本文介紹了O P207 雙極運算放大器的60CoC射線、不同能量電子和質(zhì)子的輻照試驗以及60CoC和電子輻射損傷在室溫和100℃高溫條件下的退火效應(yīng), 揭示了雙極運算放大器電參數(shù)對不同射線的輻照響應(yīng)規(guī)律; 研究了不同輻射源對雙極運算放大器的不同輻射損傷機理; 并對質(zhì)子輻照損傷程度與能量的依賴關(guān)系以及質(zhì)子輻照損傷同60CoC和電子輻照損傷的差異進了探討. 結(jié)果表明, 界面態(tài)的產(chǎn)生是60CoC和電子輻照損傷的主要原因, 而位移效應(yīng)造成的體損傷在質(zhì)子輻照效應(yīng)中占有重要地位.
標簽：
雙極
運算放大器
輻射效應(yīng)
上傳時間：
2013-11-12
上傳用戶：gououo
