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對稱密碼學(xué)

西門子密鑰

西門子s7-300plc編程軟件step-7 v5.4電子密鑰（無限期）。

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上傳時(shí)間： 2013-06-08

上傳用戶：yepeng139
阻抗匹配與史密斯(Smith)圓圖

本文利用史密斯圓圖作為RF阻抗匹配的設(shè)計(jì)指南。文中給出了反射系數(shù)、阻抗和導(dǎo)納的作圖范例，并用作圖法設(shè)計(jì)了一個(gè)頻率為60MHz的匹配網(wǎng)絡(luò)。

標(biāo)簽： Smith 阻抗匹配史密斯

上傳時(shí)間： 2013-06-18

上傳用戶：huangping588
LED驅(qū)動電源選擇密招

LED驅(qū)動電源選擇密招，比較詳細(xì)的介紹了LED驅(qū)動電源的選購要點(diǎn)，設(shè)計(jì)到了技術(shù)性問題！

標(biāo)簽： LED 驅(qū)動電源選擇

上傳時(shí)間： 2013-04-24

上傳用戶：jxfzjh
5分鐘學(xué)會使用CPLD

5分鐘學(xué)會使用CPLD,經(jīng)典資料，有想學(xué)習(xí)CPLD的朋友有福了

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上傳時(shí)間： 2013-08-22

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史密斯圓圖使用手冊

史密斯圓圖使用手冊

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上傳時(shí)間： 2013-10-26

上傳用戶：kinochen
555芯片用于組成單穩(wěn)態(tài)觸發(fā)器、施密特觸發(fā)器以及多諧振蕩器

555芯片用于組成單穩(wěn)態(tài)觸發(fā)器、施密特觸發(fā)器以及多諧振蕩器。

標(biāo)簽： 555 芯片單穩(wěn)態(tài)觸發(fā)器施密特觸發(fā)器

上傳時(shí)間： 2013-10-19

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pcb layout design(臺灣硬件工程師15年經(jīng)驗(yàn)

PCB LAYOUT 術(shù)語解釋(TERMS)1. COMPONENT SIDE(零件面、正面)︰大多數(shù)零件放置之面。2. SOLDER SIDE(焊錫面、反面)。3. SOLDER MASK(止焊膜面)︰通常指Solder Mask Open 之意。4. TOP PAD︰在零件面上所設(shè)計(jì)之零件腳PAD，不管是否鑽孔、電鍍。5. BOTTOM PAD：在銲錫面上所設(shè)計(jì)之零件腳PAD，不管是否鑽孔、電鍍。6. POSITIVE LAYER：單、雙層板之各層線路；多層板之上、下兩層線路及內(nèi)層走線皆屬之。7. NEGATIVE LAYER：通常指多層板之電源層。8. INNER PAD：多層板之POSITIVE LAYER 內(nèi)層PAD。9. ANTI-PAD：多層板之NEGATIVE LAYER 上所使用之絕緣範(fàn)圍，不與零件腳相接。10. THERMAL PAD：多層板內(nèi)NEGATIVE LAYER 上必須零件腳時(shí)所使用之PAD，一般稱為散熱孔或?qū)住?1. PAD (銲墊)：除了SMD PAD 外，其他PAD 之TOP PAD、BOTTOM PAD 及INNER PAD 之形狀大小皆應(yīng)相同。12. Moat : 不同信號的 Power& GND plane 之間的分隔線13. Grid : 佈線時(shí)的走線格點(diǎn)2. Test Point : ATE 測試點(diǎn)供工廠ICT 測試治具使用ICT 測試點(diǎn) LAYOUT 注意事項(xiàng):PCB 的每條TRACE 都要有一個(gè)作為測試用之TEST PAD(測試點(diǎn))，其原則如下：1. 一般測試點(diǎn)大小均為30-35mil，元件分布較密時(shí)，測試點(diǎn)最小可至30mil.測試點(diǎn)與元件PAD 的距離最小為40mil。2. 測試點(diǎn)與測試點(diǎn)間的間距最小為50-75mil，一般使用75mil。密度高時(shí)可使用50mil,3. 測試點(diǎn)必須均勻分佈於PCB 上，避免測試時(shí)造成板面受力不均。4. 多層板必須透過貫穿孔(VIA)將測試點(diǎn)留於錫爐著錫面上(Solder Side)。5. 測試點(diǎn)必需放至於Bottom Layer6. 輸出test point report(.asc 檔案powerpcb v3.5)供廠商分析可測率7. 測試點(diǎn)設(shè)置處:Setup􀃆pads􀃆stacks

