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二維圖像

  • 紅外熱成像技術(shù)在亞平面缺陷檢測中的應(yīng)用

    根據(jù)紅外成像無損檢測原理,利用機(jī)器視覺技術(shù),通過實(shí)驗(yàn)將紅外熱像儀采集的亞表面紅外缺陷圖像進(jìn)行一系列的處理,包括濾波降噪,圖像增強(qiáng),邊緣提取等,將缺陷檢測出來。文中用matlab和Visual C++2010聯(lián)合編程的方式對紅外缺陷進(jìn)行識(shí)別,通過窗口可視化將圖像和圖像中的缺陷位置,大小提取出來。通過多次實(shí)驗(yàn),本方法能夠檢測大多的亞平面缺陷,具有較高的應(yīng)用價(jià)值。

    標(biāo)簽: 紅外熱 成像技術(shù) 中的應(yīng)用 缺陷檢測

    上傳時(shí)間: 2013-10-10

    上傳用戶:徐孺

  • 用于低噪聲CMOS圖像傳感器的流水線ADC設(shè)計(jì)及其成像驗(yàn)證

      在對低噪聲CMOS圖像傳感器的研究中,除需關(guān)注其噪聲外,目前數(shù)字化也是它的一個(gè)重要的研究和設(shè)計(jì)方向,設(shè)計(jì)了一種可用于低噪聲CMOS圖像傳感器的12 bit,10 Msps的流水線型ADC,并基于0.5 ?滋m標(biāo)準(zhǔn)CMOS工藝進(jìn)行了流片。最后,通過在PCB測試版上用本文設(shè)計(jì)的ADC實(shí)現(xiàn)了模擬輸出的低噪聲CMOS圖像傳感器的模數(shù)轉(zhuǎn)換,并基于自主開發(fā)的成像測試系統(tǒng)進(jìn)行了成像驗(yàn)證,結(jié)果表明,成像畫面清晰,該ADC可作為低噪聲CMOS圖像傳感器的芯片級模數(shù)轉(zhuǎn)換器應(yīng)用。

    標(biāo)簽: CMOS ADC 低噪聲 圖像傳感器

    上傳時(shí)間: 2013-11-19

    上傳用戶:xz85592677

  • 基于LTC1068光纖電流互感器的二次側(cè)信號處理

    利用開關(guān)電容濾波器LTC1068進(jìn)行光纖電流互感器二次側(cè)信號處理的設(shè)計(jì)方法。給出的測試結(jié)果表明,利用LTC1068進(jìn)行二次側(cè)信號的處理方法實(shí)用有效,完全滿足測量要求。

    標(biāo)簽: 1068 LTC 光纖 信號處理

    上傳時(shí)間: 2013-11-15

    上傳用戶:15736969615

  • 紅外熱成像系統(tǒng)論文

    紅外熱成像

    標(biāo)簽: 紅外熱 成像系統(tǒng) 論文

    上傳時(shí)間: 2013-10-19

    上傳用戶:yangbo69

  • 成像衛(wèi)星對區(qū)域目標(biāo)協(xié)同觀測問題研究

    分析了多顆成像衛(wèi)星對區(qū)域目標(biāo)的協(xié)同觀測問題的特點(diǎn),提出了基于星載遙感器的幅寬、側(cè)擺能力以及衛(wèi)星軌道參數(shù)的動(dòng)態(tài)區(qū)域劃分方法,該方法能夠根據(jù)衛(wèi)星參數(shù)及偏移參數(shù)動(dòng)態(tài)劃分候選觀測場景,從而充分利用衛(wèi)星每次過境的觀測機(jī)會(huì),特別適用于不同衛(wèi)星協(xié)同觀測的情況。在此基礎(chǔ)上建立了多星對區(qū)域目標(biāo)的協(xié)同觀測問題模型,該模型采用總體覆蓋率來衡量觀測效率,消除了不同衛(wèi)星對區(qū)域目標(biāo)觀測的交叉重疊帶來的影響。最后提出了模型求解的模擬退火算法。仿真實(shí)驗(yàn)表明,本文提出的方法能夠有效提高多星對區(qū)域目標(biāo)的協(xié)同觀測效率。

    標(biāo)簽: 成像衛(wèi)星

    上傳時(shí)間: 2013-10-14

    上傳用戶:Ants

  • 二層,三層,四層交換機(jī)的區(qū)別

    二層交換技術(shù)是發(fā)展比較成熟,二層交換機(jī)屬數(shù)據(jù)鏈路層設(shè)備,可以識(shí)別數(shù)據(jù)包中的MAC 地址信息,根據(jù)MAC 地址進(jìn)行轉(zhuǎn)發(fā),并將這些MAC 地址與對應(yīng)的端口記錄在自己內(nèi)部的一個(gè)地址表中。

