PCB LAYOUT 術(shù)語解釋(TERMS)1. COMPONENT SIDE(零件面、正面)︰大多數(shù)零件放置之面。2. SOLDER SIDE(焊錫面、反面)。3. SOLDER MASK(止焊膜面)︰通常指Solder Mask Open 之意。4. TOP PAD︰在零件面上所設(shè)計(jì)之零件腳PAD，不管是否鑽孔、電鍍。5. BOTTOM PAD：在銲錫面上所設(shè)計(jì)之零件腳PAD，不管是否鑽孔、電鍍。6. POSITIVE LAYER：?jiǎn)?、雙層板之各層線路；多層板之上、下兩層線路及內(nèi)層走線皆屬之。7. NEGATIVE LAYER：通常指多層板之電源層。8. INNER PAD：多層板之POSITIVE LAYER 內(nèi)層PAD。9. ANTI-PAD：多層板之NEGATIVE LAYER 上所使用之絕緣範(fàn)圍，不與零件腳相接。10. THERMAL PAD：多層板內(nèi)NEGATIVE LAYER 上必須零件腳時(shí)所使用之PAD，一般稱為散熱孔或?qū)住?1. PAD (銲墊)：除了SMD PAD 外，其他PAD 之TOP PAD、BOTTOM PAD 及INNER PAD 之形狀大小皆應(yīng)相同。12. Moat : 不同信號(hào)的 Power& GND plane 之間的分隔線13. Grid : 佈線時(shí)的走線格點(diǎn)2. Test Point : ATE 測(cè)試點(diǎn)供工廠ICT 測(cè)試治具使用ICT 測(cè)試點(diǎn) LAYOUT 注意事項(xiàng):PCB 的每條TRACE 都要有一個(gè)作為測(cè)試用之TEST PAD(測(cè)試點(diǎn))，其原則如下：1. 一般測(cè)試點(diǎn)大小均為30-35mil，元件分布較密時(shí)，測(cè)試點(diǎn)最小可至30mil.測(cè)試點(diǎn)與元件PAD 的距離最小為40mil。2. 測(cè)試點(diǎn)與測(cè)試點(diǎn)間的間距最小為50-75mil，一般使用75mil。密度高時(shí)可使用50mil,3. 測(cè)試點(diǎn)必須均勻分佈於PCB 上，避免測(cè)試時(shí)造成板面受力不均。4. 多層板必須透過貫穿孔(VIA)將測(cè)試點(diǎn)留於錫爐著錫面上(Solder Side)。5. 測(cè)試點(diǎn)必需放至於Bottom Layer6. 輸出test point report(.asc 檔案powerpcb v3.5)供廠商分析可測(cè)率7. 測(cè)試點(diǎn)設(shè)置處:Setuppadsstacks
標(biāo)簽： layout design pcb 硬件工程師
上傳時(shí)間： 2013-11-17
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傳輸線理論與阻抗匹配 傳輸線理論
上傳時(shí)間： 2013-10-22
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根據(jù)半實(shí)物仿真的特點(diǎn)和優(yōu)點(diǎn)，本文提出了基于半實(shí)物仿真系統(tǒng)的多假目標(biāo)航跡欺騙研究的優(yōu)勢(shì)和價(jià)值。然后從實(shí)現(xiàn)多假目標(biāo)航跡欺騙的必要條件、航跡欺騙產(chǎn)生的原理、多假目標(biāo)欺騙的參數(shù)匹配、多目標(biāo)欺騙航跡的數(shù)據(jù)預(yù)算4個(gè)方面詳細(xì)闡述了多假目標(biāo)航跡欺騙原理，以及對(duì)半實(shí)物仿真系統(tǒng)的組成、軟硬件設(shè)計(jì)特點(diǎn)進(jìn)行了介紹，最后通過半實(shí)物仿真系統(tǒng)驗(yàn)證了兩批假目標(biāo)預(yù)定航跡的真實(shí)性和置信度，結(jié)果證明這種方式對(duì)研究多假目標(biāo)航跡欺騙技術(shù)和戰(zhàn)術(shù)應(yīng)用的可行性和有效性。
標(biāo)簽： 半實(shí)物仿真
上傳時(shí)間： 2013-11-11
