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數據分布

  • GB-T 2689.4-1981 命試驗和加速壽命試驗的最好線性無偏估計法 (用于威布爾分布)

    GB-T 2689.4-1981 命試驗和加速壽命試驗的最好線性無偏估計法 (用于威布爾分布)

    標簽: 2689.4 GB-T 1981 壽命

    上傳時間: 2013-05-18

    上傳用戶:eeworm

  • GB-T 2689.3-1981 壽命試驗和加速壽命試驗的簡單線性無偏估計法 (用于威布爾分布)

    GB-T 2689.3-1981 壽命試驗和加速壽命試驗的簡單線性無偏估計法 (用于威布爾分布)

    標簽: 2689.3 GB-T 1981 壽命

    上傳時間: 2013-06-14

    上傳用戶:eeworm

  • GB-T-2689.2-1981-壽命試驗和加速壽命試驗的圖估計法-用于威布爾分布-.pdf

    專輯類-國標類相關專輯-313冊-701M GB-T-2689.2-1981-壽命試驗和加速壽命試驗的圖估計法-用于威布爾分布-.pdf

    標簽: 2689.2 GB-T 1981

    上傳時間: 2013-04-24

    上傳用戶:685

  • 39839電感量計算小巧實用的綠色軟件,根據輸入的線圈長度、線圈直徑、導線直徑、線圈匝數及工作頻率快速計算出電感量、自分布電容、空載Q值、自諧振頻率

    39839電感量計算小巧實用的綠色軟件,根據輸入的線圈長度、線圈直徑、導線直徑、線圈匝數及工作頻率快速計算出電感量、自分布電容、空載Q值、自諧振頻率

    標簽: 39839 電感量 計算 線圈

    上傳時間: 2013-06-03

    上傳用戶:夜月十二橋

  • 用MATLAB曲線擬合工具箱計算藥物溶出度Weibull分布參數

    ·用MATLAB曲線擬合工具箱計算藥物溶出度Weibull分布參數

    標簽: Weibull MATLAB 曲線擬合 工具箱

    上傳時間: 2013-05-24

    上傳用戶:qulele

  • 隨機變量及其分布

    1.(Ch2-2)一批零件中有9個合格品與3個廢品,安裝時從這批零件中任取一個,如果每次取出的廢品不再放回,求在取得合格品以前取出的廢品數的分布律。 分析:在取得合格品以前取出的廢品數是一隨機變量,要求其分布律,只需確定隨機變量的一切可能取值及相應的概率即可。 解:設X表示在取得合格品以前取出的廢品數,由題意知X的可能取值為0,

    標簽: 隨機變量 分布

    上傳時間: 2013-10-31

    上傳用戶:xiaoxiang

  • pcb layout design(臺灣硬件工程師15年經驗

    PCB LAYOUT 術語解釋(TERMS)1. COMPONENT SIDE(零件面、正面)︰大多數零件放置之面。2. SOLDER SIDE(焊錫面、反面)。3. SOLDER MASK(止焊膜面)︰通常指Solder Mask Open 之意。4. TOP PAD︰在零件面上所設計之零件腳PAD,不管是否鑽孔、電鍍。5. BOTTOM PAD:在銲錫面上所設計之零件腳PAD,不管是否鑽孔、電鍍。6. POSITIVE LAYER:單、雙層板之各層線路;多層板之上、下兩層線路及內層走線皆屬之。7. NEGATIVE LAYER:通常指多層板之電源層。8. INNER PAD:多層板之POSITIVE LAYER 內層PAD。9. ANTI-PAD:多層板之NEGATIVE LAYER 上所使用之絕緣範圍,不與零件腳相接。10. THERMAL PAD:多層板內NEGATIVE LAYER 上必須零件腳時所使用之PAD,一般稱為散熱孔或導通孔。11. PAD (銲墊):除了SMD PAD 外,其他PAD 之TOP PAD、BOTTOM PAD 及INNER PAD 之形狀大小皆應相同。12. Moat : 不同信號的 Power& GND plane 之間的分隔線13. Grid : 佈線時的走線格點2. Test Point : ATE 測試點供工廠ICT 測試治具使用ICT 測試點 LAYOUT 注意事項:PCB 的每條TRACE 都要有一個作為測試用之TEST PAD(測試點),其原則如下:1. 一般測試點大小均為30-35mil,元件分布較密時,測試點最小可至30mil.測試點與元件PAD 的距離最小為40mil。2. 測試點與測試點間的間距最小為50-75mil,一般使用75mil。密度高時可使用50mil,3. 測試點必須均勻分佈於PCB 上,避免測試時造成板面受力不均。4. 多層板必須透過貫穿孔(VIA)將測試點留於錫爐著錫面上(Solder Side)。5. 測試點必需放至於Bottom Layer6. 輸出test point report(.asc 檔案powerpcb v3.5)供廠商分析可測率7. 測試點設置處:Setup􀃆pads􀃆stacks

    標簽: layout design pcb 硬件工程師

    上傳時間: 2013-10-22

    上傳用戶:pei5

  • 跟我學數字電子技朮

    數字電子技朮

    標簽:

    上傳時間: 2013-10-09

    上傳用戶:1101055045

  • STBC系統(tǒng)在非同分布Nakagami信道下性能評估

    摘  要: 針對非同分布的Nakagami信道,基于矩生成函數MGF(Moment Generation Function)的分析方法,提出正交空時分組碼系統(tǒng)STBC(Space-Time Block Coding)的一種快速性能評估算法,不需要涉及超幾何函數積分運算,可在中高信噪比時,快速準確地估計STBC系統(tǒng)的符號錯誤概率性能。在平坦瑞利衰落信道下的計算機仿真表明,該算法與已有的STBC系統(tǒng)的近似估計算法相比,具有較優(yōu)的性能。      關鍵詞: 正交空時分組碼; MIMO; MGF; 誤符號率  

    標簽: Nakagami STBC 分布

    上傳時間: 2014-12-29

    上傳用戶:如果你也聽說

  • 相關韋布爾分布雷達雜波模擬的VC++實現與分析

    文中介紹了韋布爾分布雜波模擬的思路和ZMNL法模擬的步驟,重點闡述了模擬過程中的難點及解決方法,并對模擬結果進行了分析,證明了該方法的有效性和正確性。

    標簽: VC 布爾 分布

    上傳時間: 2013-11-09

    上傳用戶:kristycreasy

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