:::::::讀心術::::::: “吉普賽人祖傳的神奇讀心術.它能測算出你的內心感應”
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上傳時間: 2015-08-27
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S3C2410官方釋出的自我測試程式,測試項目包括Power,LCD,UART,Timer,Flash...共99種,內含Image檔可以直接燒錄到板子上使用.
標簽: S3C2410 Power Flash Image
上傳時間: 2014-08-17
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DPS2812的開發程序,內有多個測試的程序可以讓你明白板子基本的運作
標簽: 2812 DPS 程序 白板
上傳時間: 2016-04-10
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OPEN-JTAG ARM JTAG 測試原理 1 前言 本篇報告主要介紹ARM JTAG測試的基本原理。基本的內容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介紹,在此基礎上,結合ARM7TDMI詳細介紹了的JTAG測試原理。 2 IEEE Standard 1149.1 - Test Access Port and Boundary-Scan Architecture 從IEEE的JTAG測試標準開始,JTAG是JOINT TEST ACTION GROUP的簡稱。IEEE 1149.1標準最初是由JTAG這個組織提出,最終由IEEE批準並且標準化,所以,IEEE 1149.1這個標準一般也俗稱JTAG測試標準。 接下來介紹TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的基本架構。
標簽: JTAG BOUNDARY-SCAN OPEN-JTAG ARM
上傳時間: 2016-08-16
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一個單晶片8051模擬軟體,可以查看模擬的內部外部RAM資料及暫存器資料,並設置斷點 windows 平臺下執行
標簽: windows 8051 RAM 模
上傳時間: 2016-09-21
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內含fulladder結構檔,電路檔,測試檔(testbench)以及執行檔(.do)
標簽: fulladder testbench do
上傳時間: 2016-11-25
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mini2440非操作系統下的測試源碼,包括對板上所有硬體,介面,記憶體...的測試源碼.例cmos攝像頭等,都包含在內.
標簽: mini 2440 cmos 操作
上傳時間: 2017-03-14
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NANDFLASH ECC檢查碼測試程式
標簽: NANDFLASH ECC 程式
上傳時間: 2017-03-19
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介紹ofdm通道估測的書籍內容很完整,可以對於OFDM實作有深刻了解
標簽: ofdm
上傳時間: 2014-01-01
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altera Quartus II TLC晶片控制 可控制暫存器,手動調整內碼。 (含電路)
標簽: Quartus altera TLC 控制
上傳時間: 2016-02-13
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