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紅外線(xiàn)測(cè)(cè)溫儀

  • 高質(zhì)量C語(yǔ)言編程指南(林銳)軟件質(zhì)量是被大多數(shù)程序員掛在嘴上而不是放在心上的東西! 除了完全外行和真正的編程高手外

    高質(zhì)量C語(yǔ)言編程指南(林銳)軟件質(zhì)量是被大多數(shù)程序員掛在嘴上而不是放在心上的東西! 除了完全外行和真正的編程高手外,初讀本書,你最先的感受將是驚慌:“哇!我 以前捏造的C++/C 程序怎么會(huì)有那么多的毛病?”

    標(biāo)簽: 高質(zhì)量 C語(yǔ)言 編程指南 程序員

    上傳時(shí)間: 2017-06-09

    上傳用戶:731140412

  • 利用89s51去寫結(jié)構(gòu)化keil-C 4x4鍵盤掃描+LCD螢?zāi)伙@示 HW01:四則運(yùn)算+時(shí)鍾顯示 HW02:頻率偵測(cè)器 ps.鍵盤掃描不是利用延遲作彈跳(推薦)

    利用89s51去寫結(jié)構(gòu)化keil-C 4x4鍵盤掃描+LCD螢?zāi)伙@示 HW01:四則運(yùn)算+時(shí)鍾顯示 HW02:頻率偵測(cè)器 ps.鍵盤掃描不是利用延遲作彈跳(推薦)

    標(biāo)簽: keil-C 89s51 HW 4x4

    上傳時(shí)間: 2014-11-22

    上傳用戶:zycidjl

  • 用一個(gè)C語(yǔ)言來測(cè)試4X4按鍵功能是否正常工作

    用一個(gè)C語(yǔ)言來測(cè)試4X4按鍵功能是否正常工作

    標(biāo)簽: 4X4

    上傳時(shí)間: 2017-07-25

    上傳用戶:宋桃子

  • 德州儀器新款DSP TMS320C2834X 晶片 SCI 自動(dòng) BAUD 偵測(cè)程式設(shè)計(jì).

    德州儀器新款DSP TMS320C2834X 晶片 SCI 自動(dòng) BAUD 偵測(cè)程式設(shè)計(jì).

    標(biāo)簽: 2834X C2834 2834 320C

    上傳時(shí)間: 2013-12-01

    上傳用戶:ayfeixiao

  • 嵌入式外中斷c語(yǔ)言代碼

    嵌入式外中斷c語(yǔ)言代碼,有需要的可以參考!

    標(biāo)簽: 嵌入式 C語(yǔ)言

    上傳時(shí)間: 2022-03-11

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  • pcb layout design(臺(tái)灣硬件工程師15年經(jīng)驗(yàn)

    PCB LAYOUT 術(shù)語(yǔ)解釋(TERMS)1. COMPONENT SIDE(零件面、正面)︰大多數(shù)零件放置之面。2. SOLDER SIDE(焊錫面、反面)。3. SOLDER MASK(止焊膜面)︰通常指Solder Mask Open 之意。4. TOP PAD︰在零件面上所設(shè)計(jì)之零件腳PAD,不管是否鑽孔、電鍍。5. BOTTOM PAD:在銲錫面上所設(shè)計(jì)之零件腳PAD,不管是否鑽孔、電鍍。6. POSITIVE LAYER:?jiǎn)巍㈦p層板之各層線路;多層板之上、下兩層線路及內(nèi)層走線皆屬之。7. NEGATIVE LAYER:通常指多層板之電源層。8. INNER PAD:多層板之POSITIVE LAYER 內(nèi)層PAD。9. ANTI-PAD:多層板之NEGATIVE LAYER 上所使用之絕緣範(fàn)圍,不與零件腳相接。10. THERMAL PAD:多層板內(nèi)NEGATIVE LAYER 上必須零件腳時(shí)所使用之PAD,一般稱為散熱孔或?qū)住?1. PAD (銲墊):除了SMD PAD 外,其他PAD 之TOP PAD、BOTTOM PAD 及INNER PAD 之形狀大小皆應(yīng)相同。12. Moat : 不同信號(hào)的 Power& GND plane 之間的分隔線13. Grid : 佈線時(shí)的走線格點(diǎn)2. Test Point : ATE 測(cè)試點(diǎn)供工廠ICT 測(cè)試治具使用ICT 測(cè)試點(diǎn) LAYOUT 注意事項(xiàng):PCB 的每條TRACE 都要有一個(gè)作為測(cè)試用之TEST PAD(測(cè)試點(diǎn)),其原則如下:1. 一般測(cè)試點(diǎn)大小均為30-35mil,元件分布較密時(shí),測(cè)試點(diǎn)最小可至30mil.測(cè)試點(diǎn)與元件PAD 的距離最小為40mil。2. 測(cè)試點(diǎn)與測(cè)試點(diǎn)間的間距最小為50-75mil,一般使用75mil。密度高時(shí)可使用50mil,3. 測(cè)試點(diǎn)必須均勻分佈於PCB 上,避免測(cè)試時(shí)造成板面受力不均。4. 多層板必須透過貫穿孔(VIA)將測(cè)試點(diǎn)留於錫爐著錫面上(Solder Side)。5. 測(cè)試點(diǎn)必需放至於Bottom Layer6. 輸出test point report(.asc 檔案powerpcb v3.5)供廠商分析可測(cè)率7. 測(cè)試點(diǎn)設(shè)置處:Setup􀃆pads􀃆stacks

