隨著數(shù)字信號(hào)處理技術(shù)和數(shù)字電路工作速度的提高，以及對(duì)于系統(tǒng)靈敏度等要求的不斷提高，對(duì)于高速、高精度的ADC、DAC的指標(biāo)都提出了很高的要求。比如在移動(dòng)通信、圖像采集等應(yīng)用領(lǐng)域中，一方面要求ADC有比較高的采樣率以采集高帶寬的輸入信號(hào)，另一方面又要有比較高的位數(shù)以分辨細(xì)微的變化。因此，保證ADC/DAC在高速采樣情況下的精度是一個(gè)很關(guān)鍵的問(wèn)題。ADC/DAC芯片的性能測(cè)試是由芯片生產(chǎn)廠家完成的，需要借助昂貴的半導(dǎo)體測(cè)試儀器，但是對(duì)于板級(jí)和系統(tǒng)級(jí)的設(shè)計(jì)人員來(lái)說(shuō)，更重要的是如何驗(yàn)證芯片在板級(jí)或系統(tǒng)級(jí)應(yīng)用上的真正性能指標(biāo)。ADC的主要參數(shù)ADC的主要指標(biāo)分為靜態(tài)指標(biāo)和動(dòng)態(tài)指標(biāo)2大類(lèi)。靜態(tài)指標(biāo)主要有：Differ ential Non-li nearity（DNL）ntegral Non-li nearity（INL）Of fset Error ull Scale Gain Error動(dòng)態(tài)指標(biāo)主要有：
標(biāo)簽： ADC DAC
上傳時(shí)間： 2022-06-19
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標(biāo)簽： 傳感器 檢測(cè)技術(shù)
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