delphi登陸窗體的制作,就我知道的,可以有兩種方法,一種是在工程文件中實(shí)現(xiàn)登陸窗體的動(dòng)態(tài)調(diào)用,另一種就是在主窗體的OnCreate事件中動(dòng)態(tài)創(chuàng)建登陸窗體,兩種方法都需要將主窗體設(shè)置為Auto-create form,將登陸窗體設(shè)
標(biāo)簽： OnCreate Auto-cr delphi 工程
上傳時(shí)間： 2016-08-04
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The E-M Algorithm 統(tǒng)計(jì)算法
標(biāo)簽： Algorithm The E-M 算法
上傳時(shí)間： 2013-12-22
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Monte Carlo Integration Algorithm 統(tǒng)計(jì)算法
標(biāo)簽： Integration Algorithm Monte Carlo
上傳時(shí)間： 2014-12-03
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Multidimensional Optimization 統(tǒng)計(jì)算法
標(biāo)簽： Multidimensional Optimization 算法
上傳時(shí)間： 2013-12-24
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Simulated Annealing 統(tǒng)計(jì)算法
標(biāo)簽： Simulated Annealing 算法
上傳時(shí)間： 2016-08-07
上傳用戶：xymbian
1.對(duì)染噪doppler信號(hào)進(jìn)行小波包3層分解：分解層次j=1,2時(shí)，都是信號(hào)的概貌；當(dāng)j=3時(shí)，反映概貌的已幾乎不含噪聲分量，而其它噪聲分量的幅值已很小。 2.對(duì)加噪Blocks信號(hào)進(jìn)行不同閾值及不同閾值的使用方式降噪。
標(biāo)簽： doppler 分解 信號(hào)
上傳時(shí)間： 2016-08-08
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OPEN-JTAG ARM JTAG 測(cè)試原理 1 前言 本篇報(bào)告主要介紹ARM JTAG測(cè)試的基本原理。基本的內(nèi)容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介紹，在此基礎(chǔ)上，結(jié)合ARM7TDMI詳細(xì)介紹了的JTAG測(cè)試原理。 2 IEEE Standard 1149.1 - Test Access Port and Boundary-Scan Architecture 從IEEE的JTAG測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)開始，JTAG是JOINT TEST ACTION GROUP的簡(jiǎn)稱。IEEE 1149.1標(biāo)準(zhǔn)最初是由JTAG這個(gè)組織提出，最終由IEEE批準(zhǔn)並且標(biāo)準(zhǔn)化，所以，IEEE 1149.1這個(gè)標(biāo)準(zhǔn)一般也俗稱JTAG測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。 接下來介紹TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的基本架構(gòu)。
標(biāo)簽： JTAG BOUNDARY-SCAN OPEN-JTAG ARM
上傳時(shí)間： 2016-08-16
上傳用戶：sssl
MATLAB S.J.Chapman《MATLAB編程》中文版修正版
標(biāo)簽： MATLAB Chapman 編程 正
上傳時(shí)間： 2016-08-17
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在做2維度樣本分類的過程中,若我們能事先畫出訓(xùn)練樣本在空間中的分散情形,這將有助於我們?cè)谠O(shè)定SVM分類器的參數(shù)C的取值範(fàn)圍. 例如:若畫出的訓(xùn)練樣本的散佈較分散,我們可以得知此時(shí)採(cǎi)用的參數(shù)值可以取在較大的範(fàn)圍. 所以本程式也是讓想要畫出資料樣本在平面的散佈情形者之一各可行工具.
標(biāo)簽： SVM 分 分散
上傳時(shí)間： 2016-08-19
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板級(jí)支持包C*+(J 是嵌入式系統(tǒng)中常用的硬件抽象形式! 是介于操作系統(tǒng)和硬件之間的 軟件層次" 介紹*+( 的功能和特點(diǎn)! 并結(jié)合工作實(shí)踐提出了設(shè)計(jì)*+( 的一般方法# 最后針對(duì)當(dāng)前嵌入 式系統(tǒng)中*+( 的設(shè)計(jì)方法所面臨的問題提出了可行的解決辦法
標(biāo)簽： 硬件 板級(jí)支持包 嵌入式系統(tǒng) 實(shí)踐
上傳時(shí)間： 2013-12-19
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