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可測性設計

CPU可測試性設計

可測試性設計（Design-For-Testability，DFT）已經成為芯片設計中不可或缺的重要組成部分。它通過在芯片的邏輯設計中加入測試邏輯提高芯片的可測試性。在高性能通用 CPU 的設計中，可測試性設計技術得到了廣泛的應用。本文結合幾款流行的 CPU，綜述了可應用于通用 CPU 等高性能芯片設計中的各種可測試性方法，包括掃描設計（Scan Design），內建自測試（Built-In Self-Test，BIST），測試點插入（Test Point Insertion），與 IEEE 1149.1標準兼容的邊界掃描設計（Boundary Scan Design，BSD）等技術。

標簽： 可測試性設計 CPU

上傳時間： 2021-10-15

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基于FPGA的邊界掃描控制器的設計

隨著印制電路板功能的日益增強，結構日趨復雜，系統中各個功能單元之間的連線間距越來越細密，基于探針的電路系統測試方法已經很難滿足現在的測試需要。邊界掃描測試(BST)技術通過將邊界掃描寄存器單元安插在集成電路內部的每個引腳上，相當于設置了施加激勵和觀測響應的內建虛擬探頭，通過該技術可以大大的提高數字系統的可觀測性和可控性，降低測試難度。針對這種測試需求，本文給出了基于FPGA的邊界掃描控制器設計方法。　　完整的邊界掃描測試系統主要由測試控制部分和目標器件構成，其中測試控制部分由測試圖形、數據的生成與分析及邊界掃描控制器兩部分構成。而邊界掃描控制器是整個系統的核心，它主要實現JTAG協議的自動轉換，產生符合IEEE標準的邊界掃描測試總線信號，而邊界掃描測試系統工作性能主要取決與邊界掃描控制器的工作效率。因此，設計一個能夠快速、準確的完成JTAG協議轉換，并且具有通用性的邊界掃描控制器是本文的主要研究工作。　　本文首先從邊界掃描技術的基本原理入手，分析邊界掃描測試的物理基礎、邊界掃描的測試指令及與可測性設計相關的標準，提出了邊界掃描控制器的總體設計方案。其次，采用模塊化設計思想、VHDL語言描述來完成要實現的邊界掃描控制器的硬件設計。然后，利用自頂向下的驗證方法，在對控制器內功能模塊進行基于Testbench驗證的基礎上，利用嵌入式系統的設計思想，將所設計的邊界掃描控制器集成到SOPC中，構成了基于SOPC的邊界掃描測試系統。并且對SOPC系統進行軟硬件協同仿真，實現對邊界掃描控制器的功能驗證后將其應用到實際的測試電路當中。最后，在基于SignalTapⅡ硬件調試的基礎上，軟硬件結合對整個系統可行性進行了測試。從測試結果看，達到了預期的設計目標，該邊界掃描控制器的設計方案是正確可行的。　　本文設計的邊界掃描控制器具有自主知識產權，可以與其他處理器結合構成完整的邊界掃描測試系統，并且為SOPC系統提供了一個很有實用價值的組件，具有很明顯的現實意義。

標簽： FPGA 邊界掃描控制器

上傳時間： 2013-07-20

上傳用戶：hewenzhi
Verilog HDL高級數字設計

·作者：[美]Michael D.Ciletti出版社：電子工業出版社內容簡介：本書通過大量完整的實例講解了使用VerilogHDL進行超大規模集成電路設計的結構化建模方法、關鍵步驟和設計驗證方法等實用內容。全書共分11章，涵蓋了建模、結構平衡、功能驗證、故障模擬和邏輯合成等關鍵問題，還有合成后設計確認、定時分析及可測性設計等內容。

標簽： Verilog nbsp HDL 數字設計

上傳時間： 2013-06-19

上傳用戶：PresidentHuang
一種片上系統復位電路的設計

設計了一種片上系統（SoC）復位電路。該電路能對外部輸入信號進行同步化處理以抑制亞穩態，采用多級D觸發器進行濾波提升抗干擾能力，并且控制產生系統所需的復位時序以滿足軟硬件協同設計需求。同時，完成了可測性設計（DFT）。基于Xilinx spartan-6 FPGA進行了驗證。結果表明該電路可以抑制90 ?滋s以下的外部干擾信號，并能正確產生系統所需的復位信號。