標(biāo)簽： layout design pcb 硬件工程師

上傳時(shí)間： 2013-10-22

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利用動態(tài)密勒補(bǔ)償電路解決LDO的穩(wěn)定性問題

利用動態(tài)密勒補(bǔ)償電路解決LDO的穩(wěn)定性問題:針對LDO穩(wěn)壓器的穩(wěn)定性問題，設(shè)計(jì)了一種新穎的動態(tài)密勒補(bǔ)償電路8與傳統(tǒng)方法相比，該電路具有恒定的帶寬，大大提高了系統(tǒng)的瞬態(tài)響應(yīng)性能，同時(shí)將開環(huán)增益提高了，左右使6LDO穩(wěn)壓器具有較高的電壓調(diào)整率和負(fù)載調(diào)整率。通過具體投片，驗(yàn)證了該方法的正確性和可行性。關(guān)鍵詞：低壓降穩(wěn)壓器，動態(tài)密勒補(bǔ)償，穩(wěn)定性，P型場效應(yīng)管電容器

標(biāo)簽： LDO 動態(tài) 密勒補(bǔ)償電路

上傳時(shí)間： 2013-10-24

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4x4鍵盤的設(shè)計(jì)與制作

三種方法讀取鍵值􀂄 使用者設(shè)計(jì)行列鍵盤介面，一般常採用三種方法讀取鍵值。􀂉 中斷式􀂄 在鍵盤按下時(shí)產(chǎn)生一個(gè)外部中斷通知CPU，並由中斷處理程式通過不同位址讀資料線上的狀態(tài)判斷哪個(gè)按鍵被按下。􀂄 本實(shí)驗(yàn)採用中斷式實(shí)現(xiàn)使用者鍵盤介面。􀂉 掃描法􀂄 對鍵盤上的某一行送低電位，其他為高電位，然後讀取列值，若列值中有一位是低，表明該行與低電位對應(yīng)列的鍵被按下。否則掃描下一行。􀂉 反轉(zhuǎn)法􀂄 先將所有行掃描線輸出低電位，讀列值，若列值有一位是低表明有鍵按下；接著所有列掃描線輸出低電位，再讀行值。􀂄 根據(jù)讀到的值組合就可以查表得到鍵碼。4x4鍵盤按4行4列組成如圖電路結(jié)構(gòu)。按鍵按下將會使行列連成通路，這也是見的使用者鍵盤設(shè)計(jì)電路。 //-----------4X4鍵盤程序--------------// uchar keboard(void) { uchar xxa,yyb,i,key; if((PINC&0x0f)!=0x0f) //是否有按鍵按下 {delayms(1); //延時(shí)去抖動 if((PINC&0x0f)!=0x0f) //有按下則判斷 { xxa=~(PINC|0xf0); //0000xxxx DDRC=0x0f; PORTC=0xf0; delay_1ms(); yyb=~(PINC|0x0f); //xxxx0000 DDRC=0xf0; //復(fù)位 PORTC=0x0f; while((PINC&0x0f)!=0x0f) //按鍵是否放開 { display(data); } i=4; //計(jì)算返回碼 while(xxa!=0) { xxa=xxa>>1; i--; } if(yyb==0x80) key=i; else if(yyb==0x40) key=4+i; else if(yyb==0x20) key=8+i; else if(yyb==0x10) key=12+i; return key; //返回按下的鍵盤碼 } } else return 17; //沒有按鍵按下 }

標(biāo)簽： 4x4 鍵盤

上傳時(shí)間： 2013-11-12

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無線局域網(wǎng)掃描和密鑰破解工具

無線局域網(wǎng)掃描和密鑰破解工具

標(biāo)簽： 無線局域網(wǎng) 密鑰破解

上傳時(shí)間： 2014-12-29

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