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這篇文章主要介紹ARM JTAG調試的基本原理。基本的內容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介紹

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這篇文章主要介紹ARM JTAG調試的基本原理。基本的內容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介紹,在此基礎上,結合ARM7TDMI詳細介紹了的JTAG調試原理。

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