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機(jī)會就會明白不研究

  • 基于ARM的嵌入式閃存文件系統與FLASH驅動的研究與實踐

    本文以一個PDA項目為依托,在項目中,主要是開發該設備的軟件。其工作包括:上層應用程序的開發、引導程序的編寫、Linux操作系統的移植和各種外設驅動程序的編寫以及文件系統的改進。 本文首先分析了Linux操作系統的虛擬文件系統、高速緩沖區、MTD以及驅動程序模塊。接著,本文分析了JFFS2文件系統的不足,以及在大容量閃存設備中掛載速度過慢的原因。然后,本文結合JFFS2文件系統在開發過程中所出現的各種問題,以及在大容量閃存芯片上進行掛載時的性能要求,對JFFS2文件系統作了一些實際的改進。文中的創新性貢獻包括以下幾個方面: (1)在掃描一個擦除塊之前,首先把擦除塊中的所有內容讀進內存。然后,在內存中進行所有的判斷操作以及拷貝,這樣就可以減少I/O操作。另外,由于所有的拷貝操作都在內存中進行,所以掛載速度就可以有所提升。 (2)通過加入“空閑區域管理節點”對閃存中的空閑區域進行管理。這樣,在掃描的過程中,一旦發現該節點就可以跳過它所描述的空閑區域,從而加快掛載的速度。 (3)在掃描的階段中對有效數據實體進行硬鏈接數的計算,因此,臨時目錄節點就不需要創建了,這樣也免除了臨時目錄的刪除步驟,所以對掛載速度也有明顯的提高。 最后,基于以上的研究與改進,結合本項目的實際要求,對大容量閃存設備的JFFS2文件系統的掛載過程進行了改進的實踐。

    標簽: FLASH ARM 嵌入式閃存 實踐

    上傳時間: 2013-07-26

    上傳用戶:damozhi

  • 基于ARM的嵌入式網絡電能計量系統的研究

    基于ARM的嵌入式網絡電能計量系統的研究電力電子與電力傳動專業隨著市場經濟的不斷發展,人們生活水平的日益提高,用電量也持續上升。電能的計量是否公平、公正已成為人們十分關心的問題。作為電能量的計量工具電能表已成為各行各業用電不可缺少且非常重要的儀表。由于傳統的電能表有計量不精確、人工抄表費時費力、統計繁瑣等缺點,因此,研究開發高精度、低功耗、網絡化、智能化的電能表是明顯的趨勢。 嵌入式系統技術是近幾年電子產品設計領域最為熱門的技術之一,目前已廣泛應用于工業控制、智能交通、信息家電、公共服務等領域。嵌入式系統正對人類的后PC時代產生著深遠的影響。 本文針對傳統的機電式電能表的缺點和不足,結合當前的嵌入式系統技術和網絡技術,研究并設計了一套基于ARM處理器、CAN總線和以太網傳輸的嵌入式網絡電能表系統。此系統主要由網絡中繼模塊和電能量采集終端兩部分組成。網絡中繼模塊硬件采用了PHILIPS的LPC2290作為中央處理器。LPC2290是一款16/32位RISC微處理器,采用ARM公司的ARM7TDMI-S內核,提供了兩路CAN總線和其它一些片上通用外設接口。采用L2C2290處理器,不但降低了整個系統的設計成本,而且也大大減少了額外的接口電路。網絡中繼模塊軟件是通過μCLinux操作系統內嵌的BOA實現嵌入式WEB服務器,并應用CGI接口程序完成了動態網頁程序的編制。電能量采集終端采用專用電能芯片、單片機和CAN控制器實現。網絡中繼模塊和電能量采集終端之間通過CAN總線進行通信,保證了信息的可靠性。當客戶端通過網絡瀏覽器訪問WEB服務器時,CGI程序就將電能量采集終端所采集的電能量數據上傳給客戶端,實現網絡自動抄表。

