交流電壓，電流轉(zhuǎn)換器 特點(diǎn)： 精確度0.25%滿刻度(RMS) 多種輸入,輸出選擇 輸入與輸出絕緣耐壓2仟伏特/1分鐘 沖擊電壓測試5仟伏特(1.2x50us) (IEC255-4,ANSI C37.90a/1974) 突波電壓測試2.5仟伏特(0.25ms/1MHz) (IEC255-4) 尺寸小，穩(wěn)定性高 2:主要規(guī)格 精確度:0.25%F.S.(RMS) (23 ±5℃) 輸入負(fù)載: <0.2VA(voltage) <0.2VA(current) 最大過載能力: Current related input:3 x rated continuous 10 x rated 30 sec. ,25 x rated 3sec. 50 x rated 1sec. Voltage related input:maximum 2x rated continuous 輸出反應(yīng)時(shí)間: <250ms (0~90%) 輸出負(fù)載能力: <10mA for voltage mode <10V for current mode 輸出漣波: <0.1% F.S. 歸零調(diào)整范圍: 0~±5% F.S. 最大值調(diào)整范圍: 0~±10% F.S. 溫度系數(shù): 100ppm/℃ (0~50℃) 隔離特性: Input/Output/Power/Case 絕緣抗阻: >100Mohm with 500V DC 絕緣耐壓能力: 2KVac/1 min. (input/output/power) 行動(dòng)測試: ANSI C37.90a/1974,DIN-IEC 255-4 impulse voltage 5KV (1.2 x 50us) 突波測試: 2.5KV-0.25ms/1MHz 使用環(huán)境條件: -20~60℃(20 to 90% RH non-condensed) 存放環(huán)境條件: -30~70℃(20 to 90% RH non-condensed) CE認(rèn)證: EN 55022:1998/A1:2000 Class A EN 61000-3-2:2000 EN 61000-3-3:1995/A1:2001 EN 55024:1998/A1:2001
標(biāo)簽： 交流電壓 電流轉(zhuǎn)換器
上傳時(shí)間： 2013-11-09
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使用時(shí)鐘PLL的源同步系統(tǒng)時(shí)序分析一）回顧源同步時(shí)序計(jì)算Setup Margin = Min Clock Etch Delay – Max Data Etch Delay – Max Delay Skew – Setup TimeHold Margin = Min Data Etch Delay – Max Clock Etch Delay + Min Delay Skew + Data Rate – Hold Time下面解釋以上公式中各參數(shù)的意義：Etch Delay：與常說的飛行時(shí)間(Flight Time)意義相同，其值并不是從仿真直接得到，而是通過仿真結(jié)果的后處理得來。請看下面圖示：圖一為實(shí)際電路，激勵(lì)源從輸出端，經(jīng)過互連到達(dá)接收端，傳輸延時(shí)如圖示Rmin，Rmax，F(xiàn)min，F(xiàn)max。圖二為對應(yīng)輸出端的測試負(fù)載電路，測試負(fù)載延時(shí)如圖示Rising，F(xiàn)alling。通過這兩組值就可以計(jì)算得到Etch Delay 的最大和最小值。
標(biāo)簽： PLL 時(shí)鐘 同步系統(tǒng) 時(shí)序分析
上傳時(shí)間： 2013-11-05
