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圖像圖形

  • 紅外熱成像技術(shù)在亞平面缺陷檢測(cè)中的應(yīng)用

    根據(jù)紅外成像無(wú)損檢測(cè)原理,利用機(jī)器視覺技術(shù),通過(guò)實(shí)驗(yàn)將紅外熱像儀采集的亞表面紅外缺陷圖像進(jìn)行一系列的處理,包括濾波降噪,圖像增強(qiáng),邊緣提取等,將缺陷檢測(cè)出來(lái)。文中用matlab和Visual C++2010聯(lián)合編程的方式對(duì)紅外缺陷進(jìn)行識(shí)別,通過(guò)窗口可視化將圖像和圖像中的缺陷位置,大小提取出來(lái)。通過(guò)多次實(shí)驗(yàn),本方法能夠檢測(cè)大多的亞平面缺陷,具有較高的應(yīng)用價(jià)值。

    標(biāo)簽: 紅外熱 成像技術(shù) 中的應(yīng)用 缺陷檢測(cè)

    上傳時(shí)間: 2013-10-10

    上傳用戶:徐孺

  • 用于低噪聲CMOS圖像傳感器的流水線ADC設(shè)計(jì)及其成像驗(yàn)證

      在對(duì)低噪聲CMOS圖像傳感器的研究中,除需關(guān)注其噪聲外,目前數(shù)字化也是它的一個(gè)重要的研究和設(shè)計(jì)方向,設(shè)計(jì)了一種可用于低噪聲CMOS圖像傳感器的12 bit,10 Msps的流水線型ADC,并基于0.5 ?滋m標(biāo)準(zhǔn)CMOS工藝進(jìn)行了流片。最后,通過(guò)在PCB測(cè)試版上用本文設(shè)計(jì)的ADC實(shí)現(xiàn)了模擬輸出的低噪聲CMOS圖像傳感器的模數(shù)轉(zhuǎn)換,并基于自主開發(fā)的成像測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行了成像驗(yàn)證,結(jié)果表明,成像畫面清晰,該ADC可作為低噪聲CMOS圖像傳感器的芯片級(jí)模數(shù)轉(zhuǎn)換器應(yīng)用。

    標(biāo)簽: CMOS ADC 低噪聲 圖像傳感器

    上傳時(shí)間: 2013-11-19

    上傳用戶:xz85592677

  • 紅外熱成像系統(tǒng)論文

    紅外熱成像

    標(biāo)簽: 紅外熱 成像系統(tǒng) 論文

    上傳時(shí)間: 2013-10-19

    上傳用戶:yangbo69

  • SBC1788原理圖

    ARM LPC1788 原理圖

    標(biāo)簽: 1788 SBC 原理圖

    上傳時(shí)間: 2014-01-08

    上傳用戶:13686209316

  • 甚低頻T形面型天線電氣性能分析

     運(yùn)用三維全波電磁仿真軟件對(duì)甚低頻T形面型天線進(jìn)行電磁建模和仿真分析計(jì)算,分析了天線的輸入阻抗、有效高度、電容等電氣參數(shù)。在建模時(shí)考慮了鐵塔及不同頂容線模型的影響,并對(duì)有無(wú)鐵塔及不同鐵塔類型、以及天線不同形式時(shí)天線的輸入阻抗進(jìn)行對(duì)比分析。

    標(biāo)簽: 低頻 天線 電氣 性能分析

    上傳時(shí)間: 2013-10-13

    上傳用戶:LouieWu

  • 精細(xì)結(jié)構(gòu)對(duì)分形天線小型化的影響

    為了了解分形技術(shù)中的精細(xì)結(jié)構(gòu)在分形天線的小型化設(shè)計(jì)中,對(duì)分形天線小型化的影響狀況,本文采用對(duì)比的方法,通過(guò)改變Koch分形單極子天線和普通單極子天線的結(jié)構(gòu)參數(shù),對(duì)比分析了不同的結(jié)構(gòu)參數(shù)下天線上電流分布的仿真結(jié)果,得出的結(jié)論是精細(xì)結(jié)構(gòu)的精細(xì)程度越精細(xì),分形結(jié)構(gòu)就能夠進(jìn)行越多次數(shù)的分形,分形天線小型化的程度也就越好。

