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應(yīng)用層協(xié)議

  • 8202D GPIO table setting,說明GPIO的對(duì)應(yīng)表格非常好用

    8202D GPIO table setting,說明GPIO的對(duì)應(yīng)表格非常好用

    標(biāo)簽: GPIO setting 8202D table

    上傳時(shí)間: 2014-01-23

    上傳用戶:yimoney

  • 用photoimpact來玩影像魔術(shù)

    用photoimpact來玩影像魔術(shù),漸進(jìn)到多層次的影像處理,讓讀者盡情大玩影像魔術(shù),在不可思議的數(shù)十分鐘,完成你異想天開的想像

    標(biāo)簽: photoimpact

    上傳時(shí)間: 2013-12-09

    上傳用戶:wanghui2438

  • 8051利用iic通訊協(xié)定讀寫device.採用ASM語言撰寫

    8051利用iic通訊協(xié)定讀寫device.採用ASM語言撰寫

    標(biāo)簽: device 8051 iic ASM

    上傳時(shí)間: 2013-12-03

    上傳用戶:zhangyi99104144

  • 這是用 PIC 寫的利用感應(yīng)大門轉(zhuǎn)速偵測(cè)大門是否碰到障礙物

    這是用 PIC 寫的利用感應(yīng)大門轉(zhuǎn)速偵測(cè)大門是否碰到障礙物

    標(biāo)簽: PIC

    上傳時(shí)間: 2013-12-08

    上傳用戶:aig85

  • 這是用MICROCHIP PIC做的可控制三相或單相感應(yīng)馬達(dá)正反轉(zhuǎn)作為大門開啟用

    這是用MICROCHIP PIC做的可控制三相或單相感應(yīng)馬達(dá)正反轉(zhuǎn)作為大門開啟用

    標(biāo)簽: MICROCHIP PIC 控制 三相

    上傳時(shí)間: 2014-08-10

    上傳用戶:linlin

  • Programming the Microsoft Windows driver model繁中版 透過Windows驅(qū)動(dòng)程式的權(quán)威們專業(yè)的協(xié)助

    Programming the Microsoft Windows driver model繁中版 透過Windows驅(qū)動(dòng)程式的權(quán)威們專業(yè)的協(xié)助,學(xué)習(xí)如何使用簡(jiǎn)易的方式來撰寫Windows驅(qū)動(dòng)程式。 Microsoft WDM支援隨插即用(PnP)功能,提供了電源管理能力,並詳述撰寫驅(qū)動(dòng)程式/迷你驅(qū)動(dòng)程式的方法。這本由長(zhǎng)時(shí)間接觸裝置驅(qū)動(dòng)程式的專家Walter Oney 與Windows核心小組共同合作的書提供了大量很實(shí)用的例子、圖表、建議,並一行一行分析範(fàn)例的程式碼,好讓您能夠清楚了解實(shí)際上在撰寫驅(qū)動(dòng)程式時(shí)所會(huì)發(fā)生的問題。另外亦更新了Windows XP及Windows 2000的最新驅(qū)動(dòng)程式技術(shù),又告訴您如何除錯(cuò)。

    標(biāo)簽: Windows Programming Microsoft driver

    上傳時(shí)間: 2014-01-19

    上傳用戶:cjl42111

  • DLL send Mouse Key ,用底層的方式送 Mouse 訊息 , 而非一般的 Mouse Hook 喔 !!

    DLL send Mouse Key ,用底層的方式送 Mouse 訊息 , 而非一般的 Mouse Hook 喔 !!

    標(biāo)簽: Mouse send Hook DLL

    上傳時(shí)間: 2014-12-08

    上傳用戶:jqy_china

  • RFID模擬TAG跟READER之間通訊的程式 用來模擬防碰撞機(jī)制DFS跟QTA兩種演算法 為於研判RFID TAG-COLLISION問題的人應(yīng)該有些幫助

    RFID模擬TAG跟READER之間通訊的程式 用來模擬防碰撞機(jī)制DFS跟QTA兩種演算法 為於研判RFID TAG-COLLISION問題的人應(yīng)該有些幫助

    標(biāo)簽: RFID TAG-COLLISION READER DFS

    上傳時(shí)間: 2013-12-31

    上傳用戶:asdkin

  • pcb layout design(臺(tái)灣硬件工程師15年經(jīng)驗(yàn)