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模塊電源的電氣性能是通過一系列測試來呈現(xiàn)的，下列為一般的功能性測試項(xiàng)目，詳細(xì)說明如下： 電源調(diào)整率(Line Regulation) 負(fù)載調(diào)整率(Load Regulation) 綜合調(diào)整率(Conmine Regulation) 輸出漣波及雜訊(Ripple & Noise) 輸入功率及效率(Input Power, Efficiency) 動(dòng)態(tài)負(fù)載或暫態(tài)負(fù)載(Dynamic or Transient Response) 起動(dòng)(Set-Up)及保持(Hold-Up)時(shí)間 常規(guī)功能(Functions)測試 1. 電源調(diào)整率 電源調(diào)整率的定義為電源供應(yīng)器于輸入電壓變化時(shí)提供其穩(wěn)定輸出電壓的能力。測試步驟如下：于待測電源供應(yīng)器以正常輸入電壓及負(fù)載狀況下熱機(jī)穩(wěn)定后，分別于低輸入電壓(Min)，正常輸入電壓(Normal)，及高輸入電壓(Max)下測量并記錄其輸出電壓值。 電源調(diào)整率通常以一正常之固定負(fù)載(Nominal Load)下，由輸入電壓變化所造成其輸出電壓偏差率(deviation)的百分比，如下列公式所示： [Vo(max)-Vo(min)] / Vo(normal) 2. 負(fù)載調(diào)整率 負(fù)載調(diào)整率的定義為開關(guān)電源于輸出負(fù)載電流變化時(shí)，提供其穩(wěn)定輸出電壓的能力。測試步驟如下：于待測電源供應(yīng)器以正常輸入電壓及負(fù)載狀況下熱機(jī)穩(wěn)定后，測量正常負(fù)載下之輸出電壓值，再分別于輕載(Min)、重載(Max)負(fù)載下，測量并記錄其輸出電壓值(分別為Vo(max)與Vo(min))，負(fù)載調(diào)整率通常以正常之固定輸入電壓下，由負(fù)載電流變化所造成其輸出電壓偏差率的百分比，如下列公式所示： [Vo(max)-Vo(min)] / Vo(normal) 3. 綜合調(diào)整率 綜合調(diào)整率的定義為電源供應(yīng)器于輸入電壓與輸出負(fù)載電流變化時(shí)，提供其穩(wěn)定輸出電壓的能力。這是電源調(diào)整率與負(fù)載調(diào)整率的綜合，此項(xiàng)測試系為上述電源調(diào)整率與負(fù)載調(diào)整率的綜合，可提供對電源供應(yīng)器于改變輸入電壓與負(fù)載狀況下更正確的性能驗(yàn)證。 綜合調(diào)整率用下列方式表示：于輸入電壓與輸出負(fù)載電流變化下，其輸出電壓之偏差量須于規(guī)定之上下限電壓范圍內(nèi)(即輸出電壓之上下限絕對值以內(nèi))或某一百分比界限內(nèi)。 4. 輸出雜訊 輸出雜訊(PARD)系指于輸入電壓與輸出負(fù)載電流均不變的情況下，其平均直流輸出電壓上的周期性與隨機(jī)性偏差量的電壓值。輸出雜訊是表示在經(jīng)過穩(wěn)壓及濾波后的直流輸出電壓上所有不需要的交流和噪聲部份(包含低頻之50/60Hz電源倍頻信號(hào)、高于20 KHz之高頻切換信號(hào)及其諧波，再與其它之隨機(jī)性信號(hào)所組成))，通常以mVp-p峰對峰值電壓為單位來表示。 一般的開關(guān)電源的規(guī)格均以輸出直流輸出電壓的1%以內(nèi)為輸出雜訊之規(guī)格，其頻寬為20Hz到20MHz。電源實(shí)際工作時(shí)最惡劣的狀況(如輸出負(fù)載電流最大、輸入電源電壓最低等)，若電源供應(yīng)器在惡劣環(huán)境狀況下，其輸出直流電壓加上雜訊后之輸出瞬時(shí)電壓，仍能夠維持穩(wěn)定的輸出電壓不超過輸出高低電壓界限情形，否則將可能會(huì)導(dǎo)致電源電壓超過或低于邏輯電路(如TTL電路)之承受電源電壓而誤動(dòng)作，進(jìn)一步造成死機(jī)現(xiàn)象。 同時(shí)測量電路必須有良好的隔離處理及阻抗匹配，為避免導(dǎo)線上產(chǎn)生不必要的干擾、振鈴和駐波，一般都采用雙同軸電纜并以50Ω于其端點(diǎn)上，并使用差動(dòng)式量測方法(可避免地回路之雜訊電流)，來獲得正確的測量結(jié)果。 5. 輸入功率與效率 電源供應(yīng)器的輸入功率之定義為以下之公式： True Power = Pav(watt) = Vrms x Arms x Power Factor 即為對一周期內(nèi)其輸入電壓與電流乘積之積分值，需注意的是Watt≠VrmsArms而是Watt=VrmsArmsxP.F.