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實(shí)時(shí)回放

  • 集成運(yùn)放應(yīng)用電路設(shè)計(jì)實(shí)例匯總

    全面的常用運(yùn)放電路設(shè)計(jì)

    標(biāo)簽: 集成運(yùn)放 應(yīng)用電路 設(shè)計(jì)實(shí)例

    上傳時(shí)間: 2013-10-11

    上傳用戶(hù):思琦琦

  • 運(yùn)放電路分析

    運(yùn)放

    標(biāo)簽: 運(yùn)放 電路分析

    上傳時(shí)間: 2013-10-29

    上傳用戶(hù):yimoney

  • 共源共柵兩級(jí)運(yùn)放中兩種補(bǔ)償方法的比較

    給出了兩種應(yīng)用于兩級(jí)CMOS 運(yùn)算放大器的密勒補(bǔ)償技術(shù)的比較,用共源共柵密勒補(bǔ)償技術(shù)設(shè)計(jì)出的CMOS 運(yùn)放與直接密勒補(bǔ)償相比,具有更大的單位增益帶寬、更大的擺率和更小的信號(hào)建立時(shí)間等優(yōu)點(diǎn),還可以在達(dá)到相同補(bǔ)償效果的情況下極大地減小版圖尺寸. 通過(guò)電路級(jí)小信號(hào)等效電路的分析和仿真,對(duì)兩種補(bǔ)償技術(shù)進(jìn)行比較,結(jié)果驗(yàn)證了共源共柵密勒補(bǔ)償技術(shù)相對(duì)于直接密勒補(bǔ)償技術(shù)的優(yōu)越性.

    標(biāo)簽: 共源共柵 運(yùn)放 補(bǔ)償 比較

    上傳時(shí)間: 2013-10-14

    上傳用戶(hù):gengxiaochao

  • 針對(duì)高速應(yīng)用的電流回授運(yùn)算放大器

    訊號(hào)路徑設(shè)計(jì)講座(9)針對(duì)高速應(yīng)用的電流回授運(yùn)算放大器電流回授運(yùn)算放大器架構(gòu)已成為各類(lèi)應(yīng)用的主要解決方案。該放大器架構(gòu)具有很多優(yōu)勢(shì),并且?guī)缀蹩蓪?shí)施于任何需要運(yùn)算放大器的應(yīng)用當(dāng)中。電流回授放大器沒(méi)有基本的增益頻寬產(chǎn)品的局限,隨著訊號(hào)振幅的增加,而頻寬損耗依然很小就證明了這一點(diǎn)。由于大訊號(hào)具有極小的失真,所以在很高的頻率情況下這些放大器都具有極佳的線(xiàn)性度。電流回授放大器在很寬的增益范圍內(nèi)的頻寬損耗很低,而電壓回授放大器的頻寬損耗卻隨著增益的增加而增加。準(zhǔn)確地說(shuō)就是電流回授放大器沒(méi)有增益頻寬產(chǎn)品的限制。當(dāng)然,電流回授放大器也不是無(wú)限快的。變動(dòng)率受制于晶體管本身的速度限制(而非內(nèi)部偏置(壓)電流)。這可以在給定的偏壓電流下實(shí)現(xiàn)更大的變動(dòng)率,而無(wú)需使用正回授和其它可能影響穩(wěn)定性的轉(zhuǎn)換增強(qiáng)技術(shù)。那么,我們?nèi)绾蝸?lái)建立這樣一個(gè)奇妙的電路呢?電流回授運(yùn)算放大器具有一個(gè)與差動(dòng)對(duì)相對(duì)的輸入緩沖器。輸入緩沖器通常是一個(gè)射極追隨器或類(lèi)似的器件。非反向輸入是高阻抗的,而緩沖器的輸出(即放大器的反向輸入)是低阻抗的。相反,電壓回授放大器的2個(gè)輸入均是高阻抗的。電流回授運(yùn)算放大器輸出的是電壓,而且與透過(guò)稱(chēng)為互阻抗Z(s)的復(fù)變函數(shù)流出或流入運(yùn)算放大器的反向輸入端的電流有關(guān)。在直流電情況下,互阻抗很高(與電壓回授放大器類(lèi)似),并且隨著頻率的增加而單極滾降。

    標(biāo)簽: 電流 運(yùn)算放大器

    上傳時(shí)間: 2013-10-19

    上傳用戶(hù):黃蛋的蛋黃

  • 隨機(jī)變量及其分布

    1.(Ch2-2)一批零件中有9個(gè)合格品與3個(gè)廢品,安裝時(shí)從這批零件中任取一個(gè),如果每次取出的廢品不再放回,求在取得合格品以前取出的廢品數(shù)的分布律。 分析:在取得合格品以前取出的廢品數(shù)是一隨機(jī)變量,要求其分布律,只需確定隨機(jī)變量的一切可能取值及相應(yīng)的概率即可。 解:設(shè)X表示在取得合格品以前取出的廢品數(shù),由題意知X的可能取值為0,

    標(biāo)簽: 隨機(jī)變量 分布

    上傳時(shí)間: 2013-10-31

    上傳用戶(hù):xiaoxiang

  • pcb layout design(臺(tái)灣硬件工程師15年經(jīng)驗(yàn)

