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adc轉(zhuǎn)(zhuǎn)換

校準(zhǔn)ADC內(nèi)部偏移的光學(xué)微控制器DS4830

Abstract: The DS4830 optical microcontroller's analog-to-digital converter (ADC) offset can change with temperature and gainselection. However, the DS4830 allows users to measure the ADC internal offset. The measured ADC offset is added to the ADCoffset register to nullify the offset error. This application note demonstrates the DS4830's ADC internal offset calibration in theapplication program.

標(biāo)簽： 4830 ADC DS 校準(zhǔn)

上傳時(shí)間： 2014-12-23

上傳用戶：萍水相逢
采用歸零法的N進(jìn)制計(jì)數(shù)器原理

計(jì)數(shù)器是一種重要的時(shí)序邏輯電路，廣泛應(yīng)用于各類數(shù)字系統(tǒng)中。介紹以集成計(jì)數(shù)器74LS161和74LS160為基礎(chǔ)，用歸零法設(shè)計(jì)N進(jìn)制計(jì)數(shù)器的原理與步驟。用此方法設(shè)計(jì)了3種36進(jìn)制計(jì)數(shù)器，并用Multisim10軟件進(jìn)行仿真。計(jì)算機(jī)仿真結(jié)果表明設(shè)計(jì)的計(jì)數(shù)器實(shí)現(xiàn)了36進(jìn)制計(jì)數(shù)的功能。基于集成計(jì)數(shù)器的N進(jìn)制計(jì)數(shù)器設(shè)計(jì)方法簡單、可行，運(yùn)用Multisim 10進(jìn)行電子電路設(shè)計(jì)和仿真具有省時(shí)、低成本、高效率的優(yōu)越性。

標(biāo)簽： 歸零法 N進(jìn)制計(jì)數(shù)器原

上傳時(shí)間： 2013-10-11

上傳用戶：gtzj
揭開∑—△ADC的神秘面紗

越柬越多的應(yīng)用例如過程控制、稱重等都需要高分辨率、高集成度和低價(jià)格的ADC。新型Σ ．△轉(zhuǎn)換技術(shù)恰好可以滿足這些要求然而，很多設(shè)計(jì)者對于這種轉(zhuǎn)換技術(shù)并不分了解，因而更愿意選用傳統(tǒng)的逐次比較ADC Σ．A轉(zhuǎn)換器中的模擬部分非常簡單(類似j 個(gè)Ibit ADC)，而數(shù)字部分要復(fù)雜得多，按照功能町劃分為數(shù)字濾波和抽取單元由于更接近r 個(gè)數(shù)字器件，Σ △ADC的制造成本非常低廉.

標(biāo)簽： ADC

上傳時(shí)間： 2013-10-24

上傳用戶：han_zh
ADC模數(shù)轉(zhuǎn)換器有效位計(jì)算

將模擬信號轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號后再進(jìn)行處理,是當(dāng)前信號處理普遍使用的方法,模數(shù)轉(zhuǎn)換器（ADC）就是將模擬信號轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號的器件,所以計(jì)算其有效轉(zhuǎn)換位數(shù)對系統(tǒng)性能評估就顯得尤為重要。文中結(jié)合項(xiàng)目工程實(shí)踐,討論了ADC有效轉(zhuǎn)換位數(shù)的兩種測試方法:噪聲測試法和信噪比測試法,并對兩種方法進(jìn)行了仿真與分析。

標(biāo)簽： ADC 模數(shù)轉(zhuǎn)換器計(jì)算

上傳時(shí)間： 2013-12-17

上傳用戶：1184599859
p-n結(jié)的隧道擊穿模型研究

在理論模型的基礎(chǔ)上探討了電子勢壘的形狀以及勢壘形狀隨外加電壓的變化, 并進(jìn)行定量計(jì)算, 得出隧穿電壓隨雜質(zhì)摻雜濃度的變化規(guī)律。所得結(jié)論與硅、鍺p-n 結(jié)實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)相吻合, 證明了所建立的理論模型在定量研究p-n 結(jié)的隧道擊穿中的合理性與實(shí)用性。該理論模型對研究一般材料或器件的隧道擊穿具有重要的借鑒意義。

標(biāo)簽： p-n 隧道擊穿模型研究

上傳時(shí)間： 2013-10-31

上傳用戶：summery
ADC需要考慮的交調(diào)失真因素

交調(diào)失真(IMD)是用于衡量放大器、增益模塊、混頻器和其他射頻元件線性度的一項(xiàng)常用指標(biāo)。二階和三階交調(diào)截點(diǎn)(IP2和IP3)是這些規(guī)格參數(shù)的品質(zhì)因素，以其為基礎(chǔ)可以計(jì)算不同信號幅度下的失真積。雖然射頻工程師們非常熟悉這些規(guī)格參數(shù)，但當(dāng)將其用于ADC時(shí)往往會產(chǎn)生一些困惑。本教程首先在ADC的框架下對交調(diào)失真進(jìn)行定義，然后指出將IP2和IP3的定義應(yīng)用于ADC時(shí)必須采取的一些預(yù)防措施。

標(biāo)簽： ADC 交調(diào)失真

上傳時(shí)間： 2014-01-07

上傳用戶：歸海惜雪
簡化精密測量的高輸入阻抗ADC

High input impedance and a wide input range are twohighly desirable features in a precision analog-to-digitalconverter, and the LTC®2449 delta-sigma ADC has both.With just a few external components, the LTC2449 formsan exceptional measurement system with very high inputimpedance and an input range that extends 300mV beyondthe supply rails.

標(biāo)簽： ADC 精密測量高輸入阻抗

上傳時(shí)間： 2013-11-02

上傳用戶：ywcftc277
DN426 6通道工業(yè)監(jiān)控應(yīng)用的SAR ADC

The 14-bit LTC2351-14 is a 1.5Msps, low power SARADC with six simultaneously sampled differential inputchannels. It operates from a single 3V supply and featuressix independent sample-and-hold amplifi ers and a singleADC. The single ADC with multiple S/HAs enables excellentrange match (1mV) between channels and channel-tochannelskew (200ps).

標(biāo)簽： 426 ADC SAR DN

上傳時(shí)間： 2014-12-23

上傳用戶：天誠24
將您的微控制器ADC升級至真正的12位性能

Many 8-bit and 16-bit microcontrollers feature 10-bitinternal ADCs. A few include 12-bit ADCs, but these oftenhave poor or nonexistent AC specifi cations, and certainlylack the performance to meet the needs of an increasingnumber of applications. The LTC®2366 and its slowerspeed versions offer a high performance alternative, asshown in the AC specifi cations in Table 1. Compare theseguaranteed specifi cations with the ADC built into yourcurrent microcontroller.

標(biāo)簽： ADC 微控制器正性能

上傳時(shí)間： 2013-10-26

上傳用戶：jackandlee
STM32F10xxx設(shè)備中如何得到高精度ADC

The STM32F10xxx microcontroller family embeds up to three advanced 12-bit ADCs (depending on the device) with a conversion time down to 1 μs. A self-calibration feature is provided to enhance ADC accuracy versus environmental condition changes.

標(biāo)簽： STM 32F F10 ADC

上傳時(shí)間： 2014-12-23

上傳用戶：eastimage