    標簽: ARM 嵌入式網絡 電能計量

    上傳時間: 2013-06-23

    上傳用戶:gxmm

  • FPGA局部動態可重配置的研究

    FPGA作為近年來集成電路發展中最快的分支之一,有關它的研究和應用得到了迅速的發展。傳統的FPGA采用靜態配置的方法,所以在它的應用生命周期中,它的功能就不能夠再改變,除非重新配置。動態重配置系統在系統工作的過程中改變FPGA的結構,包括全局重配置和局部重配置。其中的局部動態重配置系統有著ASIC以及靜態配置FPGA無法比擬的優勢。而隨著支持局部位流配置以及動態配置的商用FPGA的推出,使對局部動態重配置系統和應用的研究有了最基本的硬件支撐條件。而Internet作為無比強大的網絡已經滲入到各種應用領域之中。 本文首先提出了一個完整的基于Internet的FPGA局部動態可重配置系統的方案。然后針對方案的各個組成部分,分別進行了描述。首先是介紹了FPGA的基本概況,包括它的發展歷史、結構、應用領域、發展趨勢等。然后介紹了對一個包含局部動態重配置模塊的FPGA系統的設計過程,包括重配置模塊的定義、設計的流程、局部位流的產生等。接下來對.FPGA的配置方法以及配置解決方案進行描述,包括幾種可選擇的配置模式,其中有一些適用于靜態配置,另外一些可以用于動態局部配置,.以及作為一個系統的配置解決方案。最后系統要求從Internet服務器上下載重配置模塊的位流并且完成對FPGA的配置,根據這個要求,我們設計了相應的嵌入式解決方案,包括如何設計一個基于VxWorks的嵌入式應用軟件實現FTP功能,并說明如何通過JTAGG或者ICAP接口由嵌入式CPU完成對FPGA的局部配置。

    標簽: FPGA 局部 動態可重配置

    上傳時間: 2013-04-24

    上傳用戶:william345

  • FPGA在硬盤加密卡中的應用與研究

    隨著我國信息化發展進程加快,信息化覆蓋面擴大,信息安全問題也就隨之增多,其影響和后果也更加廣泛和嚴重。同時,信息安全及其對經濟發展、國家安全和社會穩定的重大影響,正日益突出地顯現出來,受到越來越多的關注。在和平年代,通過對信息載體進行大規模的物理破壞,從而達到危害信息安全的目的,在一定程度上是行不通的。然而,在信息安全的角力上,破壞者從來都沒有放棄過,他們把目標對準了信息載體中的數據,由于數據的易失性,計算機數據成為信息安全中的最大隱患,同時也是破壞信息安全的一個突破口。 本文提出研制硬盤加密卡的主要目的是為了防止對計算機數據的竊取,保護硬盤中的數據。破壞者在得到硬盤后,也不能夠得到硬盤中的數據,從而達到保護信息安全的目的。加密卡提供兩個符合ATA-6標準的接口,串接在主板IDE接口和硬盤之間。存儲在硬盤上的數據,是經過加密以后的加密數據;從硬盤上讀出的數據,必須經過該卡的解密才可被正常使用,否則只是一堆亂碼。加密卡采用FPGA技術實現IDE接口和加密算法,以減小加解密帶來的速度上的影響。 論文的工作重點主要有以下幾個方面的內容:FPGA及VHDL語言的研究,ATA協議標準研究及IDE接口的FPGA實現。論文對ATA協議做了細致的研究,分析了硬盤接口的工作機制以及主機與硬盤之間的通信協議,并在此基礎上,重點研究了用FPGA的編程功能來實現一個計算機硬件底層接口協議的方法,詳細介紹了芯片的內部框圖及FPGA的軟件流程圖,提出了在實現過程中應注意的要點,最終用FPGA構建了一個雙向IDE硬盤通道,實現了兩套符合ATA-6規范的IDE接口。