，其中P.F.為功率因素(Power Factor)，通常無功率因素校正電路電源供應(yīng)器的功率因素在0.6～0.7左右，其功率因素為1～0之間。 電源供應(yīng)器的效率之定義為為輸出直流功率之總和與輸入功率之比值。效率提供對電源供應(yīng)器正確工作的驗(yàn)證，若效率超過規(guī)定范圍，即表示設(shè)計(jì)或零件材料上有問題，效率太低時(shí)會(huì)導(dǎo)致散熱增加而影響其使用壽命。 6. 動(dòng)態(tài)負(fù)載或暫態(tài)負(fù)載 一個(gè)定電壓輸出的電源，于設(shè)計(jì)中具備反饋控制回路，能夠?qū)⑵漭敵鲭妷哼B續(xù)不斷地維持穩(wěn)定的輸出電壓。由于實(shí)際上反饋控制回路有一定的頻寬，因此限制了電源供應(yīng)器對負(fù)載電流變化時(shí)的反應(yīng)。若控制回路輸入與輸出之相移于增益(Unity Gain)為1時(shí)，超過180度，則電源供應(yīng)器之輸出便會(huì)呈現(xiàn)不穩(wěn)定、失控或振蕩之現(xiàn)象。實(shí)際上，電源供應(yīng)器工作時(shí)的負(fù)載電流也是動(dòng)態(tài)變化的，而不是始終維持不變(例如硬盤、軟驅(qū)、CPU或RAM動(dòng)作等)，因此動(dòng)態(tài)負(fù)載測試對電源供應(yīng)器而言是極為重要的。可編程序電子負(fù)載可用來模擬電源供應(yīng)器實(shí)際工作時(shí)最惡劣的負(fù)載情況，如負(fù)載電流迅速上升、下降之斜率、周期等，若電源供應(yīng)器在惡劣負(fù)載狀況下，仍能夠維持穩(wěn)定的輸出電壓不產(chǎn)生過高激(Overshoot)或過低(Undershoot)情形，否則會(huì)導(dǎo)致電源之輸出電壓超過負(fù)載組件(如TTL電路其輸出瞬時(shí)電壓應(yīng)介于4.75V至5.25V之間，才不致引起TTL邏輯電路之誤動(dòng)作)之承受電源電壓而誤動(dòng)作，進(jìn)一步造成死機(jī)現(xiàn)象。 7. 啟動(dòng)時(shí)間與保持時(shí)間 啟動(dòng)時(shí)間為電源供應(yīng)器從輸入接上電源起到其輸出電壓上升到穩(wěn)壓范圍內(nèi)為止的時(shí)間，以一輸出為5V的電源供應(yīng)器為例，啟動(dòng)時(shí)間為從電源開機(jī)起到輸出電壓達(dá)到4.75V為止的時(shí)間。 保持時(shí)間為電源供應(yīng)器從輸入切斷電源起到其輸出電壓下降到穩(wěn)壓范圍外為止的時(shí)間，以一輸出為5V的電源供應(yīng)器為例，保持時(shí)間為從關(guān)機(jī)起到輸出電壓低于4.75V為止的時(shí)間，一般值為17ms或20ms以上，以避免電力公司供電中于少了半周或一周之狀況下而受影響。 8. 其它 在電源具備一些特定保護(hù)功能的前提下，還需要進(jìn)行保護(hù)功能測試，如過電壓保護(hù)(OVP)測試、短路保護(hù)測試、過功保護(hù)等
標(biāo)簽： 模塊電源 參數(shù) 指標(biāo) 測試方法
上傳時(shí)間： 2013-10-22
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交流瓦特/瓦特小時(shí)，乏爾/乏爾小時(shí)轉(zhuǎn)換器 特點(diǎn)： 精確度0.25%滿刻度 多種輸入,輸出選擇 輸入與輸出絕緣耐壓2仟伏特/1分鐘 沖擊電壓測試5仟伏特(1.2x50us) 突波電壓測試2.5仟伏特(0.25ms/1MHz) (IEC255-4) 尺寸小，穩(wěn)定性高 主要規(guī)格： 精確度: 0.25% F.S. (23 ±5℃) 輸入負(fù)載: <0.2VA (Voltage) <0.2VA (Current) 最大過載能力: Current related input:3 x rated continuous 10 x rated 30 sec. ,25 x rated 3sec. 50 x rated 1sec. Voltage related input:maximum 2 x rated continuous 輸出反應(yīng)速度: < 250ms(0~90%) 輸出負(fù)載能力: < 10mA for voltage mode < 10V for current mode 輸出之漣波 : < 0.1% F.S. 