高性能ADC產(chǎn)品的出現(xiàn)，給混合信號測試領(lǐng)域帶來前所未有的挑戰(zhàn)。并行ADC測試方案實(shí)現(xiàn)了多個ADC測試過程的并行化和實(shí)時化，減少了單個ADC的平均測試時間，從而降低ADC測試成本。 本文實(shí)現(xiàn)了基于FPGA的ADC并行測試方法。在閱讀相關(guān)文獻(xiàn)的基礎(chǔ)上，總結(jié)了常用ADC參數(shù)測試方法和測試流程。使用FPGA...
高性能ADC產(chǎn)品的出現(xiàn)，給混合信號測試領(lǐng)域帶來前所未有的挑戰(zhàn)。并行ADC測試方案實(shí)現(xiàn)了多個ADC測試過程的并行化和實(shí)時化，減少了單個ADC的平均測試時間，從而降低ADC測試成本。本文實(shí)現(xiàn)了基于FPGA的ADC并行測試方法。在閱讀相關(guān)文獻(xiàn)的基礎(chǔ)上，總結(jié)了常用ADC參數(shù)測試方法和測試流程。使用FPGA實(shí)...
LTC®2366 及其較慢速的版本提供了一種高性能的替代方案，如表 1 中的 AC 規(guī)格所示。您不妨將這些有保證的規(guī)格與自己現(xiàn)用微控制器內(nèi)置的 ADC 進(jìn)行一番比較。 ...
圖1所示電路可將高頻單端輸入信號轉(zhuǎn)換為平衡差分信號，用于驅(qū)動16位10 MSPS PulSAR® ADC AD7626。該電路采用低功耗差分放大器ADA4932-1來驅(qū)動ADC，最大限度提升AD7626的高頻輸入信號音性能。此器件組合的真正優(yōu)勢在于低功耗、高性能 ...
模擬轉(zhuǎn)換器性能不只依賴分辨率規(guī)格 大量的模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)使人們難以選擇最適合某種特定應(yīng)用的ADC器件。工程師們選擇ADC時，通常只注重位數(shù)、信噪比(SNR)、諧波性能，但是其它規(guī)格也同樣重要。本文將介紹ADC器件最易受到忽視的九項規(guī)格，并說明它們是如何影響ADC...
