OPEN-JTAG ARM JTAG 測試原理 1 前言 本篇報告主要介紹ARM JTAG測試的基本原理。基本的內容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介紹，在此基礎上，結合ARM7TDMI詳細介紹了的JTAG測試原理。 2 IEEE Standard 1149.1 - Test Access Port and Boundary-Scan Architecture 從IEEE的JTAG測試標準開始，JTAG是JOINT TEST ACTION GROUP的簡稱。IEEE 1149.1標準最初是由JTAG這個組織提出，最終由IEEE批準並且標準化，所以，IEEE 1149.1這個標準一般也俗稱JTAG測試標準。 接下來介紹TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的基本架構。
標簽： JTAG BOUNDARY-SCAN OPEN-JTAG ARM
上傳時間： 2016-08-16
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FFT代原碼為C++需要測過才能用，所有檔案階完整
標簽： FFT
上傳時間： 2016-08-17
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是一款可以穿透防火牆以及代理伺服器的桌面分享及遠端搖控的免費軟體。 市面上雖然也有類似的軟體，但通常這類軟體都是利用 IP 位址做連線，
標簽： 防火 代理 伺服器 分
上傳時間： 2016-08-20
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spy++內附的繁體中文說明檔， 有相關的介紹以及使用方法。
標簽： spy
上傳時間： 2013-12-17
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2對4解多工可以用來擴充至4對8解多工經硬體驗證過可用
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鍵盤掃描ｖｅｒｉｌｏｇ硬體驗證可以將開發版鍵盤功能使用
標簽： 鍵盤
上傳時間： 2013-12-24
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一個基于visual c++的網絡嗅探器源碼
標簽： visual 網絡 嗅探器 源碼
上傳時間： 2014-01-27
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使用Verilog HDL 實現AES硬體加解密
標簽： Verilog HDL AES 加解密
上傳時間： 2016-08-25
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臺灣交通大學拍攝的半導體生產製造過程,
上傳時間： 2013-12-20
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一篇來自臺灣中華大學的論文--《無線射頻系統標簽晶片設計》，彩色版。其摘要為：本論文討論使用於無線射頻辨識系統(RFID)之標籤晶片系統的電路設計和晶片製作，初步設計標籤晶片的基本功能，設計流程包含數位軟體及功能的模擬、基本邏輯閘及類比電路的設計與晶片電路的佈局考量。 論文的第一部份是序論、射頻辨識系統的規劃、辨識系統的規格介紹及制定，而第二部份是標籤晶片設計、晶片量測、結論。 電路的初步設計功能為:使用電容作頻率緩衝的Schmitt trigger Clock、CRC-16的錯誤偵測編碼、Manchester編碼及使用單一電路做到整流、振盪及調變的功能，最後完成晶片的實作。
標簽： 大學 論文 無線射頻
上傳時間： 2016-08-27
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