標簽： 片上系統復位電路

上傳時間： 2014-12-29

上傳用戶：guojin_0704
用于SoC設計的DFT和BIST

用于SoC設計的DFT和BIST，講解了在SOC設計中需要考慮的可測性設計問題

標簽： BIST SoC DFT

上傳時間： 2016-10-28

上傳用戶：亞亞娟娟123
數字集成電路：電路系統與設計(第二版).pdf

《數字集成電路:電路、系統與設計(第二版) 》，電子工業出版社出版，外文書名: Digital Integrated Circuits:A Design Perspective,Second Edition，作者：簡·M.拉貝艾 (Jan M.Rahaey) (作者), Anantha Chandrakasan (作者), Borivoje Nikolic (作者), 周潤德 (譯者), 等 (譯者)。本書由美國加州大學伯克利分校Jan M. Rabaey教授等人所著。全書共12章，分為三部分：基本單元、電路設計和系統設計。本書在對MOS器件和連線的特性做了簡要的介紹之后，深入分析了數字設計的核心——反相器，并逐步將這些知識延伸到組合邏輯電路、時序邏輯電路、控制器、運算電路以及存儲器這些復雜數字電路與系統的設計中。為了反映數字集成電路設計進入深亞微米領域后正在發生的深刻變化，本書以CMOS工藝的實際電路為例，討論了深亞微米器件效應、電路最優化、互連線建模和優化、信號完整性、時序分析、時鐘分配、高性能和低功耗設計、設計驗證、芯片測試和可測性設計等主題，著重探討了深亞微米數字集成電路設計所面臨的挑戰和啟示。

標簽： 數字集成電路電路系統

上傳時間： 2022-05-13

上傳用戶：zhaiyawei
集成電路設計制造中EDA工具實用教程

《集成電路設計制造中EDA工具實用教程》共17章，分為三個部分。第一部分介紹半導體工藝和半導體器件仿真工具，分別介紹了Synopsys公司的TSUPREM4/MEDICI，ISE TCAD和Silvaco公司的Athena/Atlas等TCAD工具及其使用，并以ESD靜電放電防護器件的設計及驗證為實例介紹這些軟件工具的應用。第二部分介紹了模擬集成電路設計工具的應用，輔以典型模擬IC電路的設計實例，以Cadence設計流程中的工具為主，同時也介紹了業界常用的Synopsys的Hspice電路仿真工具和Mentor Graphics的Calibre版圖驗證工具。第三部分為數字集成電路的設計工具使用教程，分別介紹了用Matlab進行系統級驗證、用ModelSim和NC-Verilog進行HDL描述和仿真、用Xilinx ISE進行EPGA驗證設計、用Synopsys的Design Compiler工具進行邏輯綜合以及使用Cadence的SE和SOC Encounter進行IC后端設計等。最后介紹了可測性設計的基本概念和流程。

