現(xiàn)代先進微處理器有非常高的集成度和復(fù)雜度,又有寄存器堆、Cache等嵌入式部件,而且芯片管腳數(shù)相對較少,必須要有一定的自測試設(shè)計和其它的可測試性設(shè)計來簡化測試代碼,提高故障覆蓋率。本文簡要討論NRS4000微處理器芯片的以邊界掃描測試為主體,以自測試為補充的可測試性設(shè)計框架。著重介紹芯片的邊界掃描設(shè)計和芯片中譯碼控制器PLA和微程序ROM以及采用內(nèi)嵌RAM結(jié)構(gòu)的指令Cache和寄存器堆的內(nèi)建自測試設(shè)計。仿真結(jié)果表明,這些可測試性設(shè)計大大縮短了測試代碼的長度。
標(biāo)簽:
微處理器
復(fù)雜度
集成
上傳時間:
2015-07-25
上傳用戶:moshushi0009