ADC的源程式，把51的正負(fù)極接至ADC，再將ADC.asm檔compile後，ACD便會產(chǎn)生將類比轉(zhuǎn)成數(shù)位訊號的效果
上傳時間： 2013-12-31
上傳用戶：569342831
類比與介面裝置(AIPD)新產(chǎn)品研討會
標(biāo)簽： AIPD
上傳時間： 2013-08-03
上傳用戶：eeworm
LED產(chǎn)業(yè)長期發(fā)展仍看好
標(biāo)簽： LED
上傳時間： 2013-04-15
上傳用戶：eeworm
New-尚未歸類-412冊-8.64G LED產(chǎn)業(yè)長期發(fā)展仍看好.pdf
標(biāo)簽： LED
上傳時間： 2013-07-03
上傳用戶：元宵漢堡包
采用軟件校正的TMS320f2812內(nèi)置ADC采樣值方案
上傳時間： 2013-08-02
上傳用戶：wang5829
高性能ADC產(chǎn)品的出現(xiàn)，給混合信號測試領(lǐng)域帶來前所未有的挑戰(zhàn)。并行ADC測試方案實(shí)現(xiàn)了多個ADC測試過程的并行化和實(shí)時化，減少了單個ADC的平均測試時間，從而降低ADC測試成本。 本文實(shí)現(xiàn)了基于FPGA的ADC并行測試方法。在閱讀相關(guān)文獻(xiàn)的基礎(chǔ)上，總結(jié)了常用ADC參數(shù)測試方法和測試流程。使用FPGA實(shí)現(xiàn)時域參數(shù)評估算法和頻域參數(shù)評估算法，并對2個ADC在不同樣本數(shù)條件下進(jìn)行并行測試。 通過在FPGA內(nèi)部實(shí)現(xiàn)ADC測試時域算法和頻域算法相結(jié)合的方法來搭建測試系統(tǒng)，完成音頻編解碼器WM8731L的控制模式接口、音頻數(shù)據(jù)接口、ADC測試時域算法和頻域算法的FPGA實(shí)現(xiàn)。整個測試系統(tǒng)使用Angilent 33220A任意信號發(fā)生器提供模擬激勵信號，共用一個FPGA內(nèi)部實(shí)現(xiàn)的采樣時鐘控制模塊。并行測試系統(tǒng)將WM8731.L片內(nèi)的兩個獨(dú)立ADC的串行輸出數(shù)據(jù)分流成左右兩通道，并對其進(jìn)行串并轉(zhuǎn)換。然后對左右兩個通道分別配置一個FFT算法模塊和時域算法模塊，并行地實(shí)現(xiàn)了ADC參數(shù)的評估算法。 在樣本數(shù)分別為128和4096的實(shí)驗(yàn)條件下，對WM8731L片內(nèi)2個被測.ADC并行地進(jìn)行參數(shù)評估，被測參數(shù)包括增益GAIN、偏移量OFFSET、信噪比SNR、信號與噪聲諧波失真比SINAD、總諧波失真THD等5個常用參數(shù)。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明，通過在FPGA內(nèi)配置2個獨(dú)立的參數(shù)計算模塊，可并行地實(shí)現(xiàn)對2個相同ADC的參數(shù)評估，減小單個ADC的平均測試時間。 FPGA片內(nèi)實(shí)時評估算法的實(shí)現(xiàn)節(jié)省了測試樣本傳輸至自動測試機(jī)PC端的時間。而且只需將HDL代碼多次復(fù)制，就可實(shí)現(xiàn)多個被測ADC在同一時刻并行地被評估，配置靈活。基于FPGA的ADC并行測試方法易于實(shí)現(xiàn)，具有可行性，但由于噪聲的影響，測試精度有待進(jìn)一步提高。該方法可用于自動測試機(jī)的混合信號選項(xiàng)卡或測試子系統(tǒng)。 關(guān)鍵詞：ADC測試；并行；參數(shù)評估；FPGA；FFT
上傳時間： 2013-07-11
上傳用戶：tdyoung
隨著現(xiàn)代通信與信號處理技術(shù)的不斷發(fā)展，對于高速高精度AD轉(zhuǎn)換器的需求越來越大。但是，隨著集成電路工藝中電路特征線寬的不斷減小，在傳統(tǒng)單通道ADC框架下同時實(shí)現(xiàn)高速、高精度的數(shù)模轉(zhuǎn)換愈加困難。此時，時分交替ADC 作為...