標簽： 集成電路 eda

上傳時間： 2022-07-16

上傳用戶：zhaiyawei
FPGA測試方法研究.rar

FPGA(Field Programmable Gate Arrays)是目前廣泛使用的一種可編程器件，FPGA的出現使得ASIC(Application Specific Integrated Circuits)產品的上市周期大大縮短，并且節省了大量的開發成本。目前FPGA的功能越來越強大，滿足了目前集成電路發展的新需求，但是其結構同益復雜，規模也越來越大，內部資源的種類也R益豐富，但同時也給測試帶來了困難，FPGA的發展對測試的要求越來越高，對FPGA測試的研究也就顯得異常重要。本文的主要工作是提出一種開關盒布線資源的可測性設計，通過在FPGA內部加入一條移位寄存器鏈對開關盒進行配置編程，使得開關盒布線資源測試時間和測試成本減少了99％以上，而且所增加的芯片面積僅僅在5％左右，增加的邏輯資源對FPGA芯片的使用不會造成任何影響，這種方案采用了小規模電路進行了驗證，取得了很好的結果，是一種可行的測試方案。本文的另一工作是采用一種FPGA邏輯資源的測試算法對自主研發的FPGA芯片FDP250K的邏輯資源進行了嚴格、充分的測試，從FPGA最小的邏輯單元LC開始，首先得到一個LC的測試配置，再結合SLICE內部兩個LC的連接關系得到一個SLICE邏輯單元的4種測試配置，并且采用陣列化的測試方案，同時測試芯片內部所有的邏輯單元，使得FPGA內部的邏輯資源得完全充分的測試，測試的故障覆蓋率可達100％，測試配置由配套編程工具產生，測試取得了完滿的結果。

標簽： FPGA 測試方法研究

上傳時間： 2013-06-11

上傳用戶：唐僧他不信佛
FPGA的邊界掃描測試方法研究

現場可編程門陣列(FPGA)是一種新型器件,它將門陣列的通用結構與現場可編程的特性結合于一體.如今,FPGA系列器件已成為最受歡迎的器件之一.隨著FPGA器件的廣泛應用,它在數字系統中的作用日益變得重要,它所要求的準確性也變得更高.因此,對FPGA器件的故障測試和故障診斷方法進行更全面的研究具有重要意義.隨著集成電路規模的迅速膨脹,電路結構變得復雜,使大量的故障不可測.所以,人們把視線轉向了可測性設計(DFT)問題.可測性設計的提出為解決測試問題開辟了新的有效途徑,而邊界掃描測試方法(BST)是其中一個重要的技術.本文闡述了FPGA系列器件的結構特點,邊界掃描測試相關的基本概念與基本理論,給出利用布爾矩陣理論建立的邊界掃描測試過程的數學描述和數學模型.論文中主要討論了邊界掃描測試中的測試優化問題,給出解決兩類優化問題的現有算法,對它們的優缺點進行了對比,并且提出對兩種現有算法的改進,比較了改進前后優化算法的性能.最后總結了利用邊界掃描測試FPGA的具體過程.

標簽： FPGA 邊界掃描測試方法研究

上傳時間： 2013-08-06

上傳用戶：mdrd3080
FPGA測試方法研究

FPGA(Field Programmable Gate Arrays)是目前廣泛使用的一種可編程器件，FPGA的出現使得ASIC(Application Specific Integrated Circuits)產品的上市周期大大縮短，并且節省了大量的開發成本。目前FPGA的功能越來越強大，滿足了目前集成電路發展的新需求，但是其結構同益復雜，規模也越來越大，內部資源的種類也R益豐富，但同時也給測試帶來了困難，FPGA的發展對測試的要求越來越高，對FPGA測試的研究也就顯得異常重要。本文的主要工作是提出一種開關盒布線資源的可測性設計，通過在FPGA內部加入一條移位寄存器鏈對開關盒進行配置編程，使得開關盒布線資源測試時間和測試成本減少了99％以上，而且所增加的芯片面積僅僅在5％左右，增加的邏輯資源對FPGA芯片的使用不會造成任何影響，這種方案采用了小規模電路進行了驗證，取得了很好的結果，是一種可行的測試方案。本文的另一工作是采用一種FPGA邏輯資源的測試算法對自主研發的FPGA芯片FDP250K的邏輯資源進行了嚴格、充分的測試，從FPGA最小的邏輯單元LC開始，首先得到一個LC的測試配置，再結合SLICE內部兩個LC的連接關系得到一個SLICE邏輯單元的4種測試配置，并且采用陣列化的測試方案，同時測試芯片內部所有的邏輯單元，使得FPGA內部的邏輯資源得完全充分的測試，測試的故障覆蓋率可達100％，測試配置由配套編程工具產生，測試取得了完滿的結果。

標簽： FPGA 測試方法研究

上傳時間： 2013-06-29

上傳用戶：Thuan