    PCB LAYOUT 術(shù)語解釋(TERMS)1. COMPONENT SIDE(零件面、正面)︰大多數(shù)零件放置之面。2. SOLDER SIDE(焊錫面、反面)。3. SOLDER MASK(止焊膜面)︰通常指Solder Mask Open 之意。4. TOP PAD︰在零件面上所設(shè)計(jì)之零件腳PAD,不管是否鑽孔、電鍍。5. BOTTOM PAD:在銲錫面上所設(shè)計(jì)之零件腳PAD,不管是否鑽孔、電鍍。6. POSITIVE LAYER:?jiǎn)巍㈦p層板之各層線路;多層板之上、下兩層線路及內(nèi)層走線皆屬之。7. NEGATIVE LAYER:通常指多層板之電源層。8. INNER PAD:多層板之POSITIVE LAYER 內(nèi)層PAD。9. ANTI-PAD:多層板之NEGATIVE LAYER 上所使用之絕緣範(fàn)圍,不與零件腳相接。10. THERMAL PAD:多層板內(nèi)NEGATIVE LAYER 上必須零件腳時(shí)所使用之PAD,一般稱為散熱孔或?qū)住?1. PAD (銲墊):除了SMD PAD 外,其他PAD 之TOP PAD、BOTTOM PAD 及INNER PAD 之形狀大小皆應(yīng)相同。12. Moat : 不同信號(hào)的 Power& GND plane 之間的分隔線13. Grid : 佈線時(shí)的走線格點(diǎn)2. Test Point : ATE 測(cè)試點(diǎn)供工廠ICT 測(cè)試治具使用ICT 測(cè)試點(diǎn) LAYOUT 注意事項(xiàng):PCB 的每條TRACE 都要有一個(gè)作為測(cè)試用之TEST PAD(測(cè)試點(diǎn)),其原則如下:1. 一般測(cè)試點(diǎn)大小均為30-35mil,元件分布較密時(shí),測(cè)試點(diǎn)最小可至30mil.測(cè)試點(diǎn)與元件PAD 的距離最小為40mil。2. 測(cè)試點(diǎn)與測(cè)試點(diǎn)間的間距最小為50-75mil,一般使用75mil。密度高時(shí)可使用50mil,3. 測(cè)試點(diǎn)必須均勻分佈於PCB 上,避免測(cè)試時(shí)造成板面受力不均。4. 多層板必須透過貫穿孔(VIA)將測(cè)試點(diǎn)留於錫爐著錫面上(Solder Side)。5. 測(cè)試點(diǎn)必需放至於Bottom Layer6. 輸出test point report(.asc 檔案powerpcb v3.5)供廠商分析可測(cè)率7. 測(cè)試點(diǎn)設(shè)置處:Setup􀃆pads􀃆stacks

    標(biāo)簽: layout design pcb 硬件工程師

    上傳時(shí)間: 2013-10-22

    上傳用戶:pei5

  • pcb layout design(臺(tái)灣硬件工程師15年經(jīng)驗(yàn)

    PCB LAYOUT 術(shù)語解釋(TERMS)1. COMPONENT SIDE(零件面、正面)︰大多數(shù)零件放置之面。2. SOLDER SIDE(焊錫面、反面)。3. SOLDER MASK(止焊膜面)︰通常指Solder Mask Open 之意。4. TOP PAD︰在零件面上所設(shè)計(jì)之零件腳PAD,不管是否鑽孔、電鍍。5. BOTTOM PAD:在銲錫面上所設(shè)計(jì)之零件腳PAD,不管是否鑽孔、電鍍。6. POSITIVE LAYER:?jiǎn)巍㈦p層板之各層線路;多層板之上、下兩層線路及內(nèi)層走線皆屬之。7. NEGATIVE LAYER:通常指多層板之電源層。8. INNER PAD:多層板之POSITIVE LAYER 內(nèi)層PAD。9. ANTI-PAD:多層板之NEGATIVE LAYER 上所使用之絕緣範(fàn)圍,不與零件腳相接。10. THERMAL PAD:多層板內(nèi)NEGATIVE LAYER 上必須零件腳時(shí)所使用之PAD,一般稱為散熱孔或?qū)住?1. PAD (銲墊):除了SMD PAD 外,其他PAD 之TOP PAD、BOTTOM PAD 及INNER PAD 之形狀大小皆應(yīng)相同。12. Moat : 不同信號(hào)的 Power& GND plane 之間的分隔線13. Grid : 佈線時(shí)的走線格點(diǎn)2. Test Point : ATE 測(cè)試點(diǎn)供工廠ICT 測(cè)試治具使用ICT 測(cè)試點(diǎn) LAYOUT 注意事項(xiàng):PCB 的每條TRACE 都要有一個(gè)作為測(cè)試用之TEST PAD(測(cè)試點(diǎn)),其原則如下:1. 一般測(cè)試點(diǎn)大小均為30-35mil,元件分布較密時(shí),測(cè)試點(diǎn)最小可至30mil.測(cè)試點(diǎn)與元件PAD 的距離最小為40mil。2. 測(cè)試點(diǎn)與測(cè)試點(diǎn)間的間距最小為50-75mil,一般使用75mil。密度高時(shí)可使用50mil,3. 測(cè)試點(diǎn)必須均勻分佈於PCB 上,避免測(cè)試時(shí)造成板面受力不均。4. 多層板必須透過貫穿孔(VIA)將測(cè)試點(diǎn)留於錫爐著錫面上(Solder Side)。5. 測(cè)試點(diǎn)必需放至於Bottom Layer6. 輸出test point report(.asc 檔案powerpcb v3.5)供廠商分析可測(cè)率7. 測(cè)試點(diǎn)設(shè)置處:Setup􀃆pads􀃆stacks

    標(biāo)簽: layout design pcb 硬件工程師

    上傳時(shí)間: 2013-11-17

    上傳用戶:cjf0304

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