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業(yè)(yè)余無線電

  • pcb layout design(臺灣硬件工程師15年經(jīng)驗

    PCB LAYOUT 術(shù)語解釋(TERMS)1. COMPONENT SIDE(零件面、正面)︰大多數(shù)零件放置之面。2. SOLDER SIDE(焊錫面、反面)。3. SOLDER MASK(止焊膜面)︰通常指Solder Mask Open 之意。4. TOP PAD︰在零件面上所設(shè)計之零件腳PAD,不管是否鑽孔、電鍍。5. BOTTOM PAD:在銲錫面上所設(shè)計之零件腳PAD,不管是否鑽孔、電鍍。6. POSITIVE LAYER:單、雙層板之各層線路;多層板之上、下兩層線路及內(nèi)層走線皆屬之。7. NEGATIVE LAYER:通常指多層板之電源層。8. INNER PAD:多層板之POSITIVE LAYER 內(nèi)層PAD。9. ANTI-PAD:多層板之NEGATIVE LAYER 上所使用之絕緣範(fàn)圍,不與零件腳相接。10. THERMAL PAD:多層板內(nèi)NEGATIVE LAYER 上必須零件腳時所使用之PAD,一般稱為散熱孔或?qū)住?1. PAD (銲墊):除了SMD PAD 外,其他PAD 之TOP PAD、BOTTOM PAD 及INNER PAD 之形狀大小皆應(yīng)相同。12. Moat : 不同信號的 Power& GND plane 之間的分隔線13. Grid : 佈線時的走線格點2. Test Point : ATE 測試點供工廠ICT 測試治具使用ICT 測試點 LAYOUT 注意事項:PCB 的每條TRACE 都要有一個作為測試用之TEST PAD(測試點),其原則如下:1. 一般測試點大小均為30-35mil,元件分布較密時,測試點最小可至30mil.測試點與元件PAD 的距離最小為40mil。2. 測試點與測試點間的間距最小為50-75mil,一般使用75mil。密度高時可使用50mil,3. 測試點必須均勻分佈於PCB 上,避免測試時造成板面受力不均。4. 多層板必須透過貫穿孔(VIA)將測試點留於錫爐著錫面上(Solder Side)。5. 測試點必需放至於Bottom Layer6. 輸出test point report(.asc 檔案powerpcb v3.5)供廠商分析可測率7. 測試點設(shè)置處:Setup􀃆pads􀃆stacks

    標(biāo)簽: layout design pcb 硬件工程師

    上傳時間: 2013-11-17

    上傳用戶:cjf0304

  • IC封裝製程簡介(IC封裝制程簡介)

    半導(dǎo)體的產(chǎn)品很多,應(yīng)用的場合非常廣泛,圖一是常見的幾種半導(dǎo)體元件外型。半導(dǎo)體元件一般是以接腳形式或外型來劃分類別,圖一中不同類別的英文縮寫名稱原文為   PDID:Plastic Dual Inline Package SOP:Small Outline Package SOJ:Small Outline J-Lead Package PLCC:Plastic Leaded Chip Carrier QFP:Quad Flat Package PGA:Pin Grid Array BGA:Ball Grid Array         雖然半導(dǎo)體元件的外型種類很多,在電路板上常用的組裝方式有二種,一種是插入電路板的銲孔或腳座,如PDIP、PGA,另一種是貼附在電路板表面的銲墊上,如SOP、SOJ、PLCC、QFP、BGA。    從半導(dǎo)體元件的外觀,只看到從包覆的膠體或陶瓷中伸出的接腳,而半導(dǎo)體元件真正的的核心,是包覆在膠體或陶瓷內(nèi)一片非常小的晶片,透過伸出的接腳與外部做資訊傳輸。圖二是一片EPROM元件,從上方的玻璃窗可看到內(nèi)部的晶片,圖三是以顯微鏡將內(nèi)部的晶片放大,可以看到晶片以多條銲線連接四周的接腳,這些接腳向外延伸並穿出膠體,成為晶片與外界通訊的道路。請注意圖三中有一條銲線從中斷裂,那是使用不當(dāng)引發(fā)過電流而燒毀,致使晶片失去功能,這也是一般晶片遭到損毀而失效的原因之一。   圖四是常見的LED,也就是發(fā)光二極體,其內(nèi)部也是一顆晶片,圖五是以顯微鏡正視LED的頂端,可從透明的膠體中隱約的看到一片方型的晶片及一條金色的銲線,若以LED二支接腳的極性來做分別,晶片是貼附在負(fù)極的腳上,經(jīng)由銲線連接正極的腳。當(dāng)LED通過正向電流時,晶片會發(fā)光而使LED發(fā)亮,如圖六所示。     半導(dǎo)體元件的製作分成兩段的製造程序,前一段是先製造元件的核心─晶片,稱為晶圓製造;後一段是將晶中片加以封裝成最後產(chǎn)品,稱為IC封裝製程,又可細(xì)分成晶圓切割、黏晶、銲線、封膠、印字、剪切成型等加工步驟,在本章節(jié)中將簡介這兩段的製造程序。

    標(biāo)簽: 封裝 IC封裝 制程

    上傳時間: 2013-11-04

    上傳用戶:372825274

  • 冗余系統(tǒng)培訓(xùn)(新)

    冗余系統(tǒng)培訓(xùn)(新)

    標(biāo)簽: 冗余系統(tǒng)

    上傳時間: 2013-11-12

    上傳用戶:hanwu

  • 冗余的概念

    冗余的概念(轉(zhuǎn)載)

    標(biāo)簽: 冗余

    上傳時間: 2013-10-26

    上傳用戶:mnacyf

  • 支持X/Y/Z Modem協(xié)議的傳輸文件的通訊程序

    支持X/Y/Z Modem協(xié)議的傳輸文件的通訊程序

    標(biāo)簽: Modem 協(xié)議 傳輸 通訊程序

    上傳時間: 2015-01-03

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  • 電腦超級技巧_3

    電腦超級技巧_3

    標(biāo)簽:

    上傳時間: 2014-01-23

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  • 軟件模擬CRC冗余校驗

    軟件模擬CRC冗余校驗,可以對任意長度的發(fā)送序列求16位校驗和,并且可以對接收序列進(jìn)行檢查。有詳細(xì)的中文注釋,和模擬函數(shù)

    標(biāo)簽: CRC 軟件模擬 冗余

    上傳時間: 2014-01-20

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  • 功能:返回雙精度參數(shù)的反全余弦的三角函數(shù)值 返回返回雙精度參數(shù)y和x的數(shù)值由公式y(tǒng)/x計算的反正切三角函數(shù)值

    功能:返回雙精度參數(shù)的反全余弦的三角函數(shù)值 返回返回雙精度參數(shù)y和x的數(shù)值由公式y(tǒng)/x計算的反正切三角函數(shù)值

    標(biāo)簽: 精度 參數(shù) 三角函數(shù) 數(shù)值

    上傳時間: 2014-10-31

    上傳用戶:dongbaobao

  • 設(shè)定程式投影圖檔,設(shè)定程式投射光線的紅綠藍(lán)色RGB值

    設(shè)定程式投影圖檔,設(shè)定程式投射光線的紅綠藍(lán)色RGB值,設(shè)定範(fàn)圍在0至255,設(shè)定投射光線的大小,值愈小光線愈大

    標(biāo)簽: RGB 程式 投影 投射

    上傳時間: 2013-12-24

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  • 快速離散余玄變換idct

    快速離散余玄變換idct

    標(biāo)簽: idct 離散 變換

    上傳時間: 2014-01-18

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