脈波輸出型態(tài): Photocouple of open collector (max.30V/40mA) 歸零調(diào)整范圍: 0~±5% F.S. 最大值調(diào)整范圍: 0~±10% F.S. 溫度系數(shù): 100ppm/℃ (0~50℃) 隔離特性: Input/Output/Power/Case 絕緣阻抗: >100Mohm with 500V DC 絕緣耐壓能力: 2KVac/1 min. (input/output/power/case) 突波測試: ANSI C37.90a/1974,DIN-IEC 255-4 impulse voltage 5KV(1.2x50us) 使用環(huán)境條件: -20~60℃(20 to 90% RH non-condensed) 存放環(huán)境條件: -30~70℃(20 to 90% RH non-condensed) CE認(rèn)證: EN 55022:1998/A1:2000 Class A EN 61000-3-2:2000 EN 61000-3-3:1995/A1:2001 EN 55024:1998/A1:2001
標(biāo)簽： 瓦特 交流 轉(zhuǎn)換器
上傳時(shí)間： 2013-11-11
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采用射頻等離子體增強(qiáng)化學(xué)氣相沉積(RF2PECVD)技術(shù)制備非晶硅(a2Si)NIP 太陽能電池,其中電池的窗口層采用P 型晶化硅薄膜,電池結(jié)構(gòu)為Al/ glass/ SnO2 / N(a2Si :H) / I(a2Si :H) / P(cryst2Si : H) / ITO/ Al。為了使P 型晶化硅薄膜能夠在a2Si 表面成功生長,電池制備過程中采用了H 等離子體處理a2Si 表面的方法。通過調(diào)節(jié)電池P 層和N 層厚度和H 等離子體處理a2Si 表面的時(shí)間,優(yōu)化了太陽能電池的制備工藝。結(jié)果表明,使用H 等離子體處理a2Si 表面5 min ,可以在a2Si 表面獲得高電導(dǎo)率的P 型晶化硅薄膜,并且這種結(jié)構(gòu)可以應(yīng)用到電池上;當(dāng)P 型晶化硅層沉積時(shí)間12. 5 min ,N 層沉積12 min ,此種結(jié)構(gòu)電池特性最好,效率達(dá)6. 40 %。通過調(diào)整P 型晶化硅薄膜的結(jié)構(gòu)特征,將能進(jìn)一步改善電池的性能。
上傳時(shí)間： 2013-11-21
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五、變頻器外控（二） 利用單片機(jī)系統(tǒng)隔離輸出，控制變頻器，實(shí)現(xiàn)變頻器的正反轉(zhuǎn)控制，系統(tǒng)具有啟動(dòng)、停止按鍵，左限開關(guān)和右限開關(guān)，啟動(dòng)后變頻器以800r/min向左運(yùn)行，當(dāng)碰到左限開關(guān)變頻器以600r/min向右運(yùn)行，依次循環(huán)往返運(yùn)行。任意時(shí)刻按下停止按鈕變頻器停止運(yùn)行。變頻器運(yùn)行時(shí)使用數(shù)碼管分別對應(yīng)顯示 800和600。可自行增加其他功能，如左右極限保護(hù)、報(bào)警指示等。 寫出設(shè)計(jì)思路，畫出硬件接線圖，寫出單片機(jī)程序
上傳時(shí)間： 2014-12-25