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機(jī)器人設(shè)計(jì)常用機(jī)構(gòu)，內(nèi)含有齒輪系，傳動(dòng)機(jī)構(gòu)，間歇運(yùn)動(dòng)機(jī)構(gòu)，平面連桿機(jī)構(gòu)，凸輪機(jī)構(gòu)。
標(biāo)簽： 機(jī)器人 機(jī)構(gòu)
上傳時(shí)間： 2013-10-28
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為提高圓光柵傳感器對(duì)角度進(jìn)行數(shù)字測(cè)量的精度和分辨力，使其更加廣泛方便的應(yīng)用于航天、機(jī)器人控制等領(lǐng)域中，設(shè)計(jì)了圓光柵角度測(cè)量系統(tǒng)及其測(cè)角信號(hào)移相電阻鏈細(xì)分電路，其將測(cè)得的原始的光柵正余弦信號(hào)施加在電阻鏈兩端，在電阻鏈的接點(diǎn)上得到幅值和相位各不相同的電信號(hào)，經(jīng)整形、脈沖形成后就能在信號(hào)的一個(gè)周期內(nèi)獲得若干計(jì)數(shù)脈沖，實(shí)現(xiàn)信號(hào)細(xì)分。該系統(tǒng)可精確的測(cè)量大方位、大俯仰、小方位、小俯仰四個(gè)軸系的角度位置。
標(biāo)簽： 光柵 信號(hào)細(xì)分 測(cè)角系統(tǒng) 電路設(shè)計(jì)
上傳時(shí)間： 2014-01-04
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利用LABWINDOWS/CVI軟件對(duì)采集的信號(hào)進(jìn)行分析與處理，將結(jié)果顯示、存盤并設(shè)有系統(tǒng)報(bào)警。系統(tǒng)統(tǒng)采用多面板設(shè)計(jì)，功能明確，易于操作，顯示了虛擬儀器技術(shù)應(yīng)用于遙測(cè)艙測(cè)量中的優(yōu)勢(shì)。
標(biāo)簽： 虛擬儀器 自動(dòng)測(cè)試 中的應(yīng)用 遙測(cè)
上傳時(shí)間： 2015-01-03
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第一章光纖連接在介紹光纖光纜性能檢測(cè)方法之前，先講述光纖連接特別是光纖端面處理和熔接技術(shù)，作為必須掌握的基本技能訓(xùn)練。實(shí)際的光通信系統(tǒng)由光發(fā)射器、光傳輸通道（光纖）、光接收器三個(gè)主要部分組成，光纖光纜的傳輸性能檢測(cè)系統(tǒng)也同樣如此。系統(tǒng)各部分之間的銜接就是光耦合或光纖連接問題。通信系統(tǒng)和檢測(cè)系統(tǒng)都要求各部分之間光耦合有高耦合效率、穩(wěn)定可靠、連接損耗小的連接。而且光耦合和光纖連接技術(shù)是光纖通信系統(tǒng)和檢測(cè)系統(tǒng)中一門非?；竞蛯?shí)用的技術(shù)。第一節(jié)光耦合一、光纖與光源的耦合在光纖通信系統(tǒng)和光纖傳輸特性檢測(cè)系統(tǒng)中使用多種光源，有半導(dǎo)體激光器、氣體激光器、液體激光器、發(fā)光二極管、寬光譜光源等等。它們大致可以分為兩大類，一類是相干光源，如各種激光器；另一類是非相干光源，如發(fā)光二極管、寬光譜光源（白熾燈）。光耦合先要解決如何高效率地把光源發(fā)射的光注入到傳輸通道中去的問題。為此，先了解一下光源的特性。
上傳時(shí)間： 2013-10-30
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利用介質(zhì)陶瓷材料制造的高穩(wěn)定、寬溫單片（或獨(dú)石）電容器，廣泛應(yīng)用于航空航天、軍事及民用通信及電子設(shè)備中。在對(duì)介質(zhì)陶瓷材料組分理論、控制溫度工藝研究，以及BaTiO3-MgO3-Nb2O5系材料組分重組的分析的基礎(chǔ)上，通過改進(jìn)研磨工藝，控制煅燒溫度等方法，研制出了工作溫度范圍寬、低損耗、介電常數(shù)ε可通過調(diào)整、性能穩(wěn)定性電容器介質(zhì)陶瓷材料。
標(biāo)簽： 高穩(wěn)定 寬溫 介質(zhì)陶瓷 電容器
上傳時(shí)間： 2013-10-12
