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執(zhí)(zhí)行時(shí)間

  • 并行數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為串行數(shù)據(jù)

    并行數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為串行數(shù)據(jù)

    標(biāo)簽: 并行數(shù)據(jù) 串行數(shù)據(jù) 轉(zhuǎn)換

    上傳時間: 2013-10-09

    上傳用戶:liu123

  • VC++6.0行號顯示工具帶使用說明LineNumberAddin

    VC++6.0行號顯示工具帶使用說明LineNumberAddin

    標(biāo)簽: LineNumberAddin 6.0 VC 使用說明

    上傳時間: 2013-10-21

    上傳用戶:songyue1991

  • VC++6.0行號顯示工具帶使用說明LineNumberAddin

    VC++6.0行號顯示工具帶使用說明LineNumberAddin

    標(biāo)簽: LineNumberAddin 6.0 VC 使用說明

    上傳時間: 2013-11-07

    上傳用戶:ysystc699

  • 基于FPGA的34位串行編碼信號設(shè)計與實現(xiàn)

        為實現(xiàn)某專用接口裝置的接口功能檢測,文中詳細(xì)地介紹了一種34位串行碼的編碼方式,并基于FPGA芯片設(shè)計了該類型編碼的接收、發(fā)送電路。重點分析了電路各模塊的設(shè)計思路。電路采用SOPC模塊作為中心控制器,設(shè)計簡潔、可靠。試驗表明:該設(shè)計系統(tǒng)運行正常、穩(wěn)定。

    標(biāo)簽: FPGA 串行 編碼 信號設(shè)計

    上傳時間: 2013-10-09

    上傳用戶:小寶愛考拉

  • 電路板維修相關(guān)技術(shù)資料

    電路板故障分析 維修方式介紹 ASA維修技術(shù) ICT維修技術(shù) 沒有線路圖,無從修起 電路板太複雜,維修困難 維修經(jīng)驗及技術(shù)不足 無法維修的死板,廢棄可惜 送電中作動態(tài)維修,危險性極高 備份板太多,積壓資金 送國外維修費用高,維修時間長 對老化零件無從查起無法預(yù)先更換 維修速度及效率無法提升,造成公司負(fù)擔(dān),客戶埋怨 投資大量維修設(shè)備,操作複雜,績效不彰

    標(biāo)簽: 電路板維修 技術(shù)資料

    上傳時間: 2013-11-09

    上傳用戶:chengxin

  • 二線制串行EEPROM應(yīng)用

    本文介紹了AT24C01系列二線制串行EEPROM的使用方法及串行EEPROM與單片機的軟件接口,簡要說明其在電機控制中保存控制參數(shù)的應(yīng)用

    標(biāo)簽: EEPROM 二線制 串行

    上傳時間: 2013-11-21

    上傳用戶:lps11188

  • 基于FPGA實現(xiàn)的高速串行交換模塊實現(xiàn)方法研究

    采用Xlinx公司的Virtex5系列FPGA設(shè)計了一個用于多種高速串行協(xié)議的數(shù)據(jù)交換模塊,并解決了該模塊實現(xiàn)中的關(guān)鍵問題.該交換模塊實現(xiàn)4X模式RapidIO協(xié)議與4X模式PCI Express協(xié)議之間的數(shù)據(jù)交換,以及自定義光纖協(xié)議與4X模式PCI Express協(xié)議之間的數(shù)據(jù)交換,實現(xiàn)了單字讀寫以及DMA操作,并提供高速穩(wěn)定的傳輸帶寬.

    標(biāo)簽: FPGA 高速串行 模塊 實現(xiàn)方法

    上傳時間: 2013-10-19

    上傳用戶:angle

  • 采用高速串行收發(fā)器Rocket I/O實現(xiàn)數(shù)據(jù)率為2.5 G

    摘要: 串行傳輸技術(shù)具有更高的傳輸速率和更低的設(shè)計成本, 已成為業(yè)界首選, 被廣泛應(yīng)用于高速通信領(lǐng)域。提出了一種新的高速串行傳輸接口的設(shè)計方案, 改進了Aurora 協(xié)議數(shù)據(jù)幀格式定義的弊端, 并采用高速串行收發(fā)器Rocket I/O, 實現(xiàn)數(shù)據(jù)率為2.5 Gbps的高速串行傳輸。關(guān)鍵詞: 高速串行傳輸; Rocket I/O; Aurora 協(xié)議 為促使FPGA 芯片與串行傳輸技術(shù)更好地結(jié)合以滿足市場需求, Xilinx 公司適時推出了內(nèi)嵌高速串行收發(fā)器RocketI/O 的Virtex II Pro 系列FPGA 和可升級的小型鏈路層協(xié)議———Aurora 協(xié)議。Rocket I/O支持從622 Mbps 至3.125 Gbps的全雙工傳輸速率, 還具有8 B/10 B 編解碼、時鐘生成及恢復(fù)等功能, 可以理想地適用于芯片之間或背板的高速串行數(shù)據(jù)傳輸。Aurora 協(xié)議是為專有上層協(xié)議或行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的上層協(xié)議提供透明接口的第一款串行互連協(xié)議, 可用于高速線性通路之間的點到點串行數(shù)據(jù)傳輸, 同時其可擴展的帶寬, 為系統(tǒng)設(shè)計人員提供了所需要的靈活性[4]。但該協(xié)議幀格式的定義存在弊端,會導(dǎo)致系統(tǒng)資源的浪費。本文提出的設(shè)計方案可以改進Aurora 協(xié)議的固有缺陷,提高系統(tǒng)性能, 實現(xiàn)數(shù)據(jù)率為2.5 Gbps 的高速串行傳輸, 具有良好的可行性和廣闊的應(yīng)用前景。

