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芯片封裝失效分析

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  • 上傳時(shí)間: 2022-06-24
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  • 標(biāo)      簽: 封裝 微電子

資 源 簡 介

封裝作為微電子產(chǎn)業(yè)的三大支柱之一,在微電子產(chǎn)業(yè)中的地位越來越重要。

隨著微電子產(chǎn)業(yè)不斷的發(fā)展,輕型化,薄型化,小型化的微小間距封裝成為發(fā)展需要。而封裝的相關(guān)失效成為制約封裝向前發(fā)展的瓶頸。本文通過大量的調(diào)研文獻(xiàn),對(duì)封裝失效分析的目的,內(nèi)容和現(xiàn)狀進(jìn)行總結(jié),并對(duì)封裝失效分析的未來發(fā)展進(jìn)行展望。

本文的主題是對(duì)封裝中最重要的兩個(gè)方面引線鍵合和塑料封裝材料產(chǎn)生的相關(guān)失效進(jìn)行歸納總結(jié)。本文從封裝在微電子產(chǎn)業(yè)中的作用出發(fā),引出對(duì)封裝的失效進(jìn)行分析的重要性,并說明了國內(nèi)外封裝產(chǎn)業(yè)的差距。對(duì)失效的基礎(chǔ)概念,失效的分類進(jìn)行了闡述;總結(jié)了進(jìn)行失效分析的相關(guān)流程和進(jìn)行失效分析最基本的方法和儀器。對(duì)封裝中最普遍的引線鍵合工藝和塑封工藝分別進(jìn)行了分析。對(duì)比了傳統(tǒng)的Au線,Al線與Cu線鍵合工藝,說明了Cu引線鍵合技術(shù)代替?zhèn)鹘y(tǒng)的鍵合技術(shù)成為主流鍵合工藝的必然性;對(duì)Cu引線鍵合技術(shù)中出現(xiàn)的相關(guān)失效問題和國內(nèi)外的研究結(jié)果進(jìn)行了分析歸納。對(duì)塑料封裝材料的發(fā)展進(jìn)行了說明,指出環(huán)氧樹脂為主流塑料封裝材料的原因;對(duì)環(huán)氧樹脂的組成以及在使用環(huán)氧樹脂過程中出現(xiàn)的相關(guān)失效進(jìn)行了歸納,并總結(jié)了環(huán)氧樹脂未來的發(fā)展方向。


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