能夠讀取USB設備路徑,並能夠顯示VID,PID,版本等信息
標簽： USB PID VID 版本
上傳時間： 2013-12-24
上傳用戶：jkhjkh1982
VHDL語言實驗數(shù)字鍾功能,可手動調(diào)時,設定閙鍾等
標簽： VHDL
上傳時間： 2014-12-20
上傳用戶：2467478207
delphi登陸窗體的制作,就我知道的,可以有兩種方法,一種是在工程文件中實現(xiàn)登陸窗體的動態(tài)調(diào)用,另一種就是在主窗體的OnCreate事件中動態(tài)創(chuàng)建登陸窗體,兩種方法都需要將主窗體設置為Auto-create form,將登陸窗體設
標簽： OnCreate Auto-cr delphi 工程
上傳時間： 2016-08-04
上傳用戶：gtzj
The E-M Algorithm 統(tǒng)計算法
標簽： Algorithm The E-M 算法
上傳時間： 2013-12-22
上傳用戶：anng
Monte Carlo Integration Algorithm 統(tǒng)計算法
標簽： Integration Algorithm Monte Carlo
上傳時間： 2014-12-03
上傳用戶：bakdesec
Multidimensional Optimization 統(tǒng)計算法
標簽： Multidimensional Optimization 算法
上傳用戶：541657925
Simulated Annealing 統(tǒng)計算法
標簽： Simulated Annealing 算法
上傳時間： 2016-08-07
上傳用戶：xymbian
OPEN-JTAG ARM JTAG 測試原理 1 前言 本篇報告主要介紹ARM JTAG測試的基本原理。基本的內(nèi)容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介紹，在此基礎上，結合ARM7TDMI詳細介紹了的JTAG測試原理。 2 IEEE Standard 1149.1 - Test Access Port and Boundary-Scan Architecture 從IEEE的JTAG測試標準開始，JTAG是JOINT TEST ACTION GROUP的簡稱。IEEE 1149.1標準最初是由JTAG這個組織提出，最終由IEEE批準並且標準化，所以，IEEE 1149.1這個標準一般也俗稱JTAG測試標準。 接下來介紹TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的基本架構。
標簽： JTAG BOUNDARY-SCAN OPEN-JTAG ARM
上傳時間： 2016-08-16
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在做2維度樣本分類的過程中,若我們能事先畫出訓練樣本在空間中的分散情形,這將有助於我們在設定SVM分類器的參數(shù)C的取值範圍. 例如:若畫出的訓練樣本的散佈較分散,我們可以得知此時採用的參數(shù)值可以取在較大的範圍. 所以本程式也是讓想要畫出資料樣本在平面的散佈情形者之一各可行工具.
標簽： SVM 分 分散
上傳時間： 2016-08-19
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ｖｅｒｉｌｏｇ實現(xiàn)算術運算後利用7段顯示器將結果輸出
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上傳時間： 2014-01-05
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