這種電路結構通常需要一個與單端電路相連接的界面,而這個界面常常是采用“巴倫”器件(Balun),這種巴倫器件提供了平衡結構-到-不平衡結構的轉換功能。要通過直接測量的方式來表征平衡電路特性的話,通常需要使用昂貴的四端口矢量網絡分析儀。射頻應用工程師還需要確定幅值和相位的不平衡是如何影響差分電路性能的。遺憾的是,在射頻技術文獻中,很難找到一種能表征電路特性以及衡量不平衡結構所產生影響的好的評估方法。這篇文章的目的就是要幫助射頻應用工程師們通過使用常規的單端二端口矢量網絡分析儀來準確可靠地解決作為他們日常工作的差分電路特性的測量問題。本文介紹了一些用來表征差分電路特性的實用和有效的方法, 特別是差分電壓,共模抑制(CMRR),插入損耗以及基于二端口S-參數的差分阻抗。差分和共模信號在差分電路中有兩種主要的信號類型:差分模式或差分電壓Vdiff 和共模電壓Vcm(見圖2)。它們各自的定義如下[1]:• 差分信號是施加在平衡的3 端子系統中未接地的兩個端子之上的• 共模信號是相等地施加在平衡放大器或其它差分器件的未接地的端子之上。

    標簽: 二端口 S參數 差分電路

    上傳時間: 2013-10-14

    上傳用戶:葉山豪

  • S參數的設計與應用

    Agilent AN 154 S-Parameter Design Application Note S參數的設計與應用 The need for new high-frequency, solid-state circuitdesign techniques has been recognized both by microwaveengineers and circuit designers. These engineersare being asked to design solid state circuitsthat will operate at higher and higher frequencies.The development of microwave transistors andAgilent Technologies’ network analysis instrumentationsystems that permit complete network characterizationin the microwave frequency rangehave greatly assisted these engineers in their work.The Agilent Microwave Division’s lab staff hasdeveloped a high frequency circuit design seminarto assist their counterparts in R&D labs throughoutthe world. This seminar has been presentedin a number of locations in the United States andEurope.From the experience gained in presenting this originalseminar, we have developed a four-part videotape, S-Parameter Design Seminar. While the technologyof high frequency circuit design is everchanging, the concepts upon which this technologyhas been built are relatively invariant.The content of the S-Parameter Design Seminar isas follows:

    標簽: S參數

    上傳時間: 2013-12-19

    上傳用戶:aa54

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