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隨著網(wǎng)絡(luò)技術(shù)和虛擬技術(shù)的發(fā)展，操作系統(tǒng)對(duì)資源的管理也由本地化轉(zhuǎn)向網(wǎng)絡(luò)化、虛擬化。研究了通過網(wǎng)絡(luò)和虛擬技術(shù)，將網(wǎng)絡(luò)中其他系統(tǒng)的USB 設(shè)備資源通過網(wǎng)絡(luò)轉(zhuǎn)化的渠道直接映射到本地的USB 總線上，實(shí)現(xiàn)操作系統(tǒng)的直接管理和應(yīng)用。
上傳時(shí)間： 2013-11-01
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已通過CE認(rèn)證。（為什么要選擇經(jīng)過CE認(rèn)證的編程器？） 程速度無與倫比,逼近芯片理論極限。 基本配置48腳流行驅(qū)動(dòng)電路。所選購(gòu)的適配器都是通用的（插在DIP48鎖緊座上），即支持同封裝所有類型器件，48腳及以下DIP器件無需適配器直接支持。通用適配器保證快速新器件支持。I/O電平由DAC控制，直接支持低達(dá)1.5V的低壓器件。 更先進(jìn)的波形驅(qū)動(dòng)電路極大抑制工作噪聲,配合IC廠家認(rèn)證的算法,無論是低電壓器件、二手器件還是低品質(zhì)器件均能保證極高的編程良品率。編程結(jié)果可選擇高低雙電壓校驗(yàn),保證結(jié)果持久穩(wěn)固。 支持FLASH、EPROM、EEPROM、MCU、PLD等器件。支持新器件僅需升級(jí)軟件（免費(fèi)）。可測(cè)試SRAM、標(biāo)準(zhǔn)TTL/COMS電路，并能自動(dòng)判斷型號(hào)。 自動(dòng)檢測(cè)芯片錯(cuò)插和管腳接觸不良,避免損壞器件。 完善的過流保護(hù)功能,避免損壞編程器。 邏輯測(cè)試功能?？蓽y(cè)試和自動(dòng)識(shí)別標(biāo)準(zhǔn)TTL/CMOS邏輯電路和用戶自定義測(cè)試向量的非標(biāo)準(zhǔn)邏輯電路。 豐富的軟件功能簡(jiǎn)化操作，提高效率，避免出錯(cuò)，對(duì)用戶關(guān)懷備至。工程（Project）將用戶關(guān)于對(duì)象器件的各種操作、設(shè)置，包括器件型號(hào)設(shè)定、燒寫文件的調(diào)入、配置位的設(shè)定、批處理命令等保存在工程文件中，每次運(yùn)行時(shí)一步進(jìn)入寫片操作。器件型號(hào)選擇和文件載入均有歷史（History）記錄，方便再次選擇。批處理（Auto）命令允許用戶將擦除、查空、編程、校驗(yàn)、加密等常用命令序列隨心所欲地組織成一步完成的單一命令。量產(chǎn)模式下一旦芯片正確插入CPU即自動(dòng)啟動(dòng)批處理命令，無須人工按鍵。自動(dòng)序列號(hào)功能按用戶要求自動(dòng)生成并寫入序列號(hào)。借助于開放的API用戶可以在線動(dòng)態(tài)修改數(shù)據(jù)BUFFER，使每片芯片內(nèi)容均不同。器件型號(hào)選錯(cuò)，軟件按照實(shí)際讀出的ID提示相近的候選型號(hào)。自動(dòng)識(shí)別文件格式, 自動(dòng)提示文件地址溢出。 軟件支持WINDOWS98/ME/NT/2000/XP操作系統(tǒng)（中英文）。 器件型號(hào) 編程(秒) 校驗(yàn)(秒) P+V (s) Type 28F320W18 9 4.5 13.5 32Mb FLASH 28F640W30 18 9 27 64Mb FLASH AM29DL640E 38.3 10.6 48.9 64Mb FLASH MB84VD21182DA 9.6 2.9 12.5 16Mb FLASH MB84VD23280FA 38.3 10.6 48.9 64Mb FLASH LRS1381 13.3 4.6 19.9 32Mb FLASH M36W432TG 11.8 4.6 16.4 32Mb FLASH MBM29DL323TE 17.5 5.5 23.3 32Mb FLASH AT89C55WD 2.1 1 3.1 20KB MCU P89C51RD2B 4.6 0.9 5.5 64KB MCU
標(biāo)簽： superpro 280 驅(qū)動(dòng) 編程器軟件
上傳時(shí)間： 2013-11-21
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