    標(biāo)簽: 分形天線

    上傳時(shí)間: 2013-11-26

    上傳用戶:YUANQINHUI

  • 成像衛(wèi)星對(duì)區(qū)域目標(biāo)協(xié)同觀測(cè)問(wèn)題研究

    分析了多顆成像衛(wèi)星對(duì)區(qū)域目標(biāo)的協(xié)同觀測(cè)問(wèn)題的特點(diǎn),提出了基于星載遙感器的幅寬、側(cè)擺能力以及衛(wèi)星軌道參數(shù)的動(dòng)態(tài)區(qū)域劃分方法,該方法能夠根據(jù)衛(wèi)星參數(shù)及偏移參數(shù)動(dòng)態(tài)劃分候選觀測(cè)場(chǎng)景,從而充分利用衛(wèi)星每次過(guò)境的觀測(cè)機(jī)會(huì),特別適用于不同衛(wèi)星協(xié)同觀測(cè)的情況。在此基礎(chǔ)上建立了多星對(duì)區(qū)域目標(biāo)的協(xié)同觀測(cè)問(wèn)題模型,該模型采用總體覆蓋率來(lái)衡量觀測(cè)效率,消除了不同衛(wèi)星對(duì)區(qū)域目標(biāo)觀測(cè)的交叉重疊帶來(lái)的影響。最后提出了模型求解的模擬退火算法。仿真實(shí)驗(yàn)表明,本文提出的方法能夠有效提高多星對(duì)區(qū)域目標(biāo)的協(xié)同觀測(cè)效率。

    標(biāo)簽: 成像衛(wèi)星

    上傳時(shí)間: 2013-10-14

    上傳用戶:Ants

  • 基于粒子群算法的陣列天線波束賦形

    粒子群算法是在遺傳算法基礎(chǔ)上發(fā)展起來(lái)的一種新的并行優(yōu)化方法,可用于解決大量非線性、不可微和多峰值的復(fù)雜問(wèn)題。與遺傳算法不同的是,粒子群算法中的粒子有記憶功能,整個(gè)搜索過(guò)程是跟隨當(dāng)前最優(yōu)粒子的過(guò)程,因此在大多數(shù)情況下,所有的粒子可能更快的收斂于最優(yōu)解。而且粒子群算法理論簡(jiǎn)單,參數(shù)少,因此其應(yīng)用更為廣泛。文中把粒子群算法用于陣列天線的波束賦形,結(jié)果表明粒子群算法在對(duì)天線形狀進(jìn)行設(shè)計(jì)方面有很好的發(fā)展前景。

    標(biāo)簽: 粒子群算法 波束賦形 陣列天線

    上傳時(shí)間: 2013-11-14

    上傳用戶:lz4v4

  • 雷達(dá)目標(biāo)一維距離像特征提取方法研究

    基于雷達(dá)目標(biāo)一維距離像非衰減指數(shù)和模型,文中將遺傳算法和Relax算法相結(jié)合求取目標(biāo)散射中心參數(shù),充分發(fā)揮兩種算法的優(yōu)勢(shì),通過(guò)仿真分析證明了文中方法的有效性。

    標(biāo)簽: 雷達(dá)目標(biāo) 特征提取 方法研究

    上傳時(shí)間: 2014-12-30

    上傳用戶:我們的船長(zhǎng)

  • 成像測(cè)井中基于ARM LPC1788顯示系統(tǒng)的設(shè)計(jì)

    為了實(shí)現(xiàn)對(duì)成像測(cè)井系統(tǒng)中井下儀器所采集數(shù)據(jù)的實(shí)時(shí)顯示,設(shè)計(jì)了一種基于ARM LPC1788的顯示系統(tǒng)。該系統(tǒng)主要用來(lái)接收上位機(jī)命令,采集各種模擬信號(hào),將采集數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)顯示在液晶屏上。軟件部分采用Keil RealView MDK+c語(yǔ)言編程。實(shí)際應(yīng)用表明,該系統(tǒng)具有操作簡(jiǎn)便、測(cè)試準(zhǔn)確的特點(diǎn),達(dá)到了設(shè)計(jì)要求,滿足成像系統(tǒng)整體需求。

    標(biāo)簽: 1788 ARM LPC 成像測(cè)井

    上傳時(shí)間: 2013-11-02

    上傳用戶:lht618

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