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C函數(shù)速查手冊 出版社：人民郵電出版社 《C函數(shù)速查手冊》中所講的C語言函數(shù)按照功能順序和字母順序進(jìn)行排序，讀者既可以按照功能順序查找，也可以按照字母順序?qū)W習(xí)。《C函數(shù)速查手冊》不僅適合于C語言初學(xué)者學(xué)習(xí)使用，而且也可以作為中、高級(jí)C語言開發(fā)人員的參考手冊。 目錄 第1章 數(shù)學(xué)函數(shù) 1.1 _clear87函數(shù)：清除浮點(diǎn)狀態(tài)字 1.2 _status87函數(shù)：取浮點(diǎn)狀態(tài)字 1.3 abs函數(shù)：求整數(shù)的絕對值 1.4 acos、acosl函數(shù)：反余弦函數(shù) 1.5 asin、asinl函數(shù)：反正弦函數(shù) 1.6 atan函數(shù)：反正切函數(shù) 1.7 atan2、atan2l函數(shù)：計(jì)算Y/X的反正切值 1.8 cabs函數(shù)：計(jì)算復(fù)數(shù)的模 1.9 ceil函數(shù)：向上取整 1.10 cos函數(shù)：余弦函數(shù) 1.11 cosh函數(shù)：雙曲余弦函數(shù) 1.12 div函數(shù)：求兩個(gè)整數(shù)相除的商和余數(shù) 1.13 exp函數(shù)：指數(shù)函數(shù) 1.14 fabs函數(shù)：求浮點(diǎn)數(shù)的絕對值 1.15 floor函數(shù)：向下取整 1.16 fmod函數(shù)：計(jì)算x對y的模 1.17 frexp函數(shù)：將浮點(diǎn)數(shù)分為底數(shù)與指數(shù) 1.18 hypot函數(shù)：計(jì)算直角三角形的斜邊 1.19 labs函數(shù)：取長整數(shù)的絕對值 1.20 ldexp、ldexpl函數(shù)：冪計(jì)算 1.21 ldiv函數(shù)：兩個(gè)長整型數(shù)相除 1.22 log、logl函數(shù)：計(jì)算自然對數(shù) 1.23 log10、log10l函數(shù)：計(jì)算常用對數(shù) 1.24 max函數(shù)：求兩個(gè)數(shù)中的最大者 1.25 min函數(shù)：求兩個(gè)數(shù)中的最小者 1.26 modf、modfl函數(shù)：分割數(shù)為整數(shù)部分和小數(shù)部分 1.27 poly函數(shù)：計(jì)算多項(xiàng)式 1.28 pow函數(shù)：指數(shù)函數(shù) 1.29 pow10函數(shù)：指數(shù)函數(shù) 1.30 rand函數(shù)：隨機(jī)數(shù)發(fā)生器 1.31 random函數(shù)：隨機(jī)數(shù)發(fā)生器 1.32 randomize函數(shù)：初始化隨機(jī)數(shù)發(fā)生器 1.33 sin函數(shù)：正弦函數(shù) 1.34 sinh函數(shù)：雙曲正弦函數(shù) 1.35 sqrt函數(shù)：計(jì)算平方根 1.36 srand函數(shù)：初始化隨機(jī)數(shù)發(fā)生器 1.37 tan、tanl函數(shù)：正切函數(shù) 1.38 tanh、tanhl函數(shù)：雙曲正切函數(shù) 第2章 字符串函數(shù) 2.1 atof函數(shù)：把字符串轉(zhuǎn)換成浮點(diǎn)數(shù) 2.2 atoi函數(shù)：將字符串轉(zhuǎn)換成整型數(shù) 2.3 atol函數(shù)：將字符串轉(zhuǎn)換成長整型數(shù) 2.4 ecvt函數(shù)：將浮點(diǎn)數(shù)轉(zhuǎn)換為字符串 2.5 fcvt函數(shù)：將浮點(diǎn)數(shù)轉(zhuǎn)換為字符串 2.6 gcvt函數(shù)：將浮點(diǎn)數(shù)轉(zhuǎn)換成字符串 2.7 itoa函數(shù)：將整數(shù)值轉(zhuǎn)換為字符串 2.8 isalnum函數(shù)：字母、數(shù)字判斷函數(shù) 2.9 isalpha函數(shù)：字母判斷函數(shù) 2.10 isascii函數(shù)：整數(shù)值的字符分類 2.11 iscntrl函數(shù)：控制字符判斷函數(shù) 