項目的研究內容是對硅微諧振式加速度計的數據采集電路開展研究工作。硅微諧振式加速度計敏感結構輸出的是兩路差分的頻率信號，因此硅微諧振式加速度計數據采集電路完成的主要任務是測出兩路頻率信號的差值。測量要求是：實現10ms內對中心諧振頻率為20kHz、標度因數為100Hz/g、量程為±50g、分辨率為1mg的硅微諧振式加速度計輸出的頻率信號的測量，等效測量誤差為±1mg。電路的控制核心為單片機，具有串行接口以便將測量結果傳送給PC機從而分析、保存測量結果。\\r\\n按研究內容設計了軟硬件。軟件采用多周期同步法
上傳時間： 2013-08-11
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基于ARM 微控制器配置FPGA 的實現\r\n摘 要:介紹了基于ARM 內核的ATMEL AT91FR4081 微控制器以J TAG 的ISP 方式配置XILINX\r\nXC2S150PQ208 FPGA 的實現過程。這是一種靈活和經濟的FPGA 的配置方法。介紹了ISP 和J TAG 的原\r\n理、系統實現的流程、硬件電路設計、J TAG 驅動算法的實現和配置時間的測試結果。
標簽： XILINXFPGA ATMEL 4081 JTAG
上傳時間： 2013-08-15
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LTC®2366 及其較慢速的版本提供了一種高性能的替代方案，如表 1 中的 AC 規格所示。您不妨將這些有保證的規格與自己現用微控制器內置的 ADC 進行一番比較。
上傳時間： 2013-11-20
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介紹了一種橫向Ka波段寬帶波導-微帶探針過渡的設計，基于有限元場分析軟件Ansoft HFSS對該類過渡的設計方法進行了研究。最后給出了Ka波段內的優化數據。仿真結果表明，該寬帶波導-微帶探針過渡在26.5G~40 GHz內插入損耗小于0.065 dB，達到了設計目標。
上傳時間： 2014-05-27
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平行耦合微帶線帶通濾波器在微波電路系統中廣泛應用。為了提高帶通濾波器性能，縮短設計周期，采用奇偶模原理分析與ADS（Advanced Design System）仿真相結合的方法，設計出一個中心頻率為2.5 GHz，相對帶寬為10%的平行耦合微帶線帶通濾波器。進一步優化參數，得到電路版圖。最終結果證明，這種方法具有設計周期短、可靠性高的特點，且各項參數滿足設計要求。
上傳時間： 2013-10-12
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本文依據微波電磁場理論概述了微帶鐵氧體器件在毫米波頻率下的工作模式, 探討了毫米波微帶鐵氧體器件的電參數的設計考慮, 對從事毫米波微帶鐵氧體器件的研究, 提供了基本的設計模型, 以期引起進一步的探討。
上傳時間： 2013-10-07
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介紹了基于AD549高精度快響應低漂移微電流放大器的工作原理、電路設計和制造工藝、詞試技術，該微電流放大器是核反應堆反應性測量的關鍵部件之一，其低噪聲、快響應與低漂移技術是精確測量反應性重要因數之一。
上傳時間： 2013-10-25
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采用扇形微帶短截線作為濾波器的基本單元,設計出具有寬頻特性的濾波器,在微波平面電路的設計中有著良好的應用前景。通過設計扇形微帶短截線單元的物理尺寸,能夠實現特定頻段的高選擇性濾波器。用ADS 和HFSS 對這種新型濾波器與傳統直形濾波器進行了特性對比,在特性方面,新型濾波器比傳統濾波器具有更陡峭的過渡帶和更寬的頻帶等優點;在結構方面,新型濾波器電路相對傳統濾波器可以減少基板面積。
上傳時間： 2013-10-20
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對高速PCB中的微帶線在多種不同情況下進行了有損傳輸的串擾仿真和分析, 通過有、無端接時改變線間距、線長和線寬等參數的仿真波形中近端串擾和遠端串擾波形的直觀變化和對比, 研究了高速PCB設計中串擾的產生和有效抑制, 相關結論對在高速PCB中合理利用微帶線進行信號傳輸提供了一定的依據.
上傳時間： 2013-10-26
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半導體的產品很多，應用的場合非常廣泛，圖一是常見的幾種半導體元件外型。半導體元件一般是以接腳形式或外型來劃分類別，圖一中不同類別的英文縮寫名稱原文為 PDID：Plastic Dual Inline Package SOP：Small Outline Package SOJ：Small Outline J-Lead Package PLCC：Plastic Leaded Chip Carrier QFP：Quad Flat Package PGA：Pin Grid Array BGA：Ball Grid Array 雖然半導體元件的外型種類很多，在電路板上常用的組裝方式有二種，一種是插入電路板的銲孔或腳座，如PDIP、PGA，另一種是貼附在電路板表面的銲墊上，如SOP、SOJ、PLCC、QFP、BGA。 從半導體元件的外觀，只看到從包覆的膠體或陶瓷中伸出的接腳，而半導體元件真正的的核心，是包覆在膠體或陶瓷內一片非常小的晶片，透過伸出的接腳與外部做資訊傳輸。圖二是一片EPROM元件，從上方的玻璃窗可看到內部的晶片，圖三是以顯微鏡將內部的晶片放大，可以看到晶片以多條銲線連接四周的接腳，這些接腳向外延伸並穿出膠體，成為晶片與外界通訊的道路。請注意圖三中有一條銲線從中斷裂，那是使用不當引發過電流而燒毀，致使晶片失去功能，這也是一般晶片遭到損毀而失效的原因之一。 圖四是常見的LED，也就是發光二極體，其內部也是一顆晶片，圖五是以顯微鏡正視LED的頂端，可從透明的膠體中隱約的看到一片方型的晶片及一條金色的銲線，若以LED二支接腳的極性來做分別，晶片是貼附在負極的腳上，經由銲線連接正極的腳。當LED通過正向電流時，晶片會發光而使LED發亮，如圖六所示。 半導體元件的製作分成兩段的製造程序，前一段是先製造元件的核心─晶片，稱為晶圓製造；後一段是將晶中片加以封裝成最後產品，稱為IC封裝製程，又可細分成晶圓切割、黏晶、銲線、封膠、印字、剪切成型等加工步驟，在本章節中將簡介這兩段的製造程序。
上傳時間： 2014-01-20
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