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electrom

  • It was proposed that perfect invisibility cloaks can be constructed for hiding objects from electrom

    It was proposed that perfect invisibility cloaks can be constructed for hiding objects from electromagnetic illumination (Pendry et al., Science 312, p. 1780). The cylindrical cloaks experimentally demonstrated (Schurig et al., Science 314, p. 997) and theoretically proposed (Cai et al., Nat. Photon. 1, p. 224) have however simplified material parameters in order to facilitate easier realization as well as to avoid infinities in optical constants. Here we show that the cylindrical cloaks with simplified material parameters inherently allow the zeroth-order cylindrical wave to pass through the cloak as if the cloak is made of a homogeneous isotropic medium, and thus visible. To all high-order cylindrical waves, our numerical simulation suggests that the simplified cloak inherits some properties of the ideal cloak, but finite scatterings exist.

    標簽: invisibility constructed proposed electrom

    上傳時間: 2013-12-18

    上傳用戶:13215175592

  • IGBT失效分析技術

    近年來,對器件的失效分析已經成為電力電子領域中一個研究熱點。本論文基于現代電力電子裝置中應用最廣的IGBT器件,利用靜態測試儀3716,SEM(Scanning electrom Microscope,掃描電子顯微鏡)、EDX(Energy Dispersive X-Ray Spectroscopy、能量色散x射線光譜儀)、FIB(Focused lon beam,聚焦高子束)切割、TEM(Thermal Emmision Microscope,高精度熱成像分析儀)等多種分析手段對模塊應用當中失效的1GBT芯片進行電特性分析、芯片解剖并完成失效分析,并基于相應的失效模式提出了封裝改進方案。1,對于柵極失效的情況,本論文先經過電特性測試完成預分析,并利用THEMOS分析出柵極漏電流通路,找到最小點并進行失效原因分析,針對相應原因提出改進方案。2,針對開通與關斷瞬態過電流失效,采用研磨、劃片等手段進行芯片的解剖。并用SEM與EDX對芯片損傷程度進行評估分析,以文獻為參考進行失效原因分析,利用saber仿真進行失效原因驗證。3,針對通態過電流失效模式,采用解剖分析來評估損傷情況,探究失效原因,并采用電感鉗位電路進行實驗驗證。4,針對過電壓失效模式,采用芯片解剖方式來分析失效點以及失效情況,基于文獻歸納并總結出傳統失效原因,并通過大量實驗得出基于封裝的失效原因,最后采用saber仿真加以驗證。

    標簽: igbt

    上傳時間: 2022-06-21

    上傳用戶:1208020161

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