標(biāo)簽： ADC 時分 數(shù)字校準(zhǔn)
上傳時間： 2013-07-08
上傳用戶：mylinden
高性能ADC產(chǎn)品的出現(xiàn)，給混合信號測試領(lǐng)域帶來前所未有的挑戰(zhàn)。并行ADC測試方案實(shí)現(xiàn)了多個ADC測試過程的并行化和實(shí)時化，減少了單個ADC的平均測試時間，從而降低ADC測試成本。本文實(shí)現(xiàn)了基于FPGA的ADC并行測試方法。在閱讀相關(guān)文獻(xiàn)的基礎(chǔ)上，總結(jié)了常用ADC參數(shù)測試方法和測試流程。使用FPGA實(shí)現(xiàn)時域參數(shù)評估算法和頻域參數(shù)評估算法，并對2個ADC在不同樣本數(shù)條件下進(jìn)行并行測試。 本研究通過在FPGA內(nèi)部實(shí)現(xiàn)ADC測試時域算法和頻域算法相結(jié)合的方法來搭建測試系統(tǒng)，完成了音頻編解碼器WM8731L的控制模式接口、音頻數(shù)據(jù)接口、ADC測試時域算法和頻域算法的FPGA實(shí)現(xiàn)。整個測試系統(tǒng)使用Angilent33220A任意信號發(fā)生器提供模擬激勵信號，共用一個FPGA內(nèi)部實(shí)現(xiàn)的采樣時鐘控制模塊。并行測試系統(tǒng)將WM8731.L片內(nèi)的兩個獨(dú)立ADC的串行輸出數(shù)據(jù)分流成左右兩通道，并對其進(jìn)行串并轉(zhuǎn)換。然后對左右兩個通道分別配置一個FFT算法模塊和時域算法模塊，并行地實(shí)現(xiàn)了ADC參數(shù)的評估算法。在樣本數(shù)分別為128和4096的實(shí)驗(yàn)條件下，對WM8731L片內(nèi)2個被測.ADC并行地進(jìn)行參數(shù)評估，被測參數(shù)包括增益GAIN、偏移量OFFSET、信噪比SNR、信號與噪聲諧波失真比SINAD、總諧波失真THD等5個常用參數(shù)。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明，通過在FPGA內(nèi)配置2個獨(dú)立的參數(shù)計算模塊，可并行地實(shí)現(xiàn)對2個相同ADC的參數(shù)評估，減小單個ADC的平均測試時間。FPGA片內(nèi)實(shí)時評估算法的實(shí)現(xiàn)節(jié)省了測試樣本傳輸至自動測試機(jī)PC端的時間。而且只需將HDL代碼多次復(fù)制，就可實(shí)現(xiàn)多個被測ADC在同一時刻并行地被評估，配置靈活。基于FPGA的ADC并行測試方法易于實(shí)現(xiàn)，具有可行性，但由于噪聲的影響，測試精度有待進(jìn)一步提高。該方法可用于自動測試機(jī)的混合信號選項(xiàng)卡或測試子系統(tǒng)。
上傳時間： 2013-06-07
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LM3S系列ADC例程：多種采樣觸發(fā)方式
上傳時間： 2013-05-29
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LM3S系列ADC例程：內(nèi)置的溫度傳感器
標(biāo)簽： LM3S ADC 內(nèi)置 溫度傳感器
上傳時間： 2013-04-24
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