    標簽: FPGA 硬盤 加密卡 中的應用

    上傳時間: 2013-08-02

    上傳用戶:Ants

  • FPGA測試方法研究

    FPGA(Field Programmable Gate Arrays)是目前廣泛使用的一種可編程器件,FPGA的出現使得ASIC(Application Specific Integrated Circuits)產品的上市周期大大縮短,并且節省了大量的開發成本。目前FPGA的功能越來越強大,滿足了目前集成電路發展的新需求,但是其結構同益復雜,規模也越來越大,內部資源的種類也R益豐富,但同時也給測試帶來了困難,FPGA的發展對測試的要求越來越高,對FPGA測試的研究也就顯得異常重要。 本文的主要工作是提出一種開關盒布線資源的可測性設計,通過在FPGA內部加入一條移位寄存器鏈對開關盒進行配置編程,使得開關盒布線資源測試時間和測試成本減少了99%以上,而且所增加的芯片面積僅僅在5%左右,增加的邏輯資源對FPGA芯片的使用不會造成任何影響,這種方案采用了小規模電路進行了驗證,取得了很好的結果,是一種可行的測試方案。 本文的另一工作是采用一種FPGA邏輯資源的測試算法對自主研發的FPGA芯片FDP250K的邏輯資源進行了嚴格、充分的測試,從FPGA最小的邏輯單元LC開始,首先得到一個LC的測試配置,再結合SLICE內部兩個LC的連接關系得到一個SLICE邏輯單元的4種測試配置,并且采用陣列化的測試方案,同時測試芯片內部所有的邏輯單元,使得FPGA內部的邏輯資源得完全充分的測試,測試的故障覆蓋率可達100%,測試配置由配套編程工具產生,測試取得了完滿的結果。

    標簽: FPGA 測試 方法研究

    上傳時間: 2013-06-29

    上傳用戶:Thuan

  • 基于FPGA的ADC并行測試方法研究

    高性能ADC產品的出現,給混合信號測試領域帶來前所未有的挑戰。并行ADC測試方案實現了多個ADC測試過程的并行化和實時化,減少了單個ADC的平均測試時間,從而降低ADC測試成本。本文實現了基于FPGA的ADC并行測試方法。在閱讀相關文獻的基礎上,總結了常用ADC參數測試方法和測試流程。使用FPGA實現時域參數評估算法和頻域參數評估算法,并對2個ADC在不同樣本數條件下進行并行測試。    本研究通過在FPGA內部實現ADC測試時域算法和頻域算法相結合的方法來搭建測試系統,完成了音頻編解碼器WM8731L的控制模式接口、音頻數據接口、ADC測試時域算法和頻域算法的FPGA實現。整個測試系統使用Angilent33220A任意信號發生器提供模擬激勵信號,共用一個FPGA內部實現的采樣時鐘控制模塊。并行測試系統將WM8731.L片內的兩個獨立ADC的串行輸出數據分流成左右兩通道,并對其進行串并轉換。然后對左右兩個通道分別配置一個FFT算法模塊和時域算法模塊,并行地實現了ADC參數的評估算法。在樣本數分別為128和4096的實驗條件下,對WM8731L片內2個被測.ADC并行地進行參數評估,被測參數包括增益GAIN、偏移量OFFSET、信噪比SNR、信號與噪聲諧波失真比SINAD、總諧波失真THD等5個常用參數。實驗結果表明,通過在FPGA內配置2個獨立的參數計算模塊,可并行地實現對2個相同ADC的參數評估,減小單個ADC的平均測試時間。FPGA片內實時評估算法的實現節省了測試樣本傳輸至自動測試機PC端的時間。而且只需將HDL代碼多次復制,就可實現多個被測ADC在同一時刻并行地被評估,配置靈活。基于FPGA的ADC并行測試方法易于實現,具有可行性,但由于噪聲的影響,測試精度有待進一步提高。該方法可用于自動測試機的混合信號選項卡或測試子系統。

    標簽: FPGA ADC 并行測試 方法研究

    上傳時間: 2013-06-07

    上傳用戶:gps6888

  • 5分鐘學會使用CPLD

    5分鐘學會使用CPLD,經典資料,有想學習CPLD的朋友有福了

    標簽: CPLD

    上傳時間: 2013-08-22

    上傳用戶:xmsmh

  • IC封裝製程簡介(IC封裝制程簡介)

