uC_OSII移植源碼lumit_Ucosii_110.src.zip
標簽： lumit_Ucosii uC_OSII 110 src
上傳時間： 2014-01-03
上傳用戶：氣溫達上千萬的
vhdl 測試向量含測試向量（Test Bench）和波形產生：VHDL實例---相應加法器的測試向量（test bench).txt
標簽： Bench bench vhdl Test
上傳時間： 2015-05-13
上傳用戶：天涯
C++ Base64編碼/解碼源代碼 inline int Base64Encode(char * base64code, const char * src, int src_len = 0) inline int Base64Decode(char * buf, const char * base64code, int src_len = 0) 以上兩個函數內聯定義在base64.h中，使用時include "base64.h" 即可，編碼后的長度一般比原文多占1/3的存儲空間，為了效率，程序并沒有檢查目標存儲區(qū)是否溢出，請保證有足夠的存儲空間。
標簽： Base char int 64
上傳時間： 2015-05-14
上傳用戶：yan2267246
oracle forms developer test
標簽： developer oracle forms test
上傳時間： 2014-01-12
上傳用戶：manlian
test RF module for 800MHZ frequency
標簽： frequency module test 800
上傳時間： 2014-10-13
上傳用戶：上善若水
參考了JAVA方面MIS系統開發(fā)的書籍做的一個 電力收費的系統,包里面是可以直接運行的JAR文件了...SRC是源文件可一些需要的包...數據庫是用的MSQLserver2000,"java程序數據源.BAK"如果安裝不到SQLserver就按照在SSQL2000里面的提示做,或者在G盤下安裝(我原來的數據庫是安裝在G盤的)一個數據庫,再在里面安裝(恢復)這個備份
標簽： MSQLserver JAVA 2000 java
上傳時間： 2015-05-16
上傳用戶：zhouli
這篇文章主要介紹ARM JTAG調試的基本原理。基本的內容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介紹，在此基礎上，結合ARM7TDMI詳細介紹了的JTAG調試原理。
標簽： BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE ACCESS JTAG
上傳時間： 2015-05-20
上傳用戶：caozhizhi
用VB編寫的RS232串口TEST程序。
標簽： TEST 232 RS 編寫
上傳時間： 2013-12-31
上傳用戶：tianyi223
MCU：ATMEGA8515 Frequence: 16M 描述：利用已有CAN TEST V1.0電路板進行調試, 可靠性測試已通過，并發(fā)現8515外部中斷不穩(wěn)定 的原因是沒有在INT0腳加上拉電阻，加上后已能 夠穩(wěn)定地運行 調試過程中發(fā)現SJA1000的首地址設置有誤，改過 后，當CAN發(fā)送數據時，程序能進入中斷了，但發(fā)現 中斷是由出錯報警中斷引起的，估計與波特率設置 有關。 通過修改CDR的參數，以及更換16M晶振，現在已能 正常地收發(fā)送數據了
標簽： Frequence ATMEGA 8515 TEST
上傳時間： 2015-05-26
上傳用戶：agent
凌陽實驗箱測試程序 包括自檢程序```test````usb
標簽： test usb 凌陽 實驗箱
上傳時間： 2015-05-30
上傳用戶：gxf2016
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