    標(biāo)簽: layout design pcb 硬件工程師

    上傳時(shí)間: 2013-10-22

    上傳用戶:pei5

  • 采用集成電流檢測(cè)來監(jiān)視和保護(hù)汽車系統(tǒng)

    對(duì)於集成電路而言,汽車是一種苛刻的使用環(huán)境,這裡,引擎罩下的工作溫度範(fàn)圍可寬達(dá) -40°C 至 125°C,而且,在電池電壓總線上出現(xiàn)大瞬變偏移也是預(yù)料之中的事

    標(biāo)簽: 集成 電流檢測(cè) 保護(hù) 汽車系統(tǒng)

    上傳時(shí)間: 2013-11-20

    上傳用戶:zhaiye

  • 單片機(jī)C語(yǔ)言中指針的應(yīng)用

    摘要:本文主要結(jié)合51單片機(jī)系統(tǒng)的硬件資源特點(diǎn),從指針結(jié)構(gòu)聲明,對(duì)于不同存儲(chǔ)區(qū)(片內(nèi)、片外數(shù)據(jù)存儲(chǔ)區(qū)和程序存儲(chǔ)區(qū))的指針尋址的實(shí)現(xiàn)等方面闡述了單片機(jī)C語(yǔ)言才勻針的應(yīng)用。關(guān)鍵詞:?jiǎn)纹瑱C(jī)C語(yǔ)言 指針

    標(biāo)簽: 單片機(jī) C語(yǔ)言 指針

    上傳時(shí)間: 2013-10-09

    上傳用戶:libenshu01

  • 51單片機(jī)C語(yǔ)言編程實(shí)例

    C語(yǔ)言編程基礎(chǔ):1. 十六進(jìn)制表示字節(jié)0x5a:二進(jìn)制為01011010B;0x6E為01101110。 2. 如果將一個(gè)16位二進(jìn)數(shù)賦給一個(gè)8位的字節(jié)變量,則自動(dòng)截?cái)酁榈?位,而丟掉高8位。 3. ++var表示對(duì)變量var先增一;var—表示對(duì)變量后減一。 4. x |= 0x0f;表示為 x = x | 0x0f; 5. TMOD = ( TMOD & 0xf0 ) | 0x05;表示給變量TMOD的低四位賦值0x5,而不改變TMOD的高四位。 6. While( 1 ); 表示無限執(zhí)行該語(yǔ)句,即死循環(huán)。語(yǔ)句后的分號(hào)表示空循環(huán)體,也就是{;} 在某引腳輸出高電平的編程方法:(比如P1.3(PIN4)引腳)1. #include <AT89x52.h> //該頭文檔中有單片機(jī)內(nèi)部資源的符號(hào)化定義,其中包含P1.3    2. void main( void )  //void 表示沒有輸入?yún)?shù),也沒有函數(shù)返值,這入單片機(jī)運(yùn)行的復(fù)位入口    3. {    4.  P1_3 = 1;   //給P1_3賦值1,引腳P1.3就能輸出高電平VCC    5.  While( 1 );  //死循環(huán),相當(dāng) LOOP: goto LOOP;    6. }   注意:P0的每個(gè)引腳要輸出高電平時(shí),必須外接上拉電阻(如4K7)至VCC電源。在某引腳輸出低電平的編程方法:(比如P2.7引腳)代碼1. #include <AT89x52.h> //該頭文檔中有單片機(jī)內(nèi)部資源的符號(hào)化定義,其中包含P2.7    2. void main( void )  //void 表示沒有輸入?yún)?shù),也沒有函數(shù)返值,這入單片機(jī)運(yùn)行的復(fù)位入口    3. {    4.  P2_7 = 0;   //給P2_7賦值0,引腳P2.7就能輸出低電平GND    5.  While( 1 );  //死循環(huán),相當(dāng) LOOP: goto LOOP;    6. }   在某引腳輸出方波編程方法:(比如P3.1引腳)代碼1. #include <AT89x52.h> //該頭文檔中有單片機(jī)內(nèi)部資源的符號(hào)化定義,其中包含P3.1    2. void main( void )  //void 表示沒有輸入?yún)?shù),也沒有函數(shù)返值,這入單片機(jī)運(yùn)行的復(fù)位入口    3. {    4.  While( 1 )  //非零表示真,如果為真則執(zhí)行下面循環(huán)體的語(yǔ)句    5.  {    6. P3_1 = 1;  //給P3_1賦值1,引腳P3.1就能輸出高電平VCC    7.   P3_1 = 0;  //給P3_1賦值0,引腳P3.1就能輸出低電平GND    8.  }    //由于一直為真,所以不斷輸出高、低、高、低……,從而形成方波    9. }   將某引腳的輸入電平取反后,從另一個(gè)引腳輸出:( 比如 P0.4 = NOT( P1.1) )