    半導體的產品很多,應用的場合非常廣泛,圖一是常見的幾種半導體元件外型。半導體元件一般是以接腳形式或外型來劃分類別,圖一中不同類別的英文縮寫名稱原文為   PDID:Plastic Dual Inline Package SOP:Small Outline Package SOJ:Small Outline J-Lead Package PLCC:Plastic Leaded Chip Carrier QFP:Quad Flat Package PGA:Pin Grid Array BGA:Ball Grid Array         雖然半導體元件的外型種類很多,在電路板上常用的組裝方式有二種,一種是插入電路板的銲孔或腳座,如PDIP、PGA,另一種是貼附在電路板表面的銲墊上,如SOP、SOJ、PLCC、QFP、BGA。    從半導體元件的外觀,只看到從包覆的膠體或陶瓷中伸出的接腳,而半導體元件真正的的核心,是包覆在膠體或陶瓷內一片非常小的晶片,透過伸出的接腳與外部做資訊傳輸。圖二是一片EPROM元件,從上方的玻璃窗可看到內部的晶片,圖三是以顯微鏡將內部的晶片放大,可以看到晶片以多條銲線連接四周的接腳,這些接腳向外延伸並穿出膠體,成為晶片與外界通訊的道路。請注意圖三中有一條銲線從中斷裂,那是使用不當引發過電流而燒毀,致使晶片失去功能,這也是一般晶片遭到損毀而失效的原因之一。   圖四是常見的LED,也就是發光二極體,其內部也是一顆晶片,圖五是以顯微鏡正視LED的頂端,可從透明的膠體中隱約的看到一片方型的晶片及一條金色的銲線,若以LED二支接腳的極性來做分別,晶片是貼附在負極的腳上,經由銲線連接正極的腳。當LED通過正向電流時,晶片會發光而使LED發亮,如圖六所示。     半導體元件的製作分成兩段的製造程序,前一段是先製造元件的核心─晶片,稱為晶圓製造;後一段是將晶中片加以封裝成最後產品,稱為IC封裝製程,又可細分成晶圓切割、黏晶、銲線、封膠、印字、剪切成型等加工步驟,在本章節中將簡介這兩段的製造程序。

    標簽: 封裝 IC封裝 制程

    上傳時間: 2014-01-20

    上傳用戶:蒼山觀海

  • 雙饋系統在電網故障下不間斷運行的研究

    為更好地研究風力發電機在一定的電網電壓跌落故障下的動態響應,以單臺1.5 MW 雙饋風力發電機(DFIG)為研究對象,設計了Crowbar電路,通過構建電網電壓跌落仿真模型,分別對機端電壓、電流、轉子電流、輸出的有功功率和無功功率、直流側電壓、電磁轉矩在故障期間的動態響應進行了仿真。探討了相應的控制策略,為進一步研究低電壓穿越標準下的控制策略提供了依據,同時也為研制兆瓦級變頻器打下基礎。測量結果表明這種控制方式能使DFIG在電壓跌落故障下實現不間斷運行,有效提高了DFIG風電機組運行的可靠性。

    標簽: 雙饋 電網 運行

    上傳時間: 2013-11-11

    上傳用戶:jasonheung

  • 硅光電池實驗輸出光強不穩定現象的研究

    摘要: 研究用內腔式He- Ne 激光器做光源時, 硅光電池實驗中光電檢流計讀數不穩定的現象。利用硅光電池分別觀測在不加偏振片、加上偏振片時內腔式He- Ne 激光器輸出的光強度, 得到激光經偏振片后輸出光強隨時間而變。利用共焦掃描干涉儀掃描出激光束的各個縱模, 實驗表明, 內腔式He- Ne 激光器每個縱模的偏振方向隨時間緩慢變化, 引起了實驗中輸出的光強變化。

    標簽: 硅光電池 實驗 光強 輸出

    上傳時間: 2013-11-17

    上傳用戶:ArmKing88

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