DPS2812的開發程序,內有多個測試的程序可以讓你明白板子基本的運作
標簽： 2812 DPS 程序 白板
上傳時間： 2016-04-10
上傳用戶：330402686
/** * @author jakcy_wu(wujichun) * * 預測分析--本算法只適用于受周期變化或者波動影響的數據 * 權值移動平均算法 * 本期預測值=（前期值*權數）求和/n * * 默認權值為{1,1,1},取最近3次的平均 * 注意權值和必須=權值集合.length */
標簽： jakcy_wu wujichun author 算法
上傳時間： 2014-01-26
上傳用戶：weiwolkt
此為philip 1362 USB DOS下的驅動程式包, 已經共測試並內含有說明文件
標簽： philip 1362 USB DOS
上傳時間： 2015-04-21
上傳用戶：bruce
:::::::讀心術::::::: “吉普賽人祖傳的神奇讀心術.它能測算出你的內心感應”
標簽：
上傳時間： 2015-08-27
上傳用戶：s363994250
內存大小測試程序,可以檢測安裝內存的大小.
標簽： 內存 程序
上傳時間： 2013-12-25
上傳用戶：asdkin
S3C2410官方釋出的自我測試程式,測試項目包括Power,LCD,UART,Timer,Flash...共99種,內含Image檔可以直接燒錄到板子上使用.
標簽： S3C2410 Power Flash Image
上傳時間： 2014-08-17
上傳用戶：思琦琦
OPEN-JTAG ARM JTAG 測試原理 1 前言 本篇報告主要介紹ARM JTAG測試的基本原理。基本的內容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介紹，在此基礎上，結合ARM7TDMI詳細介紹了的JTAG測試原理。 2 IEEE Standard 1149.1 - Test Access Port and Boundary-Scan Architecture 從IEEE的JTAG測試標準開始，JTAG是JOINT TEST ACTION GROUP的簡稱。IEEE 1149.1標準最初是由JTAG這個組織提出，最終由IEEE批準並且標準化，所以，IEEE 1149.1這個標準一般也俗稱JTAG測試標準。 接下來介紹TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的基本架構。
標簽： JTAG BOUNDARY-SCAN OPEN-JTAG ARM
上傳時間： 2016-08-16
上傳用戶：sssl
內含fulladder結構檔,電路檔,測試檔(testbench)以及執行檔(.do)
標簽： fulladder testbench do
上傳時間： 2016-11-25
上傳用戶：wxhwjf
雙線性內插法(bi-linear interpolation) 此方法以(x,y)的四個鄰近點來求得最近似的灰度
標簽： interpolation bi-linear 61548 灰度
上傳時間： 2013-12-28
上傳用戶：三人用菜
上傳時間： 2014-12-21
上傳用戶：佳期如夢
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