    PCB LAYOUT 術(shù)語(yǔ)解釋(TERMS)1. COMPONENT SIDE(零件面、正面)︰大多數(shù)零件放置之面。2. SOLDER SIDE(焊錫面、反面)。3. SOLDER MASK(止焊膜面)︰通常指Solder Mask Open 之意。4. TOP PAD︰在零件面上所設(shè)計(jì)之零件腳PAD,不管是否鑽孔、電鍍。5. BOTTOM PAD:在銲錫面上所設(shè)計(jì)之零件腳PAD,不管是否鑽孔、電鍍。6. POSITIVE LAYER:?jiǎn)巍㈦p層板之各層線(xiàn)路;多層板之上、下兩層線(xiàn)路及內(nèi)層走線(xiàn)皆屬之。7. NEGATIVE LAYER:通常指多層板之電源層。8. INNER PAD:多層板之POSITIVE LAYER 內(nèi)層PAD。9. ANTI-PAD:多層板之NEGATIVE LAYER 上所使用之絕緣範(fàn)圍,不與零件腳相接。10. THERMAL PAD:多層板內(nèi)NEGATIVE LAYER 上必須零件腳時(shí)所使用之PAD,一般稱(chēng)為散熱孔或?qū)住?1. PAD (銲墊):除了SMD PAD 外,其他PAD 之TOP PAD、BOTTOM PAD 及INNER PAD 之形狀大小皆應(yīng)相同。12. Moat : 不同信號(hào)的 Power& GND plane 之間的分隔線(xiàn)13. Grid : 佈線(xiàn)時(shí)的走線(xiàn)格點(diǎn)2. Test Point : ATE 測(cè)試點(diǎn)供工廠(chǎng)ICT 測(cè)試治具使用ICT 測(cè)試點(diǎn) LAYOUT 注意事項(xiàng):PCB 的每條TRACE 都要有一個(gè)作為測(cè)試用之TEST PAD(測(cè)試點(diǎn)),其原則如下:1. 一般測(cè)試點(diǎn)大小均為30-35mil,元件分布較密時(shí),測(cè)試點(diǎn)最小可至30mil.測(cè)試點(diǎn)與元件PAD 的距離最小為40mil。2. 測(cè)試點(diǎn)與測(cè)試點(diǎn)間的間距最小為50-75mil,一般使用75mil。密度高時(shí)可使用50mil,3. 測(cè)試點(diǎn)必須均勻分佈於PCB 上,避免測(cè)試時(shí)造成板面受力不均。4. 多層板必須透過(guò)貫穿孔(VIA)將測(cè)試點(diǎn)留於錫爐著錫面上(Solder Side)。5. 測(cè)試點(diǎn)必需放至於Bottom Layer6. 輸出test point report(.asc 檔案powerpcb v3.5)供廠(chǎng)商分析可測(cè)率7. 測(cè)試點(diǎn)設(shè)置處:Setup􀃆pads􀃆stacks

    標(biāo)簽: layout design pcb 硬件工程師

    上傳時(shí)間: 2013-10-22

    上傳用戶(hù):pei5

  • 四相升壓型轉(zhuǎn)換器提供348W功率而無(wú)需采用散熱器

    在汽車(chē)、工業(yè)和電信行業(yè)的設(shè)計(jì)師當(dāng)中,使用高功率升壓型轉(zhuǎn)換器的現(xiàn)像正變得越來(lái)越普遍。當(dāng)需要 300W 或更高的功率時(shí),必須在功率器件中實(shí)現(xiàn)高效率 (低功率損耗),以免除增設(shè)龐大散熱器和采用強(qiáng)迫通風(fēng)冷卻的需要

    標(biāo)簽: 348W 升壓型轉(zhuǎn)換器 功率 散熱器

    上傳時(shí)間: 2014-12-01

    上傳用戶(hù):lhc9102

  • 十種運(yùn)放精密全波整流電路

    十種運(yùn)放精密全波整流電路,很全面的電路

    標(biāo)簽: 運(yùn)放 精密 全波整流 電路

    上傳時(shí)間: 2013-11-08

    上傳用戶(hù):561596

  • 高強(qiáng)度氣體放電燈的整流效應(yīng)機(jī)理及保護(hù)方法研究

    高強(qiáng)度放電燈

    標(biāo)簽: 氣體放電燈 整流 效應(yīng)機(jī)理 保護(hù)

    上傳時(shí)間: 2013-11-03

    上傳用戶(hù):ljt101007

  • 運(yùn)放中恒流源電路分析方法

    運(yùn)放電路中的恒流源電路分析方法 普通鏡像恒流源、多集電極恒流源、高精度鏡像恒流源、高內(nèi)阻恒流源和鏡像微恒流源電路,以及恒流源電路輸出電阻的計(jì)算等。   分析恒流源電路的方法是:         (1)確定恒流源電路中的基準(zhǔn)晶體管或場(chǎng)效應(yīng)管;         (2) 計(jì)算或確定基準(zhǔn)電流;  &nbbsp;       (4)繪制恒流部分的交流通路,確定恒流源的內(nèi)阻。         由于恒流源的內(nèi)阻較大,計(jì)算恒流源內(nèi)阻時(shí)不能忽略三極管集電極與發(fā)射極之間,或場(chǎng)效應(yīng)管漏極與源極之間的動(dòng)態(tài)電阻

    標(biāo)簽: 運(yùn)放 恒流源電路 分析方法

    上傳時(shí)間: 2013-10-09

    上傳用戶(hù):gxmm

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