基于FPGA的紅外圖像非均勻性校正方法
隨著紅外焦平面陣列的不斷發(fā)展，紅外技術(shù)的應(yīng)用范圍將越來越廣泛。焦平面面陣探測器的一個最大的缺點是固有的非均勻性。本文首先介紹了紅外熱成像技術(shù)的發(fā)展，討論了紅外焦平面陣列的基本原理和工作方式，分析了紅外...
容性負(fù)載技術(shù)資料
?? 資源總數(shù)：4032
?? 源代碼：5046
?? 電路圖：1
?? 容性負(fù)載全部資料 (4032個)
基于FPGA的可測性設(shè)計方法研究
現(xiàn)場可編程門陣列(FPGA)是一種現(xiàn)場可編程專用集成電路，它將門陣列的通用結(jié)構(gòu)與現(xiàn)場可編程的特性結(jié)合于一體，如今，F(xiàn)PGA系列器件已成為最受歡迎的器件之一。隨著FPGA器件的廣泛應(yīng)用，它在數(shù)字系統(tǒng)中的...
紅外焦平面陣列非均勻性校正
文中簡單闡述了紅外輻射機(jī)理，論述了紅外焦平面陣列技術(shù)的發(fā)展?fàn)顩r。紅外成像系統(tǒng)，尤其是紅外焦平面陣列，由于探測器材料和制造工藝的原因，各像素點之間的靈敏度存在差別，甚至存在一些缺陷點，各個探測單元特征參...
PCB可制造性設(shè)計
在pcb設(shè)計中，對于可制造性設(shè)計需要認(rèn)真對待，值得大家學(xué)習(xí)...
數(shù)字集成電路與嵌入式內(nèi)核系統(tǒng)可測試性設(shè)計（影印版）
·書中包括的索引使你能夠根據(jù)自己的需要，直接閱讀你所關(guān)注的內(nèi)容。主要內(nèi)容包括：設(shè)計核心，關(guān)注嵌入核心和嵌入存儲器；系統(tǒng)集成和超大規(guī)模集成電路的設(shè)計問題；AC掃描、正常速度掃描和嵌入式可測試性設(shè)計；內(nèi)建...
阻容降壓電路及計算
在非隔離時，經(jīng)常會用到阻容降壓的方式進(jìn)行供電，這樣大大節(jié)省了電路成本...
fpga的理解性word
fpga的理解性word，對設(shè)計有幫助，延遲，效率問題等...
FPGA和DSP的設(shè)計可靠性及可維護(hù)性對比
FPGA和DSP的設(shè)計可靠性及可維護(hù)性對比.pdf...
CAM350 8.7.1使用說明
CAM350 為PCB 設(shè)計和PCB 生產(chǎn)提供了相應(yīng)的工具（CAM350 for PCB Designers 和CAM350 for CAM Engineers），很容易地把PCB設(shè)計和PCB生產(chǎn)融合...
板級模擬電路仿真收斂性技術(shù)研究
電路仿真不僅應(yīng)用于電路設(shè)計階段，也用于電路故障診斷中。電路仿真結(jié)果能夠為建立電路測試診斷知識庫提供重要的參考信息。本文簡要介紹了電路仿真收斂性的相關(guān)理論，分析了板級模擬電路直流分析和瞬態(tài)分析的仿真收斂...