2.12 isdigit函數(shù)：數(shù)字判斷函數(shù) 2.13 isgraph函數(shù)：打印字符判斷 2.14 islower函數(shù)：小寫字母判斷函數(shù) 2.15 isprint函數(shù)：可打印字符判斷函數(shù) 2.16 isptmct函數(shù)：標(biāo)點(diǎn)符號(hào)判斷函數(shù) 2.17 isspace函數(shù)：空格等判斷函數(shù) 2.18 isupper函數(shù)：大寫字母判斷函數(shù) 2.19 isxdigit函數(shù)：十六進(jìn)制數(shù)字判斷函數(shù) 2.20 ltoa函數(shù)：將長整值轉(zhuǎn)換為字符串 2.21 mbstowcs函數(shù)：將多字節(jié)字符序列轉(zhuǎn)換成相應(yīng)的寬字符序列 2.22 mbtowc函數(shù)：將多字節(jié)字符轉(zhuǎn)換成相應(yīng)的寬字符 2.23 stpcpy函數(shù)：復(fù)制字符串 2.24 strcat函數(shù)：拼接字符串 2.25 strchr函數(shù)：查找給定字符 2.26 strcmp函數(shù)：比較字符串 2.27 strcmpi函數(shù)：比較字符串 2.28 strcpy函數(shù)：復(fù)制字符串 2.29 strcspn函數(shù)：查找不包含指定字符集子串的段 2.30 strdup函數(shù)：將字符串復(fù)制到新建的位置 2.31 stricmp函數(shù)：比較字符串 2.32 strlen函數(shù)：獲取字符長度
上傳時(shí)間： 2014-12-25
上傳用戶：水口鴻勝電器
TLC2543是TI公司的12位串行模數(shù)轉(zhuǎn)換器，使用開關(guān)電容逐次逼近技術(shù)完成A/D轉(zhuǎn)換過程。由于是串行輸入結(jié)構(gòu)，能夠節(jié)省51系列單片機(jī)I/O資源；且價(jià)格適中，分辨率較高，因此在儀器儀表中有較為廣泛的應(yīng)用。 TLC2543的特點(diǎn) （1）12位分辯率A/D轉(zhuǎn)換器； （2）在工作溫度范圍內(nèi)10μs轉(zhuǎn)換時(shí)間； （3）11個(gè)模擬輸入通道； （4）3路內(nèi)置自測試方式； （5）采樣率為66kbps； （6）線性誤差±1LSBmax； （7）有轉(zhuǎn)換結(jié)束輸出EOC； （8）具有單、雙極性輸出； （9）可編程的MSB或LSB前導(dǎo)； （10）可編程輸出數(shù)據(jù)長度。 TLC2543的引腳排列及說明 TLC2543有兩種封裝形式：DB、DW或N封裝以及FN封裝，這兩種封裝的引腳排列如圖1，引腳說明見表1 TLC2543電路圖和程序欣賞 #include<reg52.h> #include<intrins.h> #define uchar unsigned char #define uint unsigned int sbit clock=P1^0; sbit d_in=P1^1; sbit d_out=P1^2; sbit _cs=P1^3; uchar a1,b1,c1,d1; float sum,sum1; double sum_final1; double sum_final; uchar duan[]={0x3f,0x06,0x5b,0x4f,0x66,0x6d,0x7d,0x07,0x7f,0x6f}; uchar wei[]={0xf7,0xfb,0xfd,0xfe}; void delay(unsigned char b) //50us { unsigned char a; for(;b>0;b--) for(a=22;a>0;a--); } void display(uchar a,uchar b,uchar c,uchar d) { P0=duan[a]|0x80; P2=wei[0]; delay(5); P2=0xff; P0=duan[b]; P2=wei[1]; delay(5); P2=0xff; P0=duan[c]; P2=wei[2]; delay(5); P2=0xff; P0=duan[d]; P2=wei[3]; delay(5); P2=0xff; } uint