ECG的技術(shù)性能指標(biāo)及驗(yàn)測(cè)方法期刊文章。
上傳時(shí)間： 2014-01-12
上傳用戶：源碼3
Arduino 數(shù)位I/O的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試程式，利用讀取輸入的數(shù)位訊來(lái)控制輸出的數(shù)位訊號(hào)，文中有詳細(xì)的描述與介紹說(shuō)明。
上傳時(shí)間： 2017-05-23
上傳用戶：6546544
Arduino 類比電壓的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試程式，利用讀取類比電壓的值來(lái)控制led閃爍的頻率，文中有詳細(xì)的描述與介紹說(shuō)明。
上傳時(shí)間： 2013-12-20
上傳用戶：hewenzhi
*** *** *** *** *** *** *** *** * RTL8019測(cè)試程式說(shuō)明 By hugang, hgx2000@mail.china.com ************************************************* 1.文件說(shuō)明 Net : Rtl8019驅(qū)動(dòng)代碼 Src : 主程式代碼 Inc : 主程式的頭文件 Debug : SDT目標(biāo)代碼 Myusb_Data : ADS目標(biāo)代碼 Myusb.apj : SDT2.51工程文件 Myusb.mcp : ADS1.2工程文件 Myusb.PR : SourceInsight3.5工程文件
標(biāo)簽： hugang china 8019 2000
上傳時(shí)間： 2014-11-23
上傳用戶：jichenxi0730
*** *** *** *** *** *** *** *** * USB測(cè)試程式說(shuō)明 By hugang, hgx2000@mail.china.com ************************************************* 1.文件說(shuō)明 Usb : PDIUSB12驅(qū)動(dòng)代碼 Src : 主程式代碼 Inc : 主程式的頭文件 Debug : SDT目標(biāo)代碼 Myusb_Data : ADS目標(biāo)代碼 Tools : PC端測(cè)試程式及驅(qū)動(dòng) Myusb.apj : SDT2.51工程文件 Myusb.mcp : ADS1.2工程文件 Myusb.PR : SourceInsight3.5工程文件
標(biāo)簽： hugang china 2000 mail
上傳時(shí)間： 2016-04-09
上傳用戶：cainaifa
*** *** *** *** *** *** *** *** * UCOS_II測(cè)試程式說(shuō)明 By hugang, hgx2000@mail.china.com ************************************************* 1.文件說(shuō)明 UCOS_II : UCOS_II代碼，2.71版 Src : 主程式代碼 Inc : 主程式的頭文件 Debug : SDT目標(biāo)代碼 Myucos_Data : ADS目標(biāo)代碼 Myucos.apj : SDT2.51工程文件 Myusos.mcp : ADS1.2工程文件 Myusos.PR : SourceInsight3.5工程文件
標(biāo)簽： UCOS_II hugang china 2000
上傳時(shí)間： 2014-02-11
上傳用戶：hongmo
OPEN-JTAG ARM JTAG 測(cè)試原理 1 前言 本篇報(bào)告主要介紹ARM JTAG測(cè)試的基本原理?；镜膬?nèi)容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介紹，在此基礎(chǔ)上，結(jié)合ARM7TDMI詳細(xì)介紹了的JTAG測(cè)試原理。 2 IEEE Standard 1149.1 - Test Access Port and Boundary-Scan Architecture 從IEEE的JTAG測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)開始，JTAG是JOINT TEST ACTION GROUP的簡(jiǎn)稱。IEEE 1149.1標(biāo)準(zhǔn)最初是由JTAG這個(gè)組織提出，最終由IEEE批準(zhǔn)並且標(biāo)準(zhǔn)化，所以，IEEE 1149.1這個(gè)標(biāo)準(zhǔn)一般也俗稱JTAG測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。 接下來(lái)介紹TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的基本架構(gòu)。
標(biāo)簽： JTAG BOUNDARY-SCAN OPEN-JTAG ARM
上傳時(shí)間： 2016-08-16
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PC電源測(cè)試系統(tǒng)chroma8000簡(jiǎn)介
標(biāo)簽： chroma 8000 電源測(cè)試系統(tǒng)
上傳時(shí)間： 2013-11-08
上傳用戶：xiehao13
此為philip 1362 USB DOS下的驅(qū)動(dòng)程式包, 已經(jīng)共測(cè)試並內(nèi)含有說(shuō)明文件
上傳時(shí)間： 2015-04-21
上傳用戶：bruce
簡(jiǎn)單的串列埠自我測(cè)試持式 測(cè)試硬體電路是否正確
標(biāo)簽： 正
上傳時(shí)間： 2015-04-25
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