    標(biāo)簽: 四層交換

    上傳時(shí)間: 2013-11-22

    上傳用戶:來茴

  • 基于二次相差法的多頻連續(xù)波測距雷達(dá)仿真與研究

    通過對二次相差法測距性能進(jìn)行了仿真分析,仿真結(jié)果表明,基于雙頻比相測距的二次相差法多篇連續(xù)波雷達(dá),只能求解速度不同的目標(biāo)的距離值,無法求解同速度不同距離目標(biāo)的距離值。

    標(biāo)簽: 相差法 多頻 仿真 測距雷達(dá)

    上傳時(shí)間: 2013-11-18

    上傳用戶:潛水的三貢

  • 雷達(dá)目標(biāo)一維距離像特征提取方法研究

    基于雷達(dá)目標(biāo)一維距離像非衰減指數(shù)和模型,文中將遺傳算法和Relax算法相結(jié)合求取目標(biāo)散射中心參數(shù),充分發(fā)揮兩種算法的優(yōu)勢,通過仿真分析證明了文中方法的有效性。

    標(biāo)簽: 雷達(dá)目標(biāo) 特征提取 方法研究

    上傳時(shí)間: 2014-12-30

    上傳用戶:我們的船長

  • 用二端口S參數(shù)來表征差分電路的特性

    用二端口S-參數(shù)來表征差分電路的特性■ Sam Belkin差分電路結(jié)構(gòu)因其更好的增益,二階線性度,突出的抗雜散響應(yīng)以及抗躁聲性能而越來越多地被人們采用。這種電路結(jié)構(gòu)通常需要一個(gè)與單端電路相連接的界面,而這個(gè)界面常常是采用“巴倫”器件(Balun),這種巴倫器件提供了平衡結(jié)構(gòu)-到-不平衡結(jié)構(gòu)的轉(zhuǎn)換功能。要通過直接測量的方式來表征平衡電路特性的話,通常需要使用昂貴的四端口矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀。射頻應(yīng)用工程師還需要確定幅值和相位的不平衡是如何影響差分電路性能的。遺憾的是,在射頻技術(shù)文獻(xiàn)中,很難找到一種能表征電路特性以及衡量不平衡結(jié)構(gòu)所產(chǎn)生影響的好的評估方法。這篇文章的目的就是要幫助射頻應(yīng)用工程師們通過使用常規(guī)的單端二端口矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀來準(zhǔn)確可靠地解決作為他們?nèi)粘9ぷ鞯牟罘蛛娐诽匦缘臏y量問題。本文介紹了一些用來表征差分電路特性的實(shí)用和有效的方法, 特別是差分電壓,共模抑制(CMRR),插入損耗以及基于二端口S-參數(shù)的差分阻抗。差分和共模信號在差分電路中有兩種主要的信號類型:差分模式或差分電壓Vdiff 和共模電壓Vcm(見圖2)。它們各自的定義如下[1]:• 差分信號是施加在平衡的3 端子系統(tǒng)中未接地的兩個(gè)端子之上的• 共模信號是相等地施加在平衡放大器或其它差分器件的未接地的端子之上。

    標(biāo)簽: 二端口 S參數(shù) 差分電路

    上傳時(shí)間: 2013-10-14

    上傳用戶:葉山豪

  • 成像測井中基于ARM LPC1788顯示系統(tǒng)的設(shè)計(jì)

    為了實(shí)現(xiàn)對成像測井系統(tǒng)中井下儀器所采集數(shù)據(jù)的實(shí)時(shí)顯示,設(shè)計(jì)了一種基于ARM LPC1788的顯示系統(tǒng)。該系統(tǒng)主要用來接收上位機(jī)命令,采集各種模擬信號,將采集數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)顯示在液晶屏上。軟件部分采用Keil RealView MDK+c語言編程。實(shí)際應(yīng)用表明,該系統(tǒng)具有操作簡便、測試準(zhǔn)確的特點(diǎn),達(dá)到了設(shè)計(jì)要求,滿足成像系統(tǒng)整體需求。

    標(biāo)簽: 1788 ARM LPC 成像測井

    上傳時(shí)間: 2013-11-02

    上傳用戶:lht618

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