以ASAP光學(xué)模擬軟體來設(shè)計(jì)及建構(gòu)顯示器背光源模組,並測試其可行性
標(biāo)簽： ASAP 模 可行性 背光源
上傳時間： 2015-11-13
上傳用戶：lacsx
一個用來測試壓縮和解壓縮的程式 很適合初學(xué)者來學(xué)習(xí)壓縮和解壓的程式
標(biāo)簽： 程式
上傳時間： 2016-04-04
上傳用戶：watch100
OPEN-JTAG ARM JTAG 測試原理 1 前言 本篇報告主要介紹ARM JTAG測試的基本原理。基本的內(nèi)容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介紹，在此基礎(chǔ)上，結(jié)合ARM7TDMI詳細(xì)介紹了的JTAG測試原理。 2 IEEE Standard 1149.1 - Test Access Port and Boundary-Scan Architecture 從IEEE的JTAG測試標(biāo)準(zhǔn)開始，JTAG是JOINT TEST ACTION GROUP的簡稱。IEEE 1149.1標(biāo)準(zhǔn)最初是由JTAG這個組織提出，最終由IEEE批準(zhǔn)並且標(biāo)準(zhǔn)化，所以，IEEE 1149.1這個標(biāo)準(zhǔn)一般也俗稱JTAG測試標(biāo)準(zhǔn)。 接下來介紹TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的基本架構(gòu)。
標(biāo)簽： JTAG BOUNDARY-SCAN OPEN-JTAG ARM
上傳時間： 2016-08-16
上傳用戶：sssl
JAVA基礎(chǔ)實(shí)例200題 適合任何人士,測試自己基礎(chǔ)程度最好方法
標(biāo)簽： JAVA 200
上傳時間： 2017-07-28
上傳用戶：xlcky
PC電源測試系統(tǒng)chroma8000簡介
標(biāo)簽： chroma 8000 電源測試系統(tǒng)
上傳時間： 2013-11-08
上傳用戶：xiehao13
此為philip 1362 USB DOS下的驅(qū)動程式包, 已經(jīng)共測試並內(nèi)含有說明文件
標(biāo)簽： philip 1362 USB DOS
上傳時間： 2015-04-21
上傳用戶：bruce
簡單的串列埠自我測試持式 測試硬體電路是否正確
標(biāo)簽： 正
上傳時間： 2015-04-25
上傳用戶：FreeSky
組合語言的大數(shù)加減乘除 適合組語初學(xué)者訓(xùn)練計(jì)算機(jī)科學(xué)的運(yùn)算邏輯
標(biāo)簽：
上傳時間： 2015-05-01
上傳用戶：waitingfy
使用J2ME MIDP2.0實(shí)做AODV協(xié)定(RFC3561),測試平臺為兩種PDA:PalmOS和PacketPC2003
標(biāo)簽： PacketPC PalmOS J2ME AODV
上傳時間： 2014-09-03
上傳用戶：shawvi
GSMGPRSRFORUM相關(guān)信息測試與結(jié)過
標(biāo)簽： GSMGPRSRFORUM
上傳時間： 2015-05-20
上傳用戶：jqy_china
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