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LAYOUT REPORT .............. 1 目錄.................. 1 1. PCB LAYOUT 術(shù)語(yǔ)解釋(TERMS)......... 2 2. Test Point : ATE 測(cè)試點(diǎn)供工廠ICT 測(cè)試治具使用............ 2 3. 基準(zhǔn)點(diǎn) (光學(xué)點(diǎn)) -for SMD:........... 4 4. 標(biāo)記 (LABEL ING)......... 5 5. VIA HOLE PAD................. 5 6. PCB Layer 排列方式...... 5 7.零件佈置注意事項(xiàng) (PLACEMENT NOTES)............... 5 8. PCB LAYOUT 設(shè)計(jì)............ 6 9. Transmission Line ( 傳輸線 )..... 8 10.General Guidelines – 跨Plane.. 8 11. General Guidelines – 繞線....... 9 12. General Guidelines – Damping Resistor. 10 13. General Guidelines - RJ45 to Transformer................. 10 14. Clock Routing Guideline........... 12 15. OSC & CRYSTAL Guideline........... 12 16. CPU
上傳時(shí)間： 2013-10-29
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超音波測(cè)距程式，使用於輪式行動(dòng)平臺(tái)（機(jī)器人）本體，本程式可用於避障、導(dǎo)航
上傳時(shí)間： 2015-11-06
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快速瞭解ECLIPSE 目錄 序言· 一．Eclipse 簡(jiǎn)介 二．Eclipse 組織 三．Eclipse 相關(guān)術(shù)語(yǔ) 四．Eclipse 平臺(tái) 五．EMF & GEF 介紹 六．關(guān)於Eclipse、SWT 和JFace 一個(gè)SWT 應(yīng)用程式的基礎(chǔ)材料 基本控制項(xiàng) 標(biāo)籤 文件 按鈕 事件監(jiān)聽(tīng)器 複合控制項(xiàng) Shell 佈局管理器 FillLayout GridLayout GridData 15 建立一個(gè)執(zhí)行程式 為什麼使用SWT 七．OSGI 簡(jiǎn)介 Eclipse 資源 附錄1 SWT 的內(nèi)幕？ 附錄2 相關(guān)網(wǎng)站 附錄3 外掛開(kāi)發(fā)
標(biāo)簽： Eclipse ECLIPSE EMF GEF
上傳時(shí)間： 2015-11-30
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精選一個(gè) uC/OS-II Porting 於一般業(yè)界使用之 MSP430F1132 開(kāi)發(fā)板上任務(wù)調(diào)度的例程,於 app.c 內(nèi)建構(gòu)了一個(gè)可於此開(kāi)發(fā)板上 Port 1.0 驅(qū)動(dòng) LED 閃爍任務(wù)工程,全例程於 IAR MSP430 V3.42A 下編譯,同時(shí)亦將此工程設(shè)好斷點(diǎn)可方便於 Simulator 內(nèi)直接觀測(cè) uC/OS 任務(wù)調(diào)度狀態(tài).
標(biāo)簽： Porting OS-II F1132 1132
上傳時(shí)間： 2015-12-14
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GenDriver即簡(jiǎn)單的資料流驅(qū)動(dòng)程式，雖未跟硬體溝通，但匯出10個(gè)進(jìn)入點(diǎn)，可被任何Windows CE系統(tǒng)所載入。為讓系統(tǒng)載入GenDriver可在系統(tǒng)啟動(dòng)時(shí)，加入任何[HKEY_LOCAL_MACHINE]\Drivers\Builtin下的項(xiàng)目，讓驅(qū)動(dòng)程式載入，或撰寫(xiě)一個(gè)應(yīng)用程式，在別處建立驅(qū)動(dòng)程式機(jī)碥並呼叫ActivateDevice
標(biāo)簽： GenDriver 驅(qū)動(dòng) 程式
上傳時(shí)間： 2016-06-24
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OPEN-JTAG ARM JTAG 測(cè)試原理 1 前言 本篇報(bào)告主要介紹ARM JTAG測(cè)試的基本原理。基本的內(nèi)容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介紹，在此基礎(chǔ)上，結(jié)合ARM7TDMI詳細(xì)介紹了的JTAG測(cè)試原理。 2 IEEE Standard 1149.1 - Test Access Port and Boundary-Scan Architecture 從IEEE的JTAG測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)開(kāi)始，JTAG是JOINT TEST ACTION GROUP的簡(jiǎn)稱。IEEE 1149.1標(biāo)準(zhǔn)最初是由JTAG這個(gè)組織提出，最終由IEEE批準(zhǔn)並且標(biāo)準(zhǔn)化，所以，IEEE 1149.1這個(gè)標(biāo)準(zhǔn)一般也俗稱JTAG測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。 接下來(lái)介紹TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的基本架構(gòu)。
標(biāo)簽： JTAG BOUNDARY-SCAN OPEN-JTAG ARM
上傳時(shí)間： 2016-08-16
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然後稍微檢查一下 tcl、tck 的版本與路徑，如果不同的話請(qǐng)自行將版本號(hào)改成跟目錄內(nèi)的版本號(hào)一樣。
上傳時(shí)間： 2014-01-05
上傳用戶：498732662
然後稍微檢查一下 tcl、tck 的版本與路徑，如果不同的話請(qǐng)自行將版本號(hào)改成跟目錄內(nèi)的版本號(hào)一樣。
上傳時(shí)間： 2013-12-30
上傳用戶：wang0123456789
pxa255下面的RTC4543驅(qū)動(dòng)，測(cè)試ok
上傳時(shí)間： 2017-03-30
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新型智慧驅(qū)動(dòng)器可簡(jiǎn)化開(kāi)關(guān)電源隔離拓樸結(jié)構(gòu)中同步整流器
標(biāo)簽： 驅(qū)動(dòng) 開(kāi)關(guān)電源 同步整流器
上傳時(shí)間： 2013-06-05
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