    標(biāo)簽: Rocket 2.5 高速串行 收發(fā)器

    上傳時間: 2013-10-13

    上傳用戶:lml1234lml

  • 基于FPGA的高速串行傳輸接口研究與實現(xiàn)

    摘 要:介紹了FPGA最新一代器件Virtex25上的高速串行收發(fā)器RocketIO。基于ML505開發(fā)平臺構(gòu)建了一個高速串行數(shù)據(jù)傳輸系統(tǒng),重點說明了該系統(tǒng)采用RocketIO實現(xiàn)1. 25Gbp s高速串行傳輸?shù)脑O(shè)計方案。實現(xiàn)并驗證了采用FPGA完成千兆串行傳輸?shù)墓δ苣繕?biāo),為后續(xù)采用FPGA實現(xiàn)各種高速協(xié)議奠定了良好的基礎(chǔ)。關(guān)鍵詞: FPGA;高速串行傳輸; RocketIO; GTP 在數(shù)字系統(tǒng)互連設(shè)計中,高速串行I/O技術(shù)取代傳統(tǒng)的并行I/O技術(shù)成為當(dāng)前發(fā)展的趨勢。與傳統(tǒng)并行I/O技術(shù)相比,串行方案提供了更大的帶寬、更遠(yuǎn)的距離、更低的成本和更高的擴展能力,克服了并行I/O設(shè)計存在的缺陷。在實際設(shè)計應(yīng)用中,采用現(xiàn)場可編程門陣列( FPGA)實現(xiàn)高速串行接口是一種性價比較高的技術(shù)途徑。

    標(biāo)簽: FPGA 高速串行 傳輸接口

    上傳時間: 2013-10-22

    上傳用戶:semi1981

  • pcb layout design(臺灣硬件工程師15年經(jīng)驗

    PCB LAYOUT 術(shù)語解釋(TERMS)1. COMPONENT SIDE(零件面、正面)︰大多數(shù)零件放置之面。2. SOLDER SIDE(焊錫面、反面)。3. SOLDER MASK(止焊膜面)︰通常指Solder Mask Open 之意。4. TOP PAD︰在零件面上所設(shè)計之零件腳PAD,不管是否鑽孔、電鍍。5. BOTTOM PAD:在銲錫面上所設(shè)計之零件腳PAD,不管是否鑽孔、電鍍。6. POSITIVE LAYER:單、雙層板之各層線路;多層板之上、下兩層線路及內(nèi)層走線皆屬之。7. NEGATIVE LAYER:通常指多層板之電源層。8. INNER PAD:多層板之POSITIVE LAYER 內(nèi)層PAD。9. ANTI-PAD:多層板之NEGATIVE LAYER 上所使用之絕緣範(fàn)圍,不與零件腳相接。10. THERMAL PAD:多層板內(nèi)NEGATIVE LAYER 上必須零件腳時所使用之PAD,一般稱為散熱孔或?qū)住?1. PAD (銲墊):除了SMD PAD 外,其他PAD 之TOP PAD、BOTTOM PAD 及INNER PAD 之形狀大小皆應(yīng)相同。12. Moat : 不同信號的 Power& GND plane 之間的分隔線13. Grid : 佈線時的走線格點2. Test Point : ATE 測試點供工廠ICT 測試治具使用ICT 測試點 LAYOUT 注意事項:PCB 的每條TRACE 都要有一個作為測試用之TEST PAD(測試點),其原則如下:1. 一般測試點大小均為30-35mil,元件分布較密時,測試點最小可至30mil.測試點與元件PAD 的距離最小為40mil。2. 測試點與測試點間的間距最小為50-75mil,一般使用75mil。密度高時可使用50mil,3. 測試點必須均勻分佈於PCB 上,避免測試時造成板面受力不均。4. 多層板必須透過貫穿孔(VIA)將測試點留於錫爐著錫面上(Solder Side)。5. 測試點必需放至於Bottom Layer6. 輸出test point report(.asc 檔案powerpcb v3.5)供廠商分析可測率7. 測試點設(shè)置處:Setup􀃆pads􀃆stacks

    標(biāo)簽: layout design pcb 硬件工程師

    上傳時間: 2013-11-17

    上傳用戶:cjf0304

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