read(uchar port) { uchar i,al=0,ah=0; unsigned long ad; clock=0; _cs=0; port<<=4; for(i=0;i<4;i++) { d_in=port&0x80; clock=1; clock=0; port<<=1; } d_in=0; for(i=0;i<8;i++) { clock=1; clock=0; } _cs=1; delay(5); _cs=0; for(i=0;i<4;i++) { clock=1; ah<<=1; if(d_out)ah|=0x01; clock=0; } for(i=0;i<8;i++) { clock=1; al<<=1; if(d_out) al|=0x01; clock=0; } _cs=1; ad=(uint)ah; ad<<=8; ad|=al; return(ad); } void main() { uchar j; sum=0;sum1=0; sum_final=0; sum_final1=0; while(1) { for(j=0;j<128;j++) { sum1+=read(1); display(a1,b1,c1,d1); } sum=sum1/128; sum1=0; sum_final1=(sum/4095)*5; sum_final=sum_final1*1000; a1=(int)sum_final/1000; b1=(int)sum_final%1000/100; c1=(int)sum_final%1000%100/10; d1=(int)sum_final%10; display(a1,b1,c1,d1); } }
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SHUZIZHONG顯示電路 源程序如下： #include <reg51.h>#include <intrins.h> unsigned char data dis_digit; unsigned char code dis_code[]={ 0x3f,0x06,0x5b,0x4f,0x66,0x6d,0x7d,0x07,0x7f,0x6f,0x77,0x7c,0x39,0x5e,0x79,0x71};unsigned char data dis_buf[16];unsigned char data dis_index;char hour,min,sec,wang,year,mouth,day;unsigned char sec100;
上傳時(shí)間： 2013-11-24
上傳用戶：fdmpy
單片機(jī)電子表原理圖和C語言程序代碼: select 成績表.學(xué)號(hào),學(xué)生信息.姓名,學(xué)生信息.學(xué)院專業(yè) ,sum(成績表.分?jǐn)?shù)) 總分 ,avg(成績表.分?jǐn)?shù)) 平均分 from 成績表,學(xué)生信息 where 學(xué)生信息.學(xué)號(hào)=成績表.學(xué)號(hào) group by 成績表.學(xué)號(hào),學(xué)生信息.姓名 ,成績表.分?jǐn)?shù),學(xué)生信息.學(xué)院專業(yè)select 學(xué)生信息.學(xué)院專業(yè) ,sum(成績表.分?jǐn)?shù)) 總分,avg(成績表.分?jǐn)?shù)) 平均分 from 成績表,學(xué)生信息 where 學(xué)生信息.學(xué)號(hào)=成績表.學(xué)號(hào) group by 學(xué)生信息.學(xué)院專業(yè) select 學(xué)生信息.學(xué)院專業(yè),count(成績表.分?jǐn)?shù)) 不及格人數(shù) from 成績表,學(xué)生信息 where 學(xué)生信息.學(xué)號(hào)=成績表.學(xué)號(hào) and 成績表.分?jǐn)?shù)>60 group by 學(xué)生信息.學(xué)院專業(yè),成績表.分?jǐn)?shù)
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