    標(biāo)簽: 51單片機(jī)C語(yǔ)言 編程實(shí)例

    上傳時(shí)間: 2013-11-02

    上傳用戶:zengduo

  • pcb layout design(臺(tái)灣硬件工程師15年經(jīng)驗(yàn)

    PCB LAYOUT 術(shù)語(yǔ)解釋(TERMS)1. COMPONENT SIDE(零件面、正面)︰大多數(shù)零件放置之面。2. SOLDER SIDE(焊錫面、反面)。3. SOLDER MASK(止焊膜面)︰通常指Solder Mask Open 之意。4. TOP PAD︰在零件面上所設(shè)計(jì)之零件腳PAD,不管是否鑽孔、電鍍。5. BOTTOM PAD:在銲錫面上所設(shè)計(jì)之零件腳PAD,不管是否鑽孔、電鍍。6. POSITIVE LAYER:?jiǎn)巍㈦p層板之各層線路;多層板之上、下兩層線路及內(nèi)層走線皆屬之。7. NEGATIVE LAYER:通常指多層板之電源層。8. INNER PAD:多層板之POSITIVE LAYER 內(nèi)層PAD。9. ANTI-PAD:多層板之NEGATIVE LAYER 上所使用之絕緣範(fàn)圍,不與零件腳相接。10. THERMAL PAD:多層板內(nèi)NEGATIVE LAYER 上必須零件腳時(shí)所使用之PAD,一般稱為散熱孔或?qū)住?1. PAD (銲墊):除了SMD PAD 外,其他PAD 之TOP PAD、BOTTOM PAD 及INNER PAD 之形狀大小皆應(yīng)相同。12. Moat : 不同信號(hào)的 Power& GND plane 之間的分隔線13. Grid : 佈線時(shí)的走線格點(diǎn)2. Test Point : ATE 測(cè)試點(diǎn)供工廠ICT 測(cè)試治具使用ICT 測(cè)試點(diǎn) LAYOUT 注意事項(xiàng):PCB 的每條TRACE 都要有一個(gè)作為測(cè)試用之TEST PAD(測(cè)試點(diǎn)),其原則如下:1. 一般測(cè)試點(diǎn)大小均為30-35mil,元件分布較密時(shí),測(cè)試點(diǎn)最小可至30mil.測(cè)試點(diǎn)與元件PAD 的距離最小為40mil。2. 測(cè)試點(diǎn)與測(cè)試點(diǎn)間的間距最小為50-75mil,一般使用75mil。密度高時(shí)可使用50mil,3. 測(cè)試點(diǎn)必須均勻分佈於PCB 上,避免測(cè)試時(shí)造成板面受力不均。4. 多層板必須透過貫穿孔(VIA)將測(cè)試點(diǎn)留於錫爐著錫面上(Solder Side)。5. 測(cè)試點(diǎn)必需放至於Bottom Layer6. 輸出test point report(.asc 檔案powerpcb v3.5)供廠商分析可測(cè)率7. 測(cè)試點(diǎn)設(shè)置處:Setup􀃆pads􀃆stacks

    標(biāo)簽: layout design pcb 硬件工程師

    上傳時(shí)間: 2013-11-17

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