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圖像數(shù)據(jù)

  • 用于低噪聲CMOS圖像傳感器的流水線ADC設計及其成像驗證

      在對低噪聲CMOS圖像傳感器的研究中,除需關注其噪聲外,目前數字化也是它的一個重要的研究和設計方向,設計了一種可用于低噪聲CMOS圖像傳感器的12 bit,10 Msps的流水線型ADC,并基于0.5 ?滋m標準CMOS工藝進行了流片。最后,通過在PCB測試版上用本文設計的ADC實現了模擬輸出的低噪聲CMOS圖像傳感器的模數轉換,并基于自主開發的成像測試系統進行了成像驗證,結果表明,成像畫面清晰,該ADC可作為低噪聲CMOS圖像傳感器的芯片級模數轉換器應用。

    標簽: CMOS ADC 低噪聲 圖像傳感器

    上傳時間: 2013-11-19

    上傳用戶:xz85592677

  • 紅外熱成像系統論文

    紅外熱成像

    標簽: 紅外熱 成像系統 論文

    上傳時間: 2013-10-19

    上傳用戶:yangbo69

  • J-link使用指南

    J-LINK仿真器詳細教程 flash下載操作等

    標簽: J-link 使用指南

    上傳時間: 2013-11-14

    上傳用戶:JamesB

  • 微帶天線[加]I.J.鮑爾

    微帶天線[加]I.J.鮑爾

    標簽: I.J. 微帶天線

    上傳時間: 2013-11-17

    上傳用戶:jhksyghr

  • 成像衛星對區域目標協同觀測問題研究

    分析了多顆成像衛星對區域目標的協同觀測問題的特點,提出了基于星載遙感器的幅寬、側擺能力以及衛星軌道參數的動態區域劃分方法,該方法能夠根據衛星參數及偏移參數動態劃分候選觀測場景,從而充分利用衛星每次過境的觀測機會,特別適用于不同衛星協同觀測的情況。在此基礎上建立了多星對區域目標的協同觀測問題模型,該模型采用總體覆蓋率來衡量觀測效率,消除了不同衛星對區域目標觀測的交叉重疊帶來的影響。最后提出了模型求解的模擬退火算法。仿真實驗表明,本文提出的方法能夠有效提高多星對區域目標的協同觀測效率。

    標簽: 成像衛星

    上傳時間: 2013-10-14

    上傳用戶:Ants

  • 雷達目標一維距離像特征提取方法研究

    基于雷達目標一維距離像非衰減指數和模型,文中將遺傳算法和Relax算法相結合求取目標散射中心參數,充分發揮兩種算法的優勢,通過仿真分析證明了文中方法的有效性。

    標簽: 雷達目標 特征提取 方法研究

    上傳時間: 2014-12-30

    上傳用戶:我們的船長

  • 成像測井中基于ARM LPC1788顯示系統的設計

    為了實現對成像測井系統中井下儀器所采集數據的實時顯示,設計了一種基于ARM LPC1788的顯示系統。該系統主要用來接收上位機命令,采集各種模擬信號,將采集數據實時顯示在液晶屏上。軟件部分采用Keil RealView MDK+c語言編程。實際應用表明,該系統具有操作簡便、測試準確的特點,達到了設計要求,滿足成像系統整體需求。

    標簽: 1788 ARM LPC 成像測井

    上傳時間: 2013-11-02

    上傳用戶:lht618

  • 基于FPGA的醫療成像實現

      醫療保健行業的發展趨勢是通過非置入手段來實現早期疾病預測,降低病人開支,這一趨勢促使醫療成像設備在該領域扮演了越來越重要的角色。為滿足這些行業目標需要的功能,設

    標簽: FPGA 醫療成像

    上傳時間: 2013-10-21

    上傳用戶:suoyuan

  • IC封裝製程簡介(IC封裝制程簡介)

    半導體的產品很多,應用的場合非常廣泛,圖一是常見的幾種半導體元件外型。半導體元件一般是以接腳形式或外型來劃分類別,圖一中不同類別的英文縮寫名稱原文為   PDID:Plastic Dual Inline Package SOP:Small Outline Package SOJ:Small Outline J-Lead Package PLCC:Plastic Leaded Chip Carrier QFP:Quad Flat Package PGA:Pin Grid Array BGA:Ball Grid Array         雖然半導體元件的外型種類很多,在電路板上常用的組裝方式有二種,一種是插入電路板的銲孔或腳座,如PDIP、PGA,另一種是貼附在電路板表面的銲墊上,如SOP、SOJ、PLCC、QFP、BGA。    從半導體元件的外觀,只看到從包覆的膠體或陶瓷中伸出的接腳,而半導體元件真正的的核心,是包覆在膠體或陶瓷內一片非常小的晶片,透過伸出的接腳與外部做資訊傳輸。圖二是一片EPROM元件,從上方的玻璃窗可看到內部的晶片,圖三是以顯微鏡將內部的晶片放大,可以看到晶片以多條銲線連接四周的接腳,這些接腳向外延伸並穿出膠體,成為晶片與外界通訊的道路。請注意圖三中有一條銲線從中斷裂,那是使用不當引發過電流而燒毀,致使晶片失去功能,這也是一般晶片遭到損毀而失效的原因之一。   圖四是常見的LED,也就是發光二極體,其內部也是一顆晶片,圖五是以顯微鏡正視LED的頂端,可從透明的膠體中隱約的看到一片方型的晶片及一條金色的銲線,若以LED二支接腳的極性來做分別,晶片是貼附在負極的腳上,經由銲線連接正極的腳。當LED通過正向電流時,晶片會發光而使LED發亮,如圖六所示。     半導體元件的製作分成兩段的製造程序,前一段是先製造元件的核心─晶片,稱為晶圓製造;後一段是將晶中片加以封裝成最後產品,稱為IC封裝製程,又可細分成晶圓切割、黏晶、銲線、封膠、印字、剪切成型等加工步驟,在本章節中將簡介這兩段的製造程序。

    標簽: 封裝 IC封裝 制程

    上傳時間: 2013-11-04

    上傳用戶:372825274

  • J-LIN仿真器操作步驟

    J-LIN仿真器操作步驟,J-LIN仿真器操作步驟。

    標簽: J-LIN 仿真器 操作

    上傳時間: 2013-10-